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元器件应用工艺技术规范
2 引用参考标准
EIA/IS-47 《Contact Terminations Finish for Surface Mount Device》
EIA-481《表面安装器件卷带盘式包装》
EIA-625 《Requirement for Handling Electronic-Discharge-Sensitive(ESDS) Devices
IEC286 《表面安装器件卷带盘式包装》
IEC68-2-69 《Solderability testing of electronic conponents for surface mountingtechnology by the wetting balance methods》
GGP-TR-PT-226 《镀层检测及外观检验 》
GGP-TR-PT-231 《镀层和镀液中杂质离子检测和相关异常处理作业指导 》
GGP-WI-082-113 《电镀质量标准 》
GGP-WI-082-114 《冲切质量标准 》
J-STD-001《Requirements for Soldered Electrical and Electronic Assemblies》
J-STD-002《Solderability Tests for Component Leads, Terminations, Lugs, Terminals and Wires》
J-STD-004 《Requirememt for Soldering Flux》
J-STD-020 《Moisture/Reflow Sensitivity Classification of Plastic Surface
JESD22-B106-D Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices
JESD97《Marking, Symbols, and Labels for Identification of Lead(Pb) Free Assemblies, Components and Devices》
IPC-1066《Marking, Symbols, and Labels for Identification of Lead Free and Other Reportable Materials in Lead Free Assemblies, Components and Devices》
IPC-SM-786《Procedures for Characterizing and Handling of Moisture/ReflowSensitive Plastic ICs》
IPC-SM-780 《Guidelines for Component Packaging and Interconnection with Emphasison Surface Mounting》
IPC-SC-60《Post Solder Solvent Cleaning Handbook 》
IPC-AC-62 《Post Solder Aqueous Cleaning Handbook 》
IPC-CH-65 《Guidelines for Cleaning of Printed Boards and Assemblies 》
IPC-7711 《Reworkof Electronic Assemblies(Replaces IPC-R-700) 》
IPC-7721 《Repairand Modification of Printed Boards and Electronic Assemblies(ReplacesIPC-R-700) 》
SJ/T 10669 《表面组装元器件可焊性试验 》
SJ/T 10630 《电子器件制造防静电技术要求 》
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本标准。
3.1
可焊性 solderability 金属表面被熔融焊料润湿的能力。
超声波检测 (SAT)检测产品的内部离层、气泡、裂缝。但产品表面一定要平整。
超声波扫描模式: A-Scan(点扫描)、B-Scan(截面扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、T-Scan (穿透式扫 描)、Tray-Scan(盘扫描)、Jump-Scan(跳跃扫描)、HTS(高速扫描)、TAMI-Scan(断层显微成 象扫描) 。
3.2
MSL- Moisture Sensitivity Level 即湿度敏感等级。
MBB-Moisture Barrier Bag 即防潮包装袋。
MSD- Moisture Sensitivity Device 即湿度敏感器件。
HIC-Humidity Indicator Card
即湿度指示卡,打开真空防潮包装袋,HIC 将显示袋内潮湿程度(一般 HIC 上有三个圆点,分别代表相对湿度 5%、10%、60%,三圆点原色为棕色,当某圆点由棕色变为蔚蓝色时,则表明袋内已达到或超过该圆点对应的相对湿度),若潮湿度显示超过10%,表明生产前需要进行烘烤。
警告标签 Warning Label
即防潮包装袋外的含 MSIL(Moisture Sensitive Identification Label)符号、芯片的潮湿敏感等级(或含密封存储条件和拆封后存放最长时间及受潮后烘烤条件)和包装袋本身密封日期的标签。
3.3
ESD-Electro-Static Discharge 即静电放电。
HBM-Human Body Model 即人体放电模式。
MM-Machine Model 即机器放电模式。
4 应用工艺要求
4.1 元器件出厂时间要求
对贴片SMC/SMD及插件器件,存储年限一般要求控制在一年内。
出厂时间指元器件下线的时间,即从元器件下线到交付给使用方检验合格的时间。
如果因供货问题,需要超期使用,一般应该进行复测电性和可焊性测试,如果合格可予以使用,否则不能使用。
4.2 可焊性要求
4.2.1 可焊性测试方法
THT | 表面贴装 | |||
直插式 | 无引脚 | J 型 引脚 | 鸥翼 引脚 | |
“浸焊法”---外观验收标准的测试 | ||||
A-浸焊观察测试(锡铅,无铅焊料) | √ | √ | √ | |
B-浸焊观察测试(锡铅,无铅焊料) | √ | |||
D-金属层耐溶蚀性/退润湿测试(锡铅,无铅焊料) | √ | √ | √ | |
S-表面贴装工艺模拟测试(锡铅,无铅焊料) | √ | √ | √ | |
“润湿平衡法”---力度测量测试 | ||||
E-润湿称量焊料槽测试(锡铅,无铅焊料) | √ | √ | √ | |
F-润湿称量焊料槽测试(锡铅,无铅焊料) | √ | |||
G-润湿称量焊球测试(锡铅,无铅焊料) | √ | √ | √ |
测试方法 | 优点 | 缺点 | 依据标准 | 备注 |
---|---|---|---|---|
润湿平衡法 | 可定量测试 | 试验时间较长、成本较高 | J-STD-002 | 需专用仪器设备 |
IEC 68-2-69 | ||||
浸焊法 | 可做迅速的定性测试, 成本低 | 主观性较大 | J-STD-001 |
4.2.2 可焊性测试要求
4.2.3 助焊剂及焊料
J-STD-004 将所有的焊剂分成 24 个类别,涵盖目前所有的焊剂类型,该标准根据助焊剂的主要组成材料将其分为四大类 :松 香型(Rosin,RO ) ;树脂型(Resin,RE)有机酸型 (organic,OR),无机酸型(Inorganic,IN),其次,根据铜镜试验的结果将焊剂的活性成分水平划分为三级:L:表示助焊剂或是助焊剂的残留的活性低或无活性低。M:表示助焊剂或是助焊剂残留活性中性。H:表示助焊剂或助焊剂的残留活性高。
常见金属可焊性见下表
焊料 | 助焊剂类型 | 可焊性递降的顺序 | |
Sn-Pb 合金 | Sn63/Pb37 | 使用中性助焊剂(R 或 RMA) | 焊接容易 |
Sn | SAC305 | ||
Pd | SAC305 | 使用中性助焊剂(RMA) | 焊接一般 |
注:关于助焊剂分类,参见 J-STD-004 和 J-STD-002 |
4.3 引脚镀层要求
4.3.1 镀层构成要求
优选纯锡为元器件引脚表面最外镀层材料;除非特殊情况,不建议选用其它表面镀层材料。
纯锡电镀产品镀层含 Pb PPM >100 为超标,纯锡镀层中检测(Cu, C)含量:要求“Cu 含量≤100 PPM,C 含量≤500 PPM ”, 纯锡镀层颗粒大小:要求“size :(1-10)μm ”。
无铅引脚镀层成分:Sn>98%。
4.3.2 镀层厚度要求
下表给出了常见镀层的具体要求。
成份 | 厚度要求(μm) |
---|---|
半光亮纯锡 | SOT/SOD:7-17 |
TO: 7-17 | |
DFN/FBP:5-12 | |
光亮纯锡 | TO:5-20 |
涂层成分 | 要求厚度(单位:um) | 备注 |
---|---|---|
SnPb(底层为Ni) | 12-30um(Ni层2-6um) | |
Pd(底层为Ni) | 0.1-0.5um(Ni层2-6um) | |
Pd(底层为Cu) | 0.1-0.5um | |
Au(底层为Ni) | 小于1um (Ni层2-6um) | |
Ag | 大于7um | 不推荐使用, 如必须选用, 必须采用真空包装,要使用含银焊料。 |
AgPd, AgPt | 大于7um | 贴片电阻,电容不许选用 |
注:元器件管脚表面可焊镀层成分必须由供应商给出。
要求 | |||
|
| ||
|
| ||
|
|
| |
|
|
| |
|
|
可焊性递降的顺序 | ||
4.3.3 镀层外观要求
要求引脚表面镀层外观清洁,色泽均匀,无任何搭锡,露铜,镀层刮伤,镀层污染,镀层厚度超标,管脚银层毛刺等缺陷。
4.3.4 抑制锡须生长的措施
1)电镀后,较快熔化锡镀层可减缓锡须的生成。
2)所有 SOT/SOD 产品和客户要求的其它系列产品,电镀后的产品,24 小时内进行烘烤(如 53±3℃下持续 1 小时)可减缓锡须。
4.4 耐焊接热要求
4.4.1 焊接方式要求
推荐采用回流焊或波峰焊焊接方式,不推荐采用其他焊接方式(如手工焊接等)。
4.4.2 焊接要求
4.4.2.1 回流焊接要求
要求选用元器件能适应以下回流焊接要求:
a) 预热温度:150℃~200℃,时间:60s ~ 120s;
b) 升温速率:小于 3 ℃/s,降温速率:小于 6℃/s;
c) 最高温度:260±5℃,最高温度停留时间:小于 30s。
下表为回流焊接峰值温度要求
封装厚度 | 体积mm3 <350 | 体积mm3 350~2000 | 体积mm3 >2000 |
<1 .6mm | 260℃ | 260℃ | 260℃ |
1.6mm-2.5mm | 260℃ | 250℃ | 245℃ |
>2.5mm | 250℃ | 245℃ | 245℃ |
4.4.2.2 波峰焊接要求
要求选用元器件能适应以下波峰焊接要求:
a) 预热温度:130℃~ 160℃,时间:60-90s。
b) 焊接温度:260±5℃,时间:小于 10s。
4.4.2.3 返修要求
元器件能适应手工焊接返修要求:温度:350±5℃(不超过 400℃),时间:少于3s。
4.4.2.4 焊接次数要求
元器件能承受的焊接次数≤5 次。
4.4.3 烘干要求
表贴元器件承受 125±5℃,时间 24 小时或 45℃、RH≤5%条件下烘烤192小时以上。
4.4.4 老化要求
元器件能耐受老化温度为 45℃~50℃,时间 72 小时。
4.5 工作温度
元器件在在制成产品后,满足电性指标,器件正常工作温度要求达到:0~70℃。
4.6 贴片压力要求
表贴元器件中心能承受小于 2N 的压力。
4.7 尺寸及公差要求
4.7.1 表面贴装器件
对表面贴装器件,元器件引脚中心间距和公差要求必须符合国际标准,引脚的共面性符合本标准 4.8.3 要求。
4.7.2 插装元件
对插装元件,引脚中心距、引脚直径(包括方形引脚的倒角直径)、封装体尺寸和公差等
相关信息必须包含在封装资料的信息中。
4.8 封装要求
4.8.1 封装资料要求
厂家需提供元器件封装资料,资料中要有完整准确的器件外形尺寸,推荐的焊盘等数据, 并提供相关的工艺信息,或相关的参考标准,供设计和使用作为参考。
常用的封装国际标准机构有 EIA、JEDEC(美国)、IPC、MIL-STD(美国军用),IECQ(欧洲), EIAJ(日本),国内采用公制尺寸封装。
4.8.2 封装一致性要求
同一种编码下各厂家的器件封装外形、器件重量、颜色、引脚尺寸等应一致或尽可能相近,安装尺寸必须一致。
4.8.3 表贴元器件共面度要求
共面度定义:以零件的三个最低的引脚形成的平面为基准面,其余的引脚与之比较而得到的最大偏差。
4.8.4 需要在贴片前烧录加载软件的器件,采用托盘或管式包装。
4.8.5 Tray托盘尺寸必须满足现有设备处理能力要求,最大的托盘尺寸:300mm X 200mm。
4.8.6 Tray托盘装零件料盘应有一切角,用以辨别装料方向。
4.8.7 SMT表面贴装的SMD元器件优先选用卷带(Tape/reel)包装。考虑到贴片效率,尽量不选用Tray托盘装和管状包装。
4.8.8 卷带前部无元器件部分长度至少为450mm,尾部无元器件部分长度至少为40mm,方便贴片机装料。
4.8.9 插件元器件优先选用卷带包装。 尽量不要选用散装包装。
SMD表贴元器件同一产品不同管脚站立(翘起)高度差<0.10mm。
4.8.10 表贴器件尺寸和重量
表贴器件尺寸范围要求:
0.8mm×0.6mm×0.38mm ≤L(长)×W(宽)×H(高) ≤15.75mm×20.45mm×4.8mm。
表贴器件重量应小于 6.5 克,器件重量与顶部贴片机吸嘴可吸附面积比小于 0.6g/m㎡。
4.8.11 引脚间距要求
引脚间距定义:元器件相邻引脚中心线之间的距离。 以下为封装器件引脚间距范围,供参考。
a)SOT 系列: 0.35mm<引脚间距<2.3mm;
b)SOD 系列:0.95mm<引脚间距<3.7mm;
c)TO 系列: 1.27mm<引脚间距<5.45mm;
d)FBP 系列: 0.56mm<引脚间距<1mm;
4.9 静电防护要求
4.9.1 静电敏感等级
静电敏感器件的静电敏感等级要明确,ESD 等级分类见下表;
级别 | 静电敏感度(单位:V) | 模式 | |
---|---|---|---|
I | 0~1999 | HBM | |
II | 2000~3999 | ||
III | 4000~15999 | ||
非敏感 | ≥16000 | ||
A | 0~200 | MM | |
B | 200~400 | ||
C | ≥400 |
注:表中未列的器件依照其引脚涂层类型,结合表<附录A>确定。
ESD级别 | 静电敏感度(单位:V) | 模式 |
---|---|---|
0级 | 0~249 | HBM |
1A级 | 250~499 | |
2级 | 2000~3999 | |
3 A 级 | 4000~7999 | |
非敏感 | ≥16000 |
常见器件的静电敏感电压和 ESD 等级分类见 引用参考标准 所示,供应用时参考。参照 IEC 标准 IEC61000-4-2 和 JEDEC 标准 JESD22-A114。
4.9.2 防静电要求
必须采用防静电材料包装静电敏感器件,且要在包装上标注防静电标识,同时,注明该器件的静电敏感等级或静电敏感电压。
常用的防静电标志见下图
湿敏器件资料中要注明潮湿敏感器件的存储条件、存储期限、器件受潮后的处理方法、 注意事项等相关信息。
为确定元器件防潮措施,器件厂家应在元器件资料中标明器件的潮湿敏感等级。 一般而言,所有的塑封表面贴装器件,如 SOT、SOD、FBP 等,都属于湿敏器件。 潮湿敏感器件等级划分在附录 B 中进行了规范。参照 JEDEC 标准 J-STD-020。
潮湿敏感等级MSL为 2 级以上的器件须采用防潮、防静电包装袋真空包装,且必须在包装袋内加干燥剂,同时,需在包装袋上注明该器件属于潮湿敏感器件和潮湿敏感等级、警告标签和包装袋本身密封日期的标签。
湿敏等级 | 1 | 2-5a | 6 |
---|---|---|---|
防潮袋要求 | 无要求 | MBB 要求(含 HIC) | 特殊 MBB(含 HIC) |
干燥剂要求 | 无要求 | 要求 | 特殊干燥剂 |
警告标签要求 | 无要求 | 要求 | 要求 |
b) HIC :Humidity Indicator Card,湿度指示卡。
c) Moisture-sensitive device warning labels ,MSD 警示标签。警示标签要求符合 JEDEC JEP113 标准。
湿度指示卡样本
4.10.4 烘烤注意事项
高温烘烤应确保包装材料经得起 125℃ 的高温。装在低温料盘(如卷盘、料管、卷带)
内的器件烘烤温度不能高于 40℃, 否则料盘会损坏;建议更换耐高温料盘进行烘烤。
4.10.5 MSL 测定的流程
(1) 良品进行 SAT,确认没有脱层的现象。
(2) 将产品烘烤,以完全排除湿气。(烘烤条件:125℃,24h)
(3) 依 MSL 等级加湿。(即浸透试验)
(4) 过 IR-Reflow 3 次 (模拟产品上件,维修拆件,维修再上件)。
(5) SAT 检验是否有分层现象及测试产品电性功能。 若能通过上述测试, 代表产品封装符合 MSL 等级。
MSL 试验主要考核绿色塑封料产品,普通塑封料产品不作要求。绿色塑封料 SOT/SOD 小功率产品(除 SOT-89 为 MSL3)均为 MSL1 。MSD 等级主要取决于元件的制作工艺、体积、所应用的制程温度等。
4.11 清洗要求
4.11.1 元器件要求
元器件资料上应注明器件是否能够清洗。
如果元器件可以清洗,要指明可以使用的哪些清洗方法,适用哪类清洗剂,使用何种清洗工艺;常用的清洗方法有:手工清洗、浸洗、喷淋、超声波清洗等; 需对是否能进行超声清洗进行特别说明。并需要说明清洗后,是否需要烘干以及对烘干工艺有何要求等。
4.11.2 清洗剂要求
清洗剂与元器件封装体上的印记在化学性能上要求兼容,不允许损坏器件的印记信息。
4.12 元器件包装和存储要求
4.12.1 运输和存储要求
公司对所有元器件的运输和存储环境要求见下表:
环境 | 要求 |
---|---|
温度 | 5℃~40℃ |
相对湿度 | 30~80% |
二氧化硫平均含量 | ≤0.3mg/m3 |
硫化氢平均含量 | ≤0.1mg/m3 |
4.12.2 包装要求
4.12.2.1表贴元器件包装类型要求
表贴元器件优先选用卷带式包装,或管式包装,以及盘式包装。
4.12.2.2卷带式包装无器件长度要求
为方便贴片机装料,要求卷带前端无元器件部分长度至少为 20cm,尾端无元器件部分长度至少为 40cm。
4.12.2.3敏感器件包装要求
对于无铅元器件,要求在包装体外标注专用无铅的标识。下图为无铅产品的标签样本。
4.12.2.4 包装尺寸要求
所有元器件均要求按照国际通用标准(如 EIA、IEC、JEDEC 等)规定的包装尺寸参数进行包装。
4.13 元器件兼容替代的规定
原则上,对元器件的管理必须是“一物一码”,即同一代码下的元器件必须是功能、封 装尺寸完全兼容。考虑到一些特殊情况,对可兼容的元器件和作了设计可视作“完全”兼容元器件的条件作如下规定。
4.13.1 可作兼容替代元器件的条件
a) 对插装元器件,引脚间距尺寸与所选国际标准一致,引脚尺寸直径比所选国际标准小且小的幅度不超过 0.2mm,可作为兼容替代元器件使用;
b) 对贴片器件,只要引脚中心距、引脚数与所选国际标准一致,可作为兼容替代元器件使用(也就是说允许引脚长度尺寸有所变化,但必须经过审核通过,方可以视作兼容);
4.13.2 作了兼容设计可视作“完全”兼容元器件使用的特殊情况
没有国际标准支持的特殊器件,封装尺寸相差很大,但在 PCB 上作了兼容设计,可作为同一代码使用。此类情况,需进行兼容封装评审和兼容焊盘的设计。
4.14 资料信息要求
对于资料信息,除具备电气、上述内容要求外, 需要特别指出的信息要包含或部分包含以下内容:
a) 封装类型;
b) 器件材料信息(如,封装材料、引脚材料、焊球的成分);
c) 外引线镀层及镀层制作工艺;
d) 元器件封装所遵循的标准(EIA、JEDEC、IEC 还是 EIAJ);
e) Layout 信息(元器件外形尺寸,推荐的焊盘数据等信息);
f) 组装工艺信息(温度曲线、静电要求、可焊性信息、潮湿敏感元器件的等级、存储条件、存储期限以及元器件受潮后的处理方法及注意事项等)。
器件类型 | 静电敏感度(单位:V) | 级别和静电敏感度范围 |
---|---|---|
MOSFET | 100~200 | I级 |
JFET | 140~1000 | I级 |
CaAsFET | 100~300 | I级 |
CMOS | 250~2000 | I级 |
HMOS | 50~500 | I级 |
E/D MOS | 200~1000 | I级 |
VMOS | 30~1800 | I级 |
PROM | 100 | I级 |
EP-ROM | 100~500 | I级 |
SCHOTTKY DIODES | 300~2500 | I级/Ⅱ级* |
SAW | 150~500 | I级 |
0PAMP | 190~2500 | I级/Ⅱ级* |
N-MOS | 60~500 | I级 |
ECL电路 | 300~2500 | I级/IⅡ级* |
SCL(可控硅) | 680~1000 | I级 |
ECL | 500~2000 | I级 |
S-TTL | 300~2500 | I级/Ⅱ级* |
DTL | 380~7000 | I级/IⅡ级/II级 |
石英及压电晶体 | <10000 | Ⅲ级* |
注:*为多种可能,具体静电敏感程度,要由厂家给出。 |
器件 ESD 等级(HBM)标准见下表
ESD级别 | 静电敏感度(单位:V) | 模式 |
---|---|---|
0级 | 0~249 | HBM |
1A级 | 250~499 | |
2级 | 2000~3999 | |
3 A 级 | 4000~7999 | |
非敏感 | ≥16000 |
附录 B(规范性附录)潮湿敏感器件等级标准
器件类型 | ||
MODULES(双工器, 功率模块, VCO等) | 无特殊要求 |
潮湿敏感等级 | 拆封后存放条件 | 拆封后存放期限 |
---|---|---|
1 | ≤30℃/85%RH | 无限制 |
2 | ≤30℃/60%RH | 一年 |
2a | ≤30℃/60%RH | 4 周 |
3 | ≤30℃/60%RH | 168 小时 |
4 | ≤30℃/60%RH | 72 小时 |
5 | ≤30℃/60%RH | 48 小时 |
5a | ≤30℃/60%RH | 24 小时 |
6 | ≤30℃/60%RH | 标签时间(6 小时) |
附录 C(规范性附录) 助焊剂分类标准
焊剂活性水平(含卤素量%) Flux Activy Level(%Halide) | 焊剂类型 Flux Type | 焊剂标识(代号) Flux Designator | |
Flux Materials of composition | |||
松香 Rosin(RO) | Low(0.0%) | L0 | ROL0 |
Low(<0.5%) | L1 | ROL1 | |
Moderate(0.0%) | M0 | ROM0 | |
Moderate(0.5-2.0%) | M1 | ROM1 | |
High (0.0%) | H0 | ROH0 | |
High (>2.0%) | H1 | ROH1 | |
树脂 Resin(RE) | Low(0.0%) | L0 | REL0 |
Low(<0.5%) | L1 | REL1 | |
Moderate(0.0%) | M0 | REM0 | |
Moderate(0.5-2.0%) | M1 | REM1 | |
High (0.0%) | H0 | REH0 | |
High (>2.0%) | H1 | REH1 | |
有机酸 Organic(OR) | Low(0.0%) | L0 | ORL0 |
Low(<0.5%) | L1 | ORL1 | |
Moderate(0.0%) | M0 | ORM0 | |
Moderate(0.5-2.0%) | M1 | ORM1 | |
High (0.0%) | H0 | ORH0 | |
High (>2.0%) | H1 | ORH1 | |
无机酸 Inorganic(IN) | Low(0.0%) | L0 | INL0 |
Low(<0.5%) | L1 | INL1 | |
Moderate(0.0%) | M0 | INM0 | |
Moderate(0.5-2.0%) | M1 | INM1 | |
High (0.0%) | H0 | INH0 | |
High (>2.0%) | H1 | INH1 |
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