元器件选型丨SMD元器件应用标准规范 (参考标准:IPC/EIA/IEC/JESD/GGP/SJ)

文摘   2024-10-11 06:49   广东  


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元器件应用工艺技术规范

1   范围

本标准规定了SMC/SMD贴片及插件电子元器件在可焊性测试、包装储存、组装、清洗等方面的工艺技术要求,以确保所选型使用的元器件具有良好的工艺性能。
1.1  适用范围
本标准适用于电子元器件的设计选型、技术认证、来料检验、兼容替代和设计、生产、采购、质量、仓储等范围。


2   引用参考标准

  • EIA/IS-47 《Contact Terminations Finish for Surface Mount Device》

  • EIA-481《表面安装器件卷带盘式包装》

  • EIA-625 《Requirement for Handling Electronic-Discharge-Sensitive(ESDS) Devices

  • IEC286 《表面安装器件卷带盘式包装》

  •  IEC68-2-69 《Solderability testing of electronic conponents for surface mountingtechnology by the wetting balance methods》


  • GGP-TR-PT-226  《镀层检测及外观检验 》

  • GGP-TR-PT-231  《镀层和镀液中杂质离子检测和相关异常处理作业指导 》

  • GGP-WI-082-113  《电镀质量标准 》

  • GGP-WI-082-114  《冲切质量标准 》


  • J-STD-001《Requirements for Soldered Electrical and Electronic Assemblies》

  • J-STD-002《Solderability Tests for Component Leads, Terminations, Lugs, Terminals and Wires》

  • J-STD-004 《Requirememt for Soldering Flux》 

  • J-STD-020 《Moisture/Reflow Sensitivity Classification of Plastic Surface
Mount Devices》


  • JESD22-B106-D Resistance to Solder Shock for Through-Hole Mounted Devices

  • JESD97《Marking, Symbols, and Labels for Identification of Lead(Pb) Free Assemblies, Components and Devices》


  • IPC-1066《Marking, Symbols, and Labels for Identification of Lead Free and  Other Reportable Materials in Lead Free Assemblies, Components and Devices》

  • IPC-SM-786《Procedures for Characterizing and Handling of Moisture/ReflowSensitive Plastic ICs》

  • IPC-SM-780 《Guidelines for Component Packaging and Interconnection with Emphasison Surface Mounting》

  • IPC-SC-60《Post Solder Solvent Cleaning Handbook 》

    IPC-AC-62 《Post Solder Aqueous Cleaning Handbook 》

  • IPC-CH-65 《Guidelines for Cleaning of Printed Boards and Assemblies 》

  • IPC-7711 《Reworkof Electronic Assemblies(Replaces IPC-R-700) 》

  • IPC-7721 《Repairand Modification of Printed Boards and Electronic Assemblies(ReplacesIPC-R-700) 》


  • SJ/T 10669   《表面组装元器件可焊性试验 》

  • SJ/T  10630  《电子器件制造防静电技术要求 》


3 术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

3.1

可焊性  solderability 金属表面被熔融焊料润湿的能力。 

超声波检测 (SAT)检测产品的内部离层、气泡、裂缝。但产品表面一定要平整。

超声波扫描模式: A-Scan(点扫描)、B-Scan(截面扫描)、C-Scan(层扫描)、Multi-Scan(多层扫描)、T-Scan (穿透式扫 描)、Tray-Scan(盘扫描)、Jump-Scan(跳跃扫描)、HTS(高速扫描)、TAMI-Scan(断层显微成 象扫描) 。

3.2  

MSL- Moisture Sensitivity Level 即湿度敏感等级。

MBB-Moisture Barrier Bag 即防潮包装袋。

MSD- Moisture Sensitivity Device 即湿度敏感器件。

HIC-Humidity Indicator Card

即湿度指示卡,打开真空防潮包装袋,HIC 将显示袋内潮湿程度(一般 HIC 上有三个圆点,分别代表相对湿度 5%、10%、60%,三圆点原色为棕色,当某圆点由棕色变为蔚蓝色时,则表明袋内已达到或超过该圆点对应的相对湿度),若潮湿度显示超过10%,表明生产前需要进行烘烤。

警告标签 Warning Label

即防潮包装袋外的含 MSIL(Moisture Sensitive Identification Label)符号、芯片的潮湿敏感等级(或含密封存储条件和拆封后存放最长时间及受潮后烘烤条件)和包装袋本身密封日期的标签。

3.3  

ESD-Electro-Static Discharge 即静电放电。

HBM-Human Body Model 即人体放电模式。

MM-Machine Model 即机器放电模式。


4 应用工艺要求

4.1  元器件出厂时间要求

对贴片SMC/SMD及插件器件,存储年限一般要求控制在一年内。

出厂时间指元器件下线的时间,即从元器件下线到交付给使用方检验合格的时间。

如果因供货问题,需要超期使用,一般应该进行复测电性和可焊性测试,如果合格可予以使用,否则不能使用。

4.2  可焊性要求

4.2.1 可焊性测试方法

元器件引脚的可焊性测试,可采用 “浸焊法”和“润湿平衡法”进行评估。一般情况下使用“浸焊法”,它是根据试验样品在浸入熔融焊料中一定时间后的润湿情况,用目测的方法来判别其可焊性。“润湿平衡法”用作质量仲裁。它是将待测元器件的引线即待测样品悬吊于灵敏秤的秤杆上,使样品浸入恒定温度和熔融焊料中至规定的深度,与此同时,作用于被浸入样品上的浮力和表面张力,在垂直方向上的合力由传感器测得并转换成信号,由一高速特性曲线记录器记录力一时间函数曲线。
表 1 为元器件可焊性测试方法,表 2 列出了两 种测试方法的比较。
元器件可焊性测试方法 参考标准:IEC 68-2-69
测试方法
THT

表面贴装

直插式

无引脚

J 型 引脚

鸥翼 引脚

“浸焊法”---外观验收标准的测试

A-浸焊观察测试(锡铅,无铅焊料)


B-浸焊观察测试(锡铅,无铅焊料)




D-金属层耐溶蚀性/退润湿测试(锡铅,无铅焊料)


S-表面贴装工艺模拟测试(锡铅,无铅焊料)


“润湿平衡法”---力度测量测试

E-润湿称量焊料槽测试(锡铅,无铅焊料)


F-润湿称量焊料槽测试(锡铅,无铅焊料)




G-润湿称量焊球测试(锡铅,无铅焊料)


元器件可焊性测试方法的比较

测试方法

优点缺点依据标准备注

润湿平衡法

可定量测试

试验时间较长、成本较高

J-STD-002

需专用仪器设备

IEC 68-2-69

浸焊法

可做迅速的定性测试, 成本低

主观性较大

J-STD-001


4.2.2 可焊性测试要求

元器件厂家必须能够提供或在器件资料上按 IEC 68-2-69、J-STD-002 等相关标准对器件进行可焊性测试的结果,且符合要求。

特殊情况下,元器件厂家如果不能提供该器件的可焊性测试方法和结果及依据的标准, 说明该器件厂家缺乏有效可焊性控制的手段,厂家更改制作工艺时须通知使用方。器件可焊性合格标准是元器件的焊端经过测试后,焊端表面超过 95%的面积被焊料覆盖,且无退润湿、不润湿和针孔。

4.2.3 助焊剂及焊料

不同材料引脚的元器件,在焊接时选用助焊剂活性类型有所差异。

J-STD-004 将所有的焊剂分成 24 个类别,涵盖目前所有的焊剂类型,该标准根据助焊剂的主要组成材料将其分为四大类 :松 香型(Rosin,RO ) ;树脂型(Resin,RE)有机酸型 (organic,OR),无机酸型(Inorganic,IN),其次,根据铜镜试验的结果将焊剂的活性成分水平划分为三级:L:表示助焊剂或是助焊剂的残留的活性低或无活性低。M:表示助焊剂或是助焊剂残留活性中性。H:表示助焊剂或助焊剂的残留活性高。

一般来讲,对波峰焊焊接的插件产品,要求可焊性要超过 ROL0 型助焊剂要求;表面贴装及其它焊接器件可焊性要求超过 ROL1 型助焊剂要求。

松香助焊剂有液态、糊状和固态 3 种形态。固态的助焊剂适用于烙铁焊, 液态和糊状的助焊剂分别适用于波峰焊。
  ①非活性化松香(R):由纯松香溶解在合适的溶剂(如异丙醇、乙醇等) 中组成,其中没有活性剂,消除氧化膜的能力有限,所以要求被焊件具有非常好的可焊性。通常应用在一些使用中绝对不允许有腐蚀危险存在的电路中,如植入心脏的起搏器等。

  ②弱活性化松香(RMA):这类助焊剂中添加的活性剂有乳酸、柠檬酸、硬脂酸等有机酸以及盐基性有机化合物。添加这些弱活性剂后,能够促进润湿的进行,但母材上的残留物仍然不具有腐蚀性,除了具有高可靠性的航空、航天产品或细间距的表面安装产品需要清洗外, 一般民用消费类产品(如收录机、电视机等)均不需设立清洗工序。在采用弱活性化松香时, 对被焊件的可焊性也有严格的要求。

  ③活性化松香(RA)及超活性化松香(RSA):在活性化松香助焊剂中,添加的强活性剂有盐酸苯胺、盐酸联氨等盐基性有机化合物, 这种助焊剂的活性是明显提高了,但焊接后残留物中氯离子的腐蚀变成不可忽视的问题,所以,在电子产品的装联中一般很少应用。

常见金属可焊性见下表

常见金属的可焊性 参考标准:GGP-WI-082-113
金属

焊料

助焊剂类型

可焊性递降的顺序

Sn-Pb 合金

Sn63/Pb37

使用中性助焊剂(R 或 RMA)

焊接容易

Sn

SAC305

Pd

SAC305

使用中性助焊剂(RMA)

焊接一般

注:关于助焊剂分类,参见 J-STD-004 和 J-STD-002

4.3  引脚镀层要求

4.3.1 镀层构成要求

优选纯锡为元器件引脚表面最外镀层材料;除非特殊情况,不建议选用其它表面镀层材料。

纯锡电镀产品镀层含 Pb PPM >100 为超标,纯锡镀层中检测(Cu, C)含量:要求“Cu 含量≤100 PPM,C 含量≤500 PPM ”, 纯锡镀层颗粒大小:要求“size :(1-10)μm ”。

无铅引脚镀层成分:Sn>98%。

4.3.2 镀层厚度要求

下表给出了常见镀层的具体要求。

常见器件镀层的具体要求
成份厚度要求(μm)

半光亮纯锡

SOT/SOD:7-17

TO: 7-17

DFN/FBP:5-12

光亮纯锡

TO:5-20

常见器件镀层的具体要求
涂层成分要求厚度(单位:um)备注

SnPb(底层为Ni)

12-30um(Ni层2-6um)


Pd(底层为Ni)

0.1-0.5um(Ni层2-6um)


Pd(底层为Cu)

0.1-0.5um


Au(底层为Ni)

小于1um (Ni层2-6um)


Ag

大于7um

不推荐使用, 如必须选用, 必须采用真空包装,要使用含银焊料。

AgPd, AgPt

大于7um

贴片电阻,电容不许选用

注:元器件管脚表面可焊镀层成分必须由供应商给出

各种表面涂层的优缺点比较

要求

优点
缺点
备注
锡铅合金涂层
  • 提供与焊料兼容的金相

  • 接近共熔点的合金兼容性最好
焊料人工浸渍涂层
  • 贮存寿命长
  • 共熔合金涂敷
  • 昂贵
  • 难于控制表面集合几何形状

 
电镀涂层
  • 较好地控制表面几何形状
  • 比浸渍成本低
  • 锡铅比例对电镀参数敏感
  • 易受氧化
  • 细颗粒电镀可焊性比粗颗粒的长
电镀涂层回流
  • 锡铅合金电镀
  • 气孔率降低
  • 为基底金属的可焊性提供反馈
  • 成本增加
  • 控制表面几何形状的能力减弱
  • 关于这种工艺的意见分歧较大
贵金属上的阻挡层
  • 提高了浸析阻力
  • 成本增加

常见金属的可焊性(仅供参考)

可焊性递降的顺序

助焊剂类型
金属
A
L0
锡/铅合金
B
L1
铜+2%铁
银/钯
金/铂

4.3.3 镀层外观要求

要求引脚表面镀层外观清洁,色泽均匀,无任何搭锡,露铜,镀层刮伤,镀层污染,镀层厚度超标,管脚银层毛刺等缺陷。

4.3.4 抑制锡须生长的措施

1)电镀后,较快熔化锡镀层可减缓锡须的生成。

2)所有 SOT/SOD 产品和客户要求的其它系列产品,电镀后的产品,24 小时内进行烘烤(如 53±3℃下持续 1 小时)可减缓锡须。


4.4   耐焊接热要求

4.4.1 焊接方式要求

推荐采用回流焊或波峰焊焊接方式,不推荐采用其他焊接方式(如手工焊接等)。

4.4.2 焊接要求

4.4.2.1 回流焊接要求

要求选用元器件能适应以下回流焊接要求:

a) 预热温度:150℃~200℃,时间:60s ~ 120s;

b) 升温速率:小于 3 ℃/s,降温速率:小于 6℃/s;

c) 最高温度:260±5℃,最高温度停留时间:小于 30s。 

下表为回流焊接峰值温度要求

回流焊接峰值温度要求

封装厚度

体积mm350

体积mm3   350~2000

体积mm>2000

1 .6mm

260℃

260℃

260℃

1.6mm-2.5mm

260℃

250℃

245℃

>2.5mm

250℃

245℃

245℃

4.4.2.2 波峰焊接要求

要求选用元器件能适应以下波峰焊接要求:

a) 预热温度:130℃~ 160℃,时间:60-90s。

b) 焊接温度:260±5℃,时间:小于 10s。 

4.4.2.3 返修要求

元器件能适应手工焊接返修要求:温度:350±5℃(不超过 400℃),时间:少于3s。 

4.4.2.4 焊接次数要求

元器件能承受的焊接次数≤5 次。

4.4.3 烘干要求

表贴元器件承受 125±5℃,时间 24 小时或 45℃、RH≤5%条件下烘烤192小时以上。

4.4.4 老化要求

元器件能耐受老化温度为 45℃~50℃,时间 72 小时。


4.5   工作温度

元器件在在制成产品后,满足电性指标,器件正常工作温度要求达到:0~70℃。


4.6   贴片压力要求

表贴元器件中心能承受小于 2N 的压力。




4.7  尺寸及公差要求

4.7.1 表面贴装器件

对表面贴装器件,元器件引脚中心间距和公差要求必须符合国际标准,引脚的共面性符合本标准 4.8.3 要求。

4.7.2 插装元件

对插装元件,引脚中心距、引脚直径(包括方形引脚的倒角直径)、封装体尺寸和公差等

相关信息必须包含在封装资料的信息中。


4.8  封装要求

4.8.1 封装资料要求

厂家需提供元器件封装资料,资料中要有完整准确的器件外形尺寸,推荐的焊盘等数据, 并提供相关的工艺信息,或相关的参考标准,供设计和使用作为参考。

常用的封装国际标准机构有 EIA、JEDEC(美国)、IPC、MIL-STD(美国军用),IECQ(欧洲), EIAJ(日本),国内采用公制尺寸封装。

4.8.2 封装一致性要求

同一种编码下各厂家的器件封装外形、器件重量、颜色、引脚尺寸等应一致或尽可能相近,安装尺寸必须一致。

4.8.3 表贴元器件共面度要求

共面度定义:以零件的三个最低的引脚形成的平面为基准面,其余的引脚与之比较而得到的最大偏差。

4.8.4 需要在贴片前烧录加载软件的器件,采用托盘或管式包装。

4.8.5 Tray托盘尺寸必须满足现有设备处理能力要求,最大的托盘尺寸:300mm X 200mm。

4.8.6 Tray托盘装零件料盘应有一切角,用以辨别装料方向。

4.8.7 SMT表面贴装的SMD元器件优先选用卷带(Tape/reel)包装。考虑到贴片效率,尽量不选用Tray托盘装和管状包装。

4.8.8 卷带前部无元器件部分长度至少为450mm,尾部无元器件部分长度至少为40mm,方便贴片机装料。

4.8.9 插件元器件优先选用卷带包装。 尽量不要选用散装包装。


SMD表贴元器件同一产品不同管脚站立(翘起)高度差<0.10mm。

4.8.10 表贴器件尺寸和重量

表贴器件尺寸范围要求:

0.8mm×0.6mm×0.38mm  ≤L(长)×W(宽)×H(高)  ≤15.75mm×20.45mm×4.8mm。

表贴器件重量应小于 6.5 克,器件重量与顶部贴片机吸嘴可吸附面积比小于 0.6g/m㎡。

4.8.11 引脚间距要求

引脚间距定义:元器件相邻引脚中心线之间的距离。 以下为封装器件引脚间距范围,供参考。

a)SOT 系列: 0.35mm<引脚间距<2.3mm; 

b)SOD 系列:0.95mm<引脚间距<3.7mm; 

c)TO 系列:   1.27mm<引脚间距<5.45mm; 

d)FBP 系列:    0.56mm<引脚间距<1mm;

4.9   静电防护要求

4.9.1 静电敏感等级

静电敏感器件的静电敏感等级要明确,ESD 等级分类见下表; 

器件ESD等级分类(HBM&MM)参考标准:IEC61000 JESD22-A114 EIA-625

级别

静电敏感度(单位:V)模式

I

0~1999

HBM

II

2000~3999

III

4000~15999

非敏感

≥16000

A

0~200

MM

B

200~400

C

≥400

注:表中未列的器件依照其引脚涂层类型,结合表<附录A>确定。


ESD静电敏感器件等级(HBM)  参考标准:JESD22-A114  EIA-625

ESD级别

静电敏感度(单位:V)模式

0级

0~249

HBM

1A级

1B级

1C级

250~499

500~999

1000~1999

2级

2000~3999

3 A 级

3B级

4000~7999

8000~15999

非敏感

≥16000

常见器件的静电敏感电压和 ESD 等级分类见 引用参考标准 所示,供应用时参考。参照 IEC 标准 IEC61000-4-2 和 JEDEC 标准 JESD22-A114。

4.9.2 防静电要求

必须采用防静电材料包装静电敏感器件,且要在包装上标注防静电标识,同时,注明该器件的静电敏感等级或静电敏感电压。

常用的防静电标志见下图 

对于防静电要求过于严格的器件,即静电门限电压在 100V 以下, 一般不推荐,如有特殊情况,请务必通知公司相关部门,采取特殊的防静电措施。

其余防静电要求请参见 EIA-625 相关内容。


4.10  湿敏器件要求

4.10.1 资料要求

湿敏器件资料中要注明潮湿敏感器件的存储条件、存储期限、器件受潮后的处理方法、 注意事项等相关信息。

4.10.2 湿敏器件等级

为确定元器件防潮措施,器件厂家应在元器件资料中标明器件的潮湿敏感等级。 一般而言,所有的塑封表面贴装器件,如 SOT、SOD、FBP 等,都属于湿敏器件。 潮湿敏感器件等级划分在附录 B 中进行了规范。参照 JEDEC 标准 J-STD-020。

4.10.3 包装要求

潮湿敏感等级MSL为 2 级以上的器件须采用防潮、防静电包装袋真空包装,且必须在包装袋内加干燥剂,同时,需在包装袋上注明该器件属于潮湿敏感器件和潮湿敏感等级、警告标签和包装袋本身密封日期的标签。


潮湿敏感器件包装要求
湿敏等级12-5a6

防潮袋要求

无要求

MBB 要求(含 HIC)

特殊 MBB(含 HIC)

干燥剂要求

无要求

要求

特殊干燥剂

警告标签要求

无要求

要求

要求

说明:
a)  MBB: Moisture Barrier Bag,防潮袋。

b) HIC :Humidity Indicator Card,湿度指示卡。

湿度指示卡是一种涂有潮湿感应化学元素的 卡片,当相对湿度超出范围时,该卡片会由棕色转变为蔚蓝色。图 2 为湿度指示卡样本。HIC 须符合 MIL-I-8835 规范, 且有 5% RH, 10% RH,(20%RH,30%RH,40%RH,50%RH) 60%RH 3 个指示值。如潮湿度显示超过 10%,生产前需要进行烘烤。

c) Moisture-sensitive  device warning  labels ,MSD  警示标签。警示标签要求符合 JEDEC JEP113 标准。

湿度指示卡样本


MSD警示标签样本

4.10.4 烘烤注意事项

高温烘烤应确保包装材料经得起 125℃ 的高温。装在低温料盘(如卷盘、料管、卷带)

内的器件烘烤温度不能高于 40℃, 否则料盘会损坏;建议更换耐高温料盘进行烘烤。

4.10.5 MSL 测定的流程

(1) 良品进行 SAT,确认没有脱层的现象。

(2) 将产品烘烤,以完全排除湿气。(烘烤条件:125℃,24h)

(3) 依 MSL 等级加湿。(即浸透试验)

(4) 过 IR-Reflow 3 次 (模拟产品上件,维修拆件,维修再上件)。

(5) SAT 检验是否有分层现象及测试产品电性功能。 若能通过上述测试, 代表产品封装符合 MSL 等级。

MSL 试验主要考核绿色塑封料产品,普通塑封料产品不作要求。绿色塑封料 SOT/SOD 小功率产品(除 SOT-89 为 MSL3)均为 MSL1 。MSD 等级主要取决于元件的制作工艺、体积、所应用的制程温度等。


4.11      清洗要求

4.11.1 元器件要求

元器件资料上应注明器件是否能够清洗。

如果元器件可以清洗,要指明可以使用的哪些清洗方法,适用哪类清洗剂,使用何种清洗工艺;常用的清洗方法有:手工清洗、浸洗、喷淋、超声波清洗等; 需对是否能进行超声清洗进行特别说明。并需要说明清洗后,是否需要烘干以及对烘干工艺有何要求等。

4.11.2 清洗剂要求

清洗剂与元器件封装体上的印记在化学性能上要求兼容,不允许损坏器件的印记信息。


4.12  元器件包装和存储要求

4.12.1 运输和存储要求

公司对所有元器件的运输和存储环境要求见下表:

元器件的运输和存储环境要求
环境
要求

温度

5℃~40℃

相对湿度

30~80%

二氧化硫平均含量

≤0.3mg/m3

硫化氢平均含量

≤0.1mg/m3

4.12.2 包装要求

4.12.2.1表贴元器件包装类型要求

表贴元器件优先选用卷带式包装,或管式包装,以及盘式包装。 

4.12.2.2卷带式包装无器件长度要求

为方便贴片机装料,要求卷带前端无元器件部分长度至少为 20cm,尾端无元器件部分长度至少为 40cm。

4.12.2.3敏感器件包装要求

敏感器件的包装卷带需要满足 40℃、RH≤5%条件下烘烤 192 小时以上烘干要求。对于有 ESD、MSD 有要求的,要求在包装体外标注专用的 ESD、MSD 标识。

对于无铅元器件,要求在包装体外标注专用无铅的标识。下图为无铅产品的标签样本。

4.12.2.4 包装尺寸要求

所有元器件均要求按照国际通用标准(如 EIA、IEC、JEDEC 等)规定的包装尺寸参数进行包装。


4.13  元器件兼容替代的规定

原则上,对元器件的管理必须是“一物一码”,即同一代码下的元器件必须是功能、封 装尺寸完全兼容。考虑到一些特殊情况,对可兼容的元器件和作了设计可视作“完全”兼容元器件的条件作如下规定。

4.13.1 可作兼容替代元器件的条件

a) 对插装元器件,引脚间距尺寸与所选国际标准一致,引脚尺寸直径比所选国际标准小且小的幅度不超过 0.2mm,可作为兼容替代元器件使用;

b) 对贴片器件,只要引脚中心距、引脚数与所选国际标准一致,可作为兼容替代元器件使用(也就是说允许引脚长度尺寸有所变化,但必须经过审核通过,方可以视作兼容);

4.13.2 作了兼容设计可视作“完全”兼容元器件使用的特殊情况

没有国际标准支持的特殊器件,封装尺寸相差很大,但在 PCB 上作了兼容设计,可作为同一代码使用。此类情况,需进行兼容封装评审和兼容焊盘的设计。


4.14  资料信息要求

对于资料信息,除具备电气、上述内容要求外, 需要特别指出的信息要包含或部分包含以下内容:

a) 封装类型;

b) 器件材料信息(如,封装材料、引脚材料、焊球的成分);

c) 外引线镀层及镀层制作工艺;

d) 元器件封装所遵循的标准(EIA、JEDEC、IEC 还是 EIAJ); 

e) Layout 信息(元器件外形尺寸,推荐的焊盘数据等信息);

f) 组装工艺信息(温度曲线、静电要求、可焊性信息、潮湿敏感元器件的等级、存储条件、存储期限以及元器件受潮后的处理方法及注意事项等)。


附录 A(资料性附录)常见器件的静电敏感度
常见元器件的静电敏感度-参考标准:IEC61000 JESD22-A114
器件类型静电敏感度(单位:V)级别和静电敏感度范围

MOSFET

100~200

I级

JFET

140~1000

I级

CaAsFET

100~300

I级

CMOS

250~2000

I级

HMOS

50~500

I级

E/D MOS

200~1000

I级

VMOS

30~1800

I级

PROM

100 

I级

EP-ROM

100~500

I级

SCHOTTKY DIODES

300~2500

I级/Ⅱ级*

SAW

150~500

I级

0PAMP

190~2500

I级/Ⅱ级*

N-MOS

60~500

I级

ECL电路

300~2500

I级/IⅡ级*

SCL(可控硅)

680~1000

I级

ECL

500~2000

I级

S-TTL

300~2500

I级/Ⅱ级*

DTL

380~7000

I级/IⅡ级/II级

石英及压电晶体

<10000

Ⅲ级*

注:*为多种可能,具体静电敏感程度,要由厂家给出。

器件 ESD 等级(HBM)标准见下表

ESD静电敏感器件等级(HBM)  参考标准:JESD22-A114  EIA-625

ESD级别

静电敏感度(单位:V)模式

0级

0~249

HBM

1A级

1B级

1C级

250~499

500~999

1000~1999

2级

2000~3999

3 A 级

3B级

4000~7999

8000~15999

非敏感

≥16000


参照 JESD22-A114 标准如下:


参照 IEC61000-4-2 标准,器件 ESD 等级(CM & AM)标准见下表

附录 B(规范性附录)潮湿敏感器件等级标准

潮湿敏感器件包装要求

器件类型

焊端表面涂层
包装要求
电阻、电容、无引线芯片载体
SnPb(底层为Ni)
无特殊要求
Au(底层为Ni)
无特殊要求
AgPd, AgPt
无特殊要求
Ag
真空包装, 干燥剂防潮
LSI IC
SnPb, Pd(底层为Ni)等
无特殊要求
ULSI, VLSI(塑料封装)
真空包装, 干燥剂防潮

MODULES(双工器, 功率模块, VCO等)

无特殊要求



潮湿敏感器件等级标准-参考标准:J-STD-020
潮湿敏感等级拆封后存放条件拆封后存放期限

1

≤30℃/85%RH

无限制

2

≤30℃/60%RH

一年

2a

≤30℃/60%RH

4 周

3

≤30℃/60%RH

168 小时

4

≤30℃/60%RH

72 小时

5

≤30℃/60%RH

48 小时

5a

≤30℃/60%RH

24 小时

6

≤30℃/60%RH

标签时间(6 小时)

参照 JEDEC 标准如下:


附录 C(规范性附录) 助焊剂分类标准

助焊剂分类标准-参考标准:J-STD-004 焊接助焊剂的要求
焊剂(主要)组成材料

焊剂活性水平(含卤素量%)  Flux Activy Level(%Halide)

焊剂类型  Flux Type

焊剂标识(代号) Flux Designator

Flux Materials of composition

松香 Rosin(RO)

Low(0.0%)

L0

ROL0

Low(<0.5%)

L1

ROL1

Moderate(0.0%)

M0

ROM0

Moderate(0.5-2.0%)

M1

ROM1

High (0.0%)

H0

ROH0

High (>2.0%)

H1

ROH1

树脂 Resin(RE)

Low(0.0%)

L0

REL0

Low(<0.5%)

L1

REL1

Moderate(0.0%)

M0

REM0

Moderate(0.5-2.0%)

M1

REM1

High (0.0%)

H0

REH0

High (>2.0%)

H1

REH1

有机酸 Organic(OR)

Low(0.0%)

L0

ORL0

Low(<0.5%)

L1

ORL1

Moderate(0.0%)

M0

ORM0

Moderate(0.5-2.0%)

M1

ORM1

High (0.0%)

H0

ORH0

High (>2.0%)

H1

ORH1

无机酸 Inorganic(IN)

Low(0.0%)

L0

INL0

Low(<0.5%)

L1

INL1

Moderate(0.0%)

M0

INM0

Moderate(0.5-2.0%)

M1

INM1

High (0.0%)

H0

INH0

High (>2.0%)

H1

INH1

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