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图文简析
为了进一步验证S型异质结的电子转移机理和动力学,获得了TCN7和g-C3N4样品的飞秒瞬态吸收光谱(fs-TAS),提取动力学数据并使用双指数方程进行拟合。τ1和τ2分别表示短寿命淬火过程和长寿命淬火过程的寿命,A1和A2表示涉及光生电子的比例。短寿命过程表示g-C3N4之间的电子俘获,而长寿命过程是指S型异质结之间的界面电子转移。与g-C3N4相比,TCN7中参与长寿命过程的光生电子A2的比例要高得多(0.25%至21.94%)。这表明形成的S型异质结为光生电子从TiO2中的CB到g-C3N4中的VB提供了新的通道。
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