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P6.4.3*首先需要搞清楚此问题的目的是什么：
是否能利用测量和检验设备有效监视质量要求的符合性？
我们知道质量要求的符合性很好判断，即产品或者过程参数是否符合具体的参数或者工艺要求。我们通过特性的基准值和公差值很好做出决定。但是有一点我们无法忽略，即我们进行所有的判定之前，所获得的数据都是经过测量得到的。
测量真值，我们永远无法获得。
为什么呢？
因为只要是测量，就会有偏差，或者说就会存在波动。
这样的偏差或者波动是不人的意志为转移的。对于生产运营来说，我们只能尽可能的减少测量过程中的波动，而使我们获得的测量值或者说观测值，尽可能得接近真值。
关于这一块，欢迎大家参考我之前分享的文章的内容：
使用的测量和检验设备系统适用于预期的和实际生产操作，并包含在生产控制计划中
很多时候，我们提到测量或者检验系统，很多人第一反应式采用什么样的测量设备或者检验设备，从而忽略了系统的概念。
所谓的测量系统，指的是测量人员、测量设备以及测量环境等因素综合作用下的测量动作。系统性的因素包括：不同测量人员之间的测量波动、同一测量设备不同测量顺序之间的波动以及不同的测量人员与测量产品之间产生的交互左右所产生的波动。
如何理解测量和检验设备系统适用于预期的和实际生产操作？
项目初期，我们会考虑针对具体的特性参数，特别是某些涉及到特殊测量方式的特性（例如某些成像测试，需要构建满足具体距离要求下的黑箱子），罗列具体的测量设备清单，我们会考虑到测量设备的精度是否能够准确反映出所要进行测量或者评价的参数的合格与否，以及在特定条件下进行测量的结果的符合性。
例如，某零件的长度参数范围是：10.2±0.1mm，假设使用的测量设备是数显卡尺，精度是0.1mm,那么对于尺寸是10.20mm和10.39mm的长度结果来说，其能反映出来的尺寸结果只能是10.2mm,但是对于我们接受准则来说，超过10.3mm的零部件是不可接受的，这就会造成明显的误判。
所以我们一般要求，所选用测量设备的精度要求不低于公差规范的1/10。如果组织对生产过程变差有研究，同样的，测量设备的分辨率应该不低于过程变异的1/10，即1/10*1/6σ。
同时，相应的测量设备必须反映在控制计划“测量技术”一栏中。
测量系统的分析计划就是基于控制计划中所定义的测量设备展开的。
所有的测量及检验系统均有能力证明
测量或检验系统的能力证明包括：
定期的校准报告；
定期的测量系统分析（GRR）报告（针对计量型数据）；
Cappa分析报告（基于计数型数据）。
很多时候，有些同学会有疑问：我们的测量设备已经进行的定期的校准，是否还需要进行测量系统分析？
我相信很多人都会有类似的疑问，有疑问的同时，也说明大家对测量设备的校准和测量系统分析的概念有所混淆，或者说没有完全搞清楚其各自背后的概念。
我们知道，针对测量结果的评价有两个方面，即准确和精确。
只有又精又准，才是我们评价测量数据的最根本要求。
评价测量或者评价系统准确度的度量有偏移和线性。
偏倚关注的是测量设备针对同一样件的同一特性经过多次测量之后所获得的均值与标准值或者目标值之间的差异，其差异越小，说明测量系统对于当前测量范围的偏移也就越小。
什么是线性分析呢？
线性分析与偏倚分析类似，只是其测量系统评价的范围不再是一个，而是多个，针对每个评价范围都会形成一个偏移分析的结果，将这些偏移结果进行线性分析，如果某些评价范围内的偏倚结果明显偏离回归分析模型，说明该测量系统的线性存在异常。也就是说，可能测量1-5cm的量程，所使用的测量设备完全OK，但是使用到5-10cm的量程时，测量结果就会出现比较明显的偏差。
通常来说，定期的量具校准只能解决测量系统的偏倚问题，并不能解决测量系统的波动，也就是我们常说的重复性和再现性问题。
所谓的重复性（Repeatibity），就是通过同一个人员，使用同一个测量设备，针对同一个样件的同一个特性的反复测量，所获得的变差，这通常是测量设备本身的因素造成的变异。
所谓的再现性（Reproducibility），是通过不同的人员，使用同一个测量设备，针对同一个样件的同一个特性进行反复测量，所获得的变差，这通常认为是人员以及系统其他变差导致的变异。
所谓的GRR%，就是衡量重复性和再现性的综合变差（也可以说总体变差的关于测量系统方差分量）在总体变差中所占据的比例，当然总体变差部件包含了测量系统的变差，同样包含了零件本身因为制造过程的自然变异所产生的变差（也可以理解为：世界上没有两片完全相同的落叶）
关于测量系统分析的具体内容，可以参考我之前分享的内容：
以及相关的测量系统分析的内容：
检验过程使用的所有系统和装置都进行了标识。并监视了其有效性状态。建立并实施了监视测量和检验系统持续能力的过程
所有经过测量系统分析，特别是定期校准过的测量系统和装置都要有明确的标识，标识信息一般包含：校准日期、到期日期、校准机构、校准结果等。这些标识需要粘贴在所使用的设备或者装置上或者其容器上。
换句话说，对于生产现场来说，任何没有上述表述的测量设备和装置都不能进行使用。
针对偏差，开展了针对过程、产品和顾客的风险评估。定义并有效实施了相关措施
一旦在校准、测量分析过程中发现某个测量设备的偏倚超过规范要求，也就意味着，有可能一些不合格的产品会被判定为合格，或者一些合格的产品被判定为不合格。一般认为，前一种情况严重度更高。组织需要结合上一次偏移分析合格的日期，以其为断点，评估两次校准周期之间所有可能的因为测量偏差导致的风险。其范围可能包括，生产过程、所测量的产品以及产品对应的具体的客户群体。
如果组织无法评估具体的风险，则应该尽早通知客户，避免不满足客户要求的产品被进一步地加工和使用。
目前来说，很多组织都会在测量动作正式开始之前对测量设备进行校准，采用的方式是利用拥有标准尺寸或者经过校准的标准件对测量设备进行标定或者校准。但这并不能忽略不同的校准周期之内出现测量变异的可能性。特别是一些作业习惯不好的组织或者岗位，例如测量设备使用不规范，存放环境不达标等等。
测量设备作为过程要素关注的重点环节，应当作为组织变化点管理的重点范围。比如有些测量设备或者治具因为违规操作产生碰撞、掉落、浸水等极端情况，一定要第一时间进行校准或者标定，避免产生批量性的α或者β错误产生。
控制风险的同时，也要对校准、变差分析（即：偏倚分析、线性分析、GRR分析）不合格的结果进行原因分析，找到根本原因，并针对相关原因进行改进。
对测量结果有影响的测量系统及相应的标准和参考物也应采用相同的方法进行监视
上文提到了，对于有些测量系统的校准或者标定，会使用一些标准件，如标准样件、标准砝码等。对于这些标准件，同样需要进行定期的校准，以确保测量系统校准的有效性。
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