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实验方法PCB表面处理: OSP-HT
普通激光电抛光钢网,材料:SUS-FG 2-5 µm / 无纳米涂层
锡膏体积 | ||
印刷参数
印刷速度 | |
炉温曲线Profile
设置窗口 | 实测结果 |
浸泡时间 (150 to 200 °C) | 70 - 75 sec |
TAL (回流时间) | 63 – 70 sec > 221°C |
峰值温度 | 243 to 249 °C |
曲线时长 (25 °C to 峰值) | 4.1 minutes |
回流焊:10 温区, 空气炉
制程数据
热循环&拉拔力&剪切力参数
参数 | |
元件 | |||
锡膏体积转移率
锡膏的体积目标(所有值的单位都是立方毫英寸)
焊接缺陷检查(标准依据:IPC-A-610 & J-STD-001)
SB = Solder Balls MCB = Mid Chip Beading
SKOP = Skew Off Pad
剪切&拉拔强度- 原始状态
剪切&拉拔强度- 热循环之后
Chip件金相切片
被动元器件切片-原始状态
被动元件金相切片 – 热循环之后
EDX分析 – PCB焊盘IMC
EDX 分析 – 元件端IMC
IMC 厚度- 原始状态B = PCB Pad端 C = 元件引脚端
IMC厚度 – 热循环之后B = PCB Pad端 C = 元件引脚端
IMC厚度随热循环次数变化而变化
引脚类元件金相切片
引脚类元件的金相切片
引脚类元件的IMC厚度- 原始状态
引脚类元件IMC厚度 – 热循环之后B = PCB Pad端 C = 元件引脚端
IMC 厚度随热循环次数变化而变
焊点强度与转移率的关联性
被动元件焊点强度与转移率的关联性
引脚类元件拉拔强度与转移率的关联性
引脚类元件拉拔强度与转移率的关联性
结果总结
结论和建议*该类型元件无可比较数据
大范围的锡膏体积可以提供可接受的焊点。
锡膏体积较少对可靠性是个挑战。 50%的锡膏体积可以满足被动元件焊点的可接受性,40%的体积可以用于PLCC2O和SO14元件。(SOT23还需要更多的研究)
NO | 物料 名称 | 检测方式 | 图片 | 试验 仪器 | 测试方法 | 推力标准(Kgf) |
推 力 计 | 1、消除阻碍0402元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥0.65Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍0603元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4 、≥ 1.2Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍0805元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4 、≥2.30Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍1206元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥3.00Kgf判合格。 | |||||
拉 力 计 | 1、用剪钳消除pin角边缘的塑胶材质部分; 2、选用推力计,将仪器归零,使用专用拉力测试夹具,垂直成90度向上拉起, 3、检查元器件是否拉掉是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥1.00kgf 判合格。 | |||||
推力 (六个脚) (左右方向) | 推 力 计 | 1、消除阻碍SIM卡元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件是否破裂,记录元器件破裂的数值; 4、≥ 5.00 Kgf 判合格。 | ||||
推 力 计 | 1、消除阻碍SOT23元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍SOP5 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍SOP6 IC元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥2.00Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍晶振元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、 ≥2.50Kgf判合格。 | |||||
推 力 计 | 1、消除阻碍RF连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4、≥3.00Kgf判合格。 |
12 | 推 力 计 | 1、检查元器件是否为良品,将元器件平放于平台上; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件是否脱焊,记录元器件脱焊的数值; 4,≥5.50 Kgf判合格。 | ||||
推 力 计 | 1、消除阻碍弹片式电池连接器元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3 、检查元器件脱焊的力,≥8.00 Kgf判合格。 | |||||
推力 (两个触片/ 三个脚) | 推 力 计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 3.00Kgf Kgf判合格。 | ||||
推力 (三个触片/ 五个脚) |
| 推 力 计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 3.00 Kgf 判合格。 | |||
推力 (3PIN刀片式) | 推 力 计 | 1、消除阻碍电池连接器边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件破裂的力,≥ 6.00 Kgf 判合格。 | ||||
推力(小)从插孔处向后推备注: 没有定位孔 | 推 力 计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | ||||
推力(小)从后向插孔处推备注:没有定位孔 | 推 力 计 | 1、消除阻碍耳机插座元器件边缘的其它元器件; 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥ 8.00 Kgf 判合格。 | ||||
推力 按照充电插拔方向推(有定位柱) | 推 力 计 | 1、将测试主板固定好,避免出现测试时有晃动现象。 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥6.00 Kgf 判合格 | ||||
推力 按照充电插拔方向推(无定位柱) |
| 推 力 计 | 1、将测试主板固定好,避免出现测试时有晃动现象。 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥5.00 Kgf 判合格 | |||
推力 按T-Flash卡插拔方向推 | 推 力 计 | 1、将测试主板固定好,避免出现测试时有晃动现象。 2、选用推力计,将仪器归零,≤30度角(如图所示) 进行推力试验; 3、检查元器件脱焊的力,≥5.5Kgf 屏蔽罩无变形判合格 |
1 检查项目:
上锡性;
焊点判定基准
l 焊锡部的焊锡脱落,针孔的面积要在整个焊锡面积的20%以下。
2-1 检查项目:
排列区封装接合状态规定;(1)VOID的规定
焊点判定基准:
l 有关BGA、CSP、LGA等的区域型封装,对焊锡接合部的VOID的占有率进行规定。VOID要用X线检查机从封装的正上方进行观察,通过计算VOID面积对焊锡接合部的占有率来算出。VOID在30%以内的为良品。
2-2 检查项目:
排列区封装接合状态规定;(2)接合部规定
焊点判定基准:
l 用X线将对象接合部倾斜30~60°进行观察,应用以下规格。
l 焊锡BUMP部尺寸:b≧a、c≧75um
Underfill:要形成Side Fillet。
至于尺寸则要对应各模块的规定,每次都要进行规定。
3-1 检查项目:剥离强度
(1)剥离强度
焊点判定基准:
1.适用范围
这是对FPC的SMT模组的CHIP部品的剥离强度规格所做的规定。
2.剥离强度规格
SMT贴装后,在常温常湿下用推拉力计或剥离测试仪进行测定。
下述以外的部品的强度根据客户要求不同要分机种运用。
3.剥离模式规格
有关测定后的FPC上的部品破坏模式规定如下:
良否判定基准:在满足剥离强度的情况下,剥离模式①~④为良品。
剥离强度比规定值低时,剥离模式为①②时为良品,③④时,根据解析的结果和相关人员协商后决定。
4.测定频度
测定频度要根据每个机种来设定。
5.测定方法
如下图所示,将推拉力计的头顶在部品侧面,以适当的速度去推,读取测定值。如果使用剥离测试规时,也要和下面采取同样的方向加压力进行强度测定。
3-2 检查项目:Pull强度
(1)Pull强度
焊点判定基准:
1.适用范围
这是对PWB的SMT模块上的贴装部品的Pull强度规格进行的规定。
2.剥离强度规格
另外,关于以下以外的部品的强度要根据客户要求按不同机种进行应用。
部品种类 | Pull强度 |
QFN | 1.0KgF以上 |
CHIPC2125尺寸~ | 0.75KgF以上 |
EEPROM,VR,LED | 0.5KgF以上 |
CHIP C 1608尺寸~ | 0.5KgF以上 |
二极管 | 0.3KgF以上 |
CHIP C,R 1005尺寸 | 0.25KgF以上 |
BGA,CSP | 0.3KgF/mm2以上 |
* 关于BGA,CSP由于机种不同所以Land开口直径·PIN数不同,所以按每单位面积的值来进行规定。另外,对PIN在200以上的BGA等进行个别设定的情况下,则要遵照此表。
3.剥离模式规格
与前页推力强度剥离模式相同。
4.测量频率
关于测量频率是按每机种进行设定。
5.测量方法
SMT贴装后,在常温常湿下用推拉力计如下图那样,用粘着剂将线固定在部品顶面中心部,然后等速地垂直向上拉,测量强度(Pull)强度。
3-3 检查项目:Ball Pull 强度(参考)
(1)Ball Pull 强度(参考)
焊点判定基准:
1.适用范围
根据评估PWB表面处理等在PWB的BGA,CSP等Ball Pad部不贴装部品,而进行贴装焊锡Ball,简单地对确认接合强度的Ball Pull强度规格进行规定。
2.剥离强度规格
l 由焊锡(Sn-Ag-Cu)本身的拉力强度值来进行规定。
部品种类 | Ball Pull强度(每个Ball Pull) |
BGA,CSPBall Pad部 | 2.5KgF/mm2以上 |
* 关于BGA,CSP由于机种不同所以Land开口直径·PIN数不同,所以按每单位面积的值来进行规定。
3.剥离模式规格
关于测量后FPC上的部品破坏模式将如下进行规定。
模式 | 状态 | 良否 |
①焊锡破坏 | 断裂面为焊锡银色 | OK |
②基板焊盘破坏 | 每个部品焊盘都剥离 | ※ |
③合金层破坏 | 断裂面呈黑色。(合金层的界面剥离) | ※ |
良否判定标准:满足Ball Pull强度的情况下,剥离模式为①~③的则为良品。
:Ball Pull强度低于规定值的情况下,剥离模式为①时作为良品,为②,③时要根据解析调查结果与相关人员协商之后再进行决定。
4.测量频率
关于测量频率是按每机种进行设定。
5.测量方法
如下图,在贴装了焊锡Ball后,在常温常湿下用Tool夹住Ball,等速向上拉,并测量BallPull强度。
3-4 检查项目:PEEL强度
(1)PEEL强度
焊点判定基准:
1.适用范围
这是对FPC的SMT模组的CHIP部品的PEEL强度规格所做的规定。
2.剥离强度规格
SMT贴装后,在常温常湿下用推拉力计或剥离测试仪进行测定。
所有部品的PEEL强度规格都要满足0.5kgf/mm2以上的规格。
3.剥离模式规格
和前一页的剥离测试规相同。
4.测定频度
测定频度要根据每个机种来设定。
5.测定方法
① 如上图所示,将FPC弯折90°,将测定部品夹到治具中固定。
② 用推拉力计夹住FPC边缘,以等速度来抬起。
③ 测定强度要在0.5kgf/mm2以上。(将测定部品焊盘部换算为单位面积接触的强度。)
PEEL强度单位面积换算 kgf/mm2
例)将FPC边缘向这一方向拉,测定值为0.6kgf时
F=测定值(kgf)/测定焊盘面积(mm2)=0.6/(0.33*0.78)=0.58>0.5
项目1:常数的确认
(1)常数的确认
遵守事项:
l 为了防止贴装时的误贴装,一定要按机种进行贴装坐标、部品的极性和部品的对照,并留下记录。
[作成确认表,每次机种转换时,由负责人进行确认]
项目2:常数的确认
(2)常数的确认
遵守事项:
l 在贴装时进行部品的交换和补充时,一定要对照部品名和部品Code后再进行部品的交换、补充。[作成部品交换履历表并运用]。
① 贴装机的显示屏显示和部品表间的对照以及和装置部品间的对照,确认。
② 部品交换、补充方向的确认。
有极性方向指定的部品(LED、Diode、IC、钽电容、Tr、电解电容等)要将部品的标志或部品托盘的角部方向对好Set。
利用部品构成表以及贴装图进行贴装部品的对照,并留下记录。
项目3:回流炉炉温曲线
(3)回流炉炉温曲线
遵守事项:
l 因为回流炉炉温曲线根据所使用的焊锡材料、部品的热容量不同会有偏差,所以一定要按照机种以及1次/日的频度确认条件并留下记录。
项目4:焊锡检查工程
(4)焊锡检查工程
遵守事项:
工程管理负责人确认没有问题后,要在确认表上盖章或签字。
l 该工程要检查焊锡的完成状态以及部品的极性。
关于部品的极性要和每个机种的作业基准书实施比较。
l 焊锡检查要按工艺要求统一使用AOI+电子显微镜+X-ray进行检查。
项目5:CHIP电阻背面贴装
(5)CHIP电阻背面贴装
遵守事项:
l CHIP电阻器因为是在陶瓷BASE上印刷导电性印油,Trimming过的部品,所以原则上禁止进行背面贴装。
项目6:锡膏的印刷
(6)锡膏的印刷
遵守事项:
①锡膏印刷钢网的清扫要以1次/6sheet的频度实施,以防止锡飞散。
②含有CSP贴装的情况,要全数实施使用SPI贴装部分的印刷面积检查(90%以上)。
③锡膏的印刷质量要使用SPI实时进行SPC数据检查; (SPC)
锡膏的印刷厚度要以2次/日的频度进行离线检查并留下记录。(CSP实施)
※ 锡膏印刷面积低于管理基准时或者是锡膏膜厚没有进入到81~205μm的基准内时,要进行钢网清扫和印刷刮板的压力等调整,采取对策。
※ 生产条件无法调整时,要向管理者报告实施对策。
项目7:CSP导通检查
(7)CSP导通检查
遵守事项:
在CSP导通检查工位,最开始进行过有无极性错误的检查后,再实施电气上的导通检查。
每个机种的接续的电阻值都不同,要注意。
为了使测试PIN不会对线路上造成伤,要使用前端有圆状的PIN。
接续电阻值根据测定机器不同会有所偏差,所以要活用良品、不良品样本,进行测定机器间的误差补偿。
项目8:贴片机运转时的注意事项
(8)贴片机运转时的注意事项
遵守事项:
①在自动机的动作状态下发生了错误时,要按照各个设备的修复程序采取行动。
②如果连续发生贴装失误时,要进行装置的保养并采取对策。
③因为部品贴装工位是连动的,各个设备都在动作,所以要注意不要轻易地打开安全开关。
④进行过交换(补充)部品的贴装初期品一定要进行检查,确认没有错误。
完结——以下无正文
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传播真知,赋能智造;
若有帮助,甚是荣幸!
END
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