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Hot:Impact Safety, Reliability and Quality Warm:Deviate from normal production & test process which result in added cost Cold:Minor DFl violation, no impact to cost. Consider for design improvement on future design.
热:安全性、可靠性和质量受到致命性冲击; 暖:偏离正常的生产和测试过程,导致成本增加; 冷:轻微违反DFM,对成本几乎没有影响。 考虑在未来设计中改进设计。
H/W/C | Comment | ||
1.1 | SMT | ||
1.2 | PTH | ||
1.3 | Assemble | ||
1.4 | Testing | ||
1.5 | Packing | ||
1.6 | Cost | ||
2.0 DFM (Design for Manufacture) - SMT | |||
H/W/C | Comment | ||
2.1 | Manufacture DCC | ||
2.2 | PCBA Process | ||
2.3 | PCBA Layout | ||
2.4 | Component Review | ||
3.0 DFM (Design for Manufacture) -DIP | |||
H/W/C | Comment | ||
3.1 | Cable | ||
3.2 | Connector | ||
3.3 | Incoming Material | ||
3.4 | Glue | ||
3.5 | Manual Soldering | ||
3.6 | LCM | ||
3.7 | PCBA Hieght | ||
3.8 | PCBA Layout | ||
3.9 | Housing | ||
3.10 | Housing and component assembling | ||
3.11 | Screw | ||
3.12 | Connector | ||
3.12 | Shield review | ||
4.0 DFR (Design for Repair) | |||
H/W/C | Comment | ||
4.1 | Flash IC | ||
4.2 | Shielding Cover | ||
4.3 | Power | ||
4.4 | Tool | ||
4.5 | FW | ||
4.6 | Circuit Design Control Pin | ||
4.7 | Coverage | ||
4.8 | Circuit Design - Crystal | ||
4.9 | Circuit Design - Power Circuit | ||
4.10 | ESD | ||
4.11 | I^2C | ||
4.12 | FPY | ||
4.13 | LCM | ||
5.0 DFQ (Design for Quality) | |||
H/W/C | Comment | ||
5.1 | RoHS | ||
5.2 | OBA/CQA | ||
5.3 | Safty | ||
5.4 | Reliability | ||
5.5 | Cosmetic | ||
5.6 | Component | ||
5.7 | Process | ||
5.8 | FPY | ||
6.0 DFT (Design for Testing) | |||
H/W/C | Comment | ||
6.1 | Battery | ||
6.2 | Test Fixture | ||
6.3 | Layout of the testing point | ||
6.4 | Testing point placemenet | ||
6.5 | Testing point's diameter | ||
6.6 | Testing point sharp | ||
6.7 | The distance between testing points | ||
6.8 | Double Side requirement | ||
6.9 | PCB locoation fixed point | ||
6.10 | Testing equipment | ||
6.11 | Testing program | ||
6.12 | Document | ||
6.13 | FPY |
Item | Desing for Assemble Requirements | |
1 | PIE-SMT | 双面制程的PCBA一面零件过少时,须要求改为单面板 |
2 | Panel置件C.T.应为40s左右 | |
3 | 炉后AOI是否与炉后目检合并 | |
4 | 双面板的排板为阴阳板 | |
5 | PIE-PTH | Shielding Cover设计为单件式 |
6 | 产品要求裂片﹐而非铣刀锣孔 | |
7 | 要求固定Logo需要印刷在PCB上 | |
8 | 要求用其它Label取消HH Label | |
9 | 取消ICT测试 | |
10 | 没有GO/Nogo测试 | |
11 | 产品不需要额外的点胶 | |
12 | 没有SMT_TU站扫描 | |
13 | shielding cover 材质优先使用洋白铜 | |
14 | 零件不允许有手工弯脚 | |
15 | 散热片是否使用定位柱 | |
16 | PIE-ASSY | 容易组装,不需要过多治具辅助﹐便于作业及cost down 成本 |
17 | 容易拆卸,不需要过多治具辅助﹐便于作业及cost down 成本 | |
18 | 螺丝孔的位置不要被阻碍 | |
19 | PCB不需要用螺丝单独将其上下盖固定,而是采用定于柱固定 | |
20 | 螺丝尽量使用相近的转矩 | |
21 | 是否使用模块化生产,方便作业﹑cost down工时﹑节约人力 | |
22 | 不需要手焊跳线﹐如有﹐需要求从设计上更改PCB线路 | |
23 | PIE-Test | 测试项目须最经济,工时最简化 |
24 | 所有Function Test完成后才进行组装,以免不良品回流时不易拆卸housing﹐造成物料报废 | |
25 | T 阶没有测试,测试站全部在一阶,便于产品重工回流测试 | |
26 | 测试计算机/显示器是否一对多利用,可以节约机台 | |
27 | 测试治具设计便于作业,是否导入自动测试治具,因手动治具测试浪费时间﹑人力 | |
28 | 测试是否自动上抛SFIS,以防止漏测或刷错产品﹐及追溯测试记录 | |
29 | PIE-Pack | Label没有贴在产品两面,以免不方便人员粘贴及检查 |
30 | Label粘贴位置与尺寸大小的匹配是否合理 | |
31 | Label的粘贴位置没有过于严苛的要求,避免不必要的对齐动作 | |
32 | 同一面Label的字体方向要求粘贴一致 | |
33 | label没有盖住螺丝,以免拆卸时报废label | |
34 | 附件为附件包形式 | |
35 | 附件是否全部都有barcode可供扫描﹐避免附件有多放﹑漏放现象 | |
36 | PE袋的尺寸是否与产品匹配,(以免尺寸过小装不进或过大浪费材料费用) | |
37 | PE袋是否选用cost最低的材料(除客户特殊要求),材料cost降次顺序(静电袋/气泡袋/塑料薄膜袋), | |
38 | 商业包装﹐设计方式最优﹐(从优到劣顺序﹕1.为蛋壳设计﹐2.隔板要求与BOX连体﹐3.不需要多次折叠隔板) | |
39 | 工业包装﹐是否为tray包装 | |
40 | 外盒/外箱的设计与产品的尺寸大小需匹配 | |
41 | 缓冲包材设计是否选用cost最低的材料﹐材料cost从高到低顺序(防静电泡棉/纤维泡棉 /气泡垫) | |
42 | BOX 是否选用cost最低的材料﹐材料cost从高到低顺序( 彩色纸盒/ 白色纸盒/瓦楞纸盒) | |
43 | BOX固定logo是否印刷在Box上, | |
44 | 装Carton时Box label均朝上方,减少check动作﹐节省工时 | |
45 | Carton 设计是否为最优化﹐利用空间,以降低包装及运输成本 | |
46 | Carton是否选用cost最低的材料,材料cost从高到低顺序(塑料箱/木箱/纸板/ 硬纸板箱/瓦楞纸箱), | |
47 | 栈板尺寸要求最优化﹐能最大利用集装箱空间,以降低包装及运输成本 | |
48 | 栈板面积利用率达到标准(95%以上)﹐以降低包装及运输成本 | |
49 | 栈板要求是否选用cost最低的材料,材料cost从高到低顺序(塑胶栈板/胶合板/木栈板) | |
50 | 装栈板时所有carton label均朝外,便于扫描作业 | |
51 | 栈板在集装箱内的摆放为达到空间最大利用率﹐降低包装及运输成本 | |
52 | 栈板在集装箱内的摆放方式方便叉车作业﹐减少动作浪费 | |
53 | PIE-cost | SI线平衡超过90% |
54 | 线体布局合理,不需要专门的转板人力 | |
55 | MOH 合理(<3.5%) |
Item | Desing for Assemble Requirements | |
1 | 制造文件 | 产品版本履历表正确 |
2 | BOM内有建PCB料号 | |
3 | SOP内有指定锡膏, 与用量 | |
4 | BOM及零件置放位置图包含所有元件(含手摆) | |
5 | 排板图及流板方向完整正确 | |
6 | PCB 公差定义正确.(捞孔:+/-0.25mm. V-Cut:+/-0.25mm) | |
7 | PCBA Process | 零件选用必须可100%过reflow,可机器贴装, 不可有手焊/手摆零件 |
8 | 零件Profile是否满足制程Profile要求(至少要审核peak温度﹐Reflow 温度及 Preheat温度三个参数) | |
9 | 共享PAD设计不影响銲锡性 | |
10 | PCB上NP固定孔无绿漆油墨堵塞而影响上件 | |
11 | PCBA Layout | PCB 版本正确 |
12 | PCB mark点设计合理 | |
13 | PCB 丝印清晰﹐大小合适 | |
14 | PCB有连板号﹐且未被遮挡 | |
15 | PCB 在轨道上搬送顺畅 | |
16 | PCB Routing的位置和长度合理 | |
17 | PCB V-cut深度合理(PCB厚度>=1.2mm,中间V-cut t= 1/3 PCB厚度) | |
18 | 零件距轨道传送边间距(Bottom>5mm,Top>4mm) | |
19 | 铜箔距板边间距>0.5mm | |
20 | 零件之间间距合理(参考零件间距表) | |
21 | PCB对应层残铜率差异<15% | |
22 | PCB过炉后无板弯 | |
23 | V-cut/ routing 应力小于 500ustrain | |
24 | PCB板上PAD旁via holes无因露铜或沾锡导致抢锡 | |
25 | 化银板PCBA空PAD 需盖绿漆(除测试PAD) | |
26 | Via Hole塞孔盖绿漆(除测试点) | |
27 | BGA上的via hole 被塞孔时,不会导致抢锡、空焊 | |
28 | Via Hole未设计于裸铜与非裸铜区中间 | |
29 | Via Hole塞孔设计时,孔径不大于16mil | |
30 | Via Hole边缘离PAD边缘至少8mil,且中间以绿漆隔开 | |
31 | Micro via成品孔径小于5mil | |
32 | ICT测试点与DIP/SMT零件Pad之距离至少保持1.0mm | |
33 | 高频测试点信号PAD之间距离大于0.7mm | |
34 | 零件距金手指间距边缘大于4mm | |
35 | PCB金手指有导角设计 | |
36 | PCB金手指无防銲绿漆存在 | |
37 | Component review | 无极性零件未被设计成有极性(如shielding cover的pin脚设计成非对称性) |
38 | 接触性零件有防flux /防爬锡设计 | |
39 | 零件pin脚无因选材不当导致pin脚氧化,抗焊之现象 | |
40 | PCB定位孔比零件定位pin大0.3mm. | |
41 | Connector pin与footprint搭配合理 | |
42 | Connector 有防爬锡设计 | |
43 | Connector 过炉后无爬锡(过2次炉) | |
44 | connector 接触区无爬锡现象 | |
45 | Connector 距捞孔处有2mm间距以防粉尘 | |
46 | pin in paste Connector孔的设计(孔比pin大0.3mm,伸出PCB0.5-0.8mm) | |
47 | pin in paste Connector ring的宽度8-12mil | |
48 | shield frame&一件式shield 材质建议用洋白铜 | |
49 | shield frame&一件式shield 厚度≧0.2mm | |
50 | shield frame 需最少有6*6mm吸着面积 | |
51 | 定位孔边缘距外部pad至少保持0.65 mm | |
52 | Tooling pin采用2根非对称且导圆角设计﹐上端尺寸设计为0.7mm(或0.5mm),下端为0.3mm(导圆角R=0.25mm) | |
53 | 四方形一件式shield可取消定位pin设计,但shield pad特殊设计且ME确认 | |
54 | 一件式shield 需最少有4个直径为1mm的分布规则的孔 | |
55 | 非Module设计时shield frame/cover外侧与零件pad≧0.5mm | |
56 | Module设计时, shield frame/cover外部pad与板边至少1.0 mm | |
57 | shield frame/cover内部SMD零件与空PAD至少保持0.5 mm防止短路. | |
58 | 零件pad距shield pad内侧间距最少16mil,且需考量二者的实际间距 | |
59 | shield frame/cover pad 采用分段式设计,每4mm 长度以0.5mm 绿漆隔开 | |
60 | shield frame/cover pad宽度最少为0.6mm | |
61 | shielding frame/cover 有明显方向标识(SMT或组装时不容易反向)﹐且有防呆设计(若方向不对则无法生产或很容易检出)。 | |
62 | shield与其内零件无干涉﹐间距应≥0.4mm(中心值), 且理论最小间距应 ≥0.2mm(同一料号所有供应商均需Review) | |
63 | transformer需有定位pin,且孔的直径比pin直径大0.3mm | |
64 | transformer footprint 与 lead 匹配 |
Item | Desing for Assemble Requirements | |
1 | Cable | 确保cable 线的长度在组装时不会干涉其它零件 |
2 | cable线需要有走向引导机制 | |
3 | Connector | Connector 必须要有shroud以防止pin脚偏移 |
4 | 接口处有无防呆机制无法插反 | |
5 | Incoming | Housing 来料包装方式是否使用防刮伤措施(1.使用Tray包装. 2. Housing 外观采用保护薄膜) |
6 | 胶 (Glue) | 胶的用量是否正确.(胶的用量称30pcs,取平均值,加上损耗5%) |
7 | 点胶高度不可与组装产生干涉 | |
8 | 胶体是否符合制程要求并得到客户认可 | |
9 | 点胶零件必须离金手指8mm, 离PCB板边3mm | |
10 | 胶的特性是否符合环保要求 | |
11 | 手焊制程 (manual soldering | 是否没有手焊零件 |
12 | 零件耐温规格是否符合手焊制程要求。 | |
13 | 零件脚pitch与PCB孔pitch是否匹配。 | |
14 | 零件脚长度规格是否符合零件限高要求。 | |
15 | 手焊零件距离与其它零件距离是否大于1mm。 | |
16 | LCM | PCB的焊接点要有定位功能 |
17 | PCBA | TOP面最高零件高度是否符合限高要求。 |
18 | BOT面最高零件或零件脚是否符合限高要求。 | |
19 | PCBA Layout | 无极性零件未被设计成有极性(如shielding cover的pin脚设计成非对称性) |
20 | 接触性零件是否有防flux /防爬锡设计 | |
21 | 零件pin脚无因选材不当导致pin脚氧化,抗焊之现象 | |
22 | 成型零件电阻/电容/LED是否使用Reel 包装 | |
23 | 零件成型后,是否有防倾斜功能 | |
24 | PCB螺丝孔大于4个时,螺丝孔仅留一孔为圆形孔定位, 其余为椭圆形, 椭圆形长经为圆孔加1mm | |
25 | DIP 2pitch 电解电容ring 之间距离不可大于0.88mm | |
26 | ICT测试点与DIP/SMT零件Pad之距离至少保持1.0mm | |
27 | 零件与螺丝孔之间间距是否大于2mm. | |
28 | 两PAD 间距小于0.7mm Connector 与功率晶体是否有加盗锡PAD. | |
29 | 大铜面零件, 每一层铜箔层Ring pad 是否为十字型设计. 或C型设计. | |
30 | 轨道边的DIP零件距离与PCB板边不可小于3mm, 其它边的DIP零件PAD距离与PCB板边保持1mm. | |
31 | 板边零件与板边距离是否大于3mm | |
32 | Label 是否黏贴在pcb TOP 面 | |
33 | 零件pin脚直径是否与pcb 孔相符合. | |
34 | 散热PAD离DIP零件距离是否大于5mm. | |
35 | 手焊零件距离与label 距离是否大于10mm. | |
36 | 排插零件PAD为though hole 是否使用椭圆孔 | |
37 | 高频测试点信号PAD之间距离是否大于0.7mm | |
38 | PTH Ring 小于0.8mm, PAD是否增加盗锡PAD | |
39 | DIP件三面以上存在SMT零件距离必须大于5mm | |
40 | Pitch公差大于0.4mm之DIP件是否开设椭圆孔 | |
41 | DIP件Pitch﹑排距与PCB孔间距﹑排距是否匹配 | |
42 | PCB 公差定义是否正确.(捞孔:+/-0.15mm. V-Cut:+/-0.25mm) | |
43 | Housing | PCBA组于Housing上是否有导向柱。 |
44 | 建议机壳与面板背板选择不易刮伤的材质或使用保护膜局部保护 | |
45 | Housing组装须考虑到是否可用卡勾是否利于减少组装动作。 | |
46 | 尽量减少Housing锁螺丝的个数。 | |
47 | Housing拆卸不会造成零﹑组件的报废。 | |
48 | HOUSING 与各零部件组装 | PCBA板的支撑点是否在同一平面上。 |
49 | 建议Housing的Boss与PCBA的零件在Boss径向距离不可大于2mm。 | |
50 | 建议Housing的Rib与PCBA上的零件距离是否大于2mm。 | |
51 | 建议Housing的导光柱与LED的距离大于1mm。 | |
52 | Housing的导光柱对正LED,无偏出LED本体的1/4。 | |
53 | Housing的功能按钮机构与PCBA零件无干涉。 | |
54 | PE袋是否刮伤Housing | |
55 | 天线不可贴在Housing 上 | |
56 | Housing的卡勾与PCBA零件无干涉。 | |
57 | Housing 组装后,上盖boss与下盖boss之间gap是否保持pcb板的厚度(中心值). | |
58 | Housing 定位孔=定位柱+0.2mm.定位柱高度=PCB厚度-0.2mm for plastic cover. | |
59 | Housing上BOSS之外径是否为螺丝直径的2~2.5倍。 | |
60 | 机械螺丝与自攻螺丝锁入Boss 有效长度是否小至3牙。 | |
61 | Housing 所有机构设计与SMT零件PAD距离是否保持1mm。 | |
62 | SMT零件顶部距离与Housing Gap 距离至少保持1mm。 | |
63 | DIP零件顶部与侧面距离Housing Gap 至少保持1mm。 | |
64 | Connector(DC Jack ,RJ45, RJ11, USB接口) 外凸不可超出Housing外缘 1mm。 | |
65 | 建议Housing与 Tact Switch距离为0.3~0.5 mm. 若按键与表面同面时采用0.3mm,若按键高于表面2mm时可采用0.5mm。 | |
66 | 组装过程中上﹑下盖相对运动不会造成Housing上的Rib/BOSS/导光柱与PCBA上零件干涉。 | |
67 | Housing锁附后,产品无异响﹑PCBA板无晃动 | |
68 | Screws | 建议螺丝种类不超过3种但客户指定如security screw不再此限 |
69 | 所有螺丝旋转方向须一致 | |
70 | 螺丝公差配合合理(长度恰当﹐不可过长或过短.) | |
71 | 螺丝的硬度是否符合要求 | |
72 | 螺丝孔3mm附近必须无零件以防止打螺丝时把零件损伤或撞损。 | |
73 | Connector | PCB 防焊无脱落或剥离问题,不会造成SMT锡垫锡量不足或短路现象 |
74 | PCB上NP固定孔无绿漆油墨堵塞影响上件 | |
75 | PCB板PAD旁via holes无因露铜或沾锡导致抢锡 | |
76 | via hole 被塞孔时,不会导致抢锡、空焊 | |
77 | 若为CM机种,review 所有DIP 零件耐温规格是否符合制程要求 | |
78 | Connector机构设计是否合理 | |
79 | Connector pin与footprint搭配是否合理 | |
80 | PCB金手指是否有导角设计 | |
81 | shield review | 材质:Frame/cover皆使用洋白铜(不电镀) |
82 | Layout: frame/cover pad 长度:分段式设计,每4mm 长度以0.5mm 绿漆隔开 | |
83 | Layout: 定位孔边缘外部至少保持0.65 mm的PAD. | |
84 | Layout: frame/cover内部至少保持0.3 mm的PAD. | |
85 | Layout: frame/cover内部SMD零件与空PAD至少保持0.5 mm防止短路. | |
86 | Shielding cover 内部零件不可与Shielding 产生干涉 | |
87 | Cover: 是否开散热孔 | |
88 | Tooling pin是否采用2根非对称导圆角设计﹐上端尺寸设计为0.7mm,下端为0.5mm(导圆角R=0.25mm) | |
89 | Shielding Frame 或者 shielding cover 是否有明显方向标识(SMT或组装不容易反向)。 是否有防呆设计(即使方向不对无法生产或者很容易检出)。 | |
90 | 重点Review铁盖内零件与铁盖是否发生干涉﹐且铁盖内零件距铁盖间距应≥0.5mm(中心值), 并且理论最小间距应≥0.2mm(同一料号所有供应商均需Review) |
Item | Desing for Assemble Requirements | |
1 | Flash IC | IC可直接在板子上重烧 |
2 | 未集成在BGA中(并非为OTP=one-time programmable) | |
3 | Shielding Cover | Shielding Cover可打开上盖,便于维修 |
4 | 屏蔽盖下面的零件位置设计便于维修作业 | |
5 | Power | 输出电压必须要有明确标示 |
6 | 震动时adaptor与产品接触处不易断电 | |
7 | Fuse设计是否合理(用两种方法计算) | |
8 | TOOL | 维修时不需要特殊的工具 |
9 | FW | 不同版本的FW是否有不同checksum值 |
10 | 烧码时间应该小于5分钟 | |
11 | Circuit Design-Control pin | 所有IC输出控制pin是否能被设定成高或低以允许测试时可以把产品关闭 |
12 | 如需要时是否可通过电阻调节电压高低来控制数位IC的输出信号 | |
13 | 产品无因设计问题导致不易维修的地方 | |
14 | 拆卸点胶BGA时不易导致PCBA报废 | |
15 | Test coverage是否够(Critical component coverage 是否大于 80%) | |
16 | Coverage | 无多余的参数需测试?(以相同或者类似机种参考) |
17 | The crystal loop design: whether the |-R︱≧5 ESR (晶振设计是否满足晶振最佳起振条件﹕|-R︱≧5 ESR ) | |
18 | Circuit Design-Crystal | 产品频偏Cpk必须大于1.33 |
19 | 是否可抵抗测试环境噪音(如马达运转时对电源的噪音),如果不可,是否有给出解决方案 | |
20 | Circuit Design-电源电路 | 输出电压未接近输入零件的电压规格上限 |
21 | Switching IC (PWM频率一般在300K Hz左右)﹐未直接连Tuner输入pin (会对Tuner的IF信号(36M Hz)造成干扰), | |
22 | Regulator 的 Vout- Vin不能太大,以减少能耗. | |
23 | USB ESD保护IC外围电路设计是否与零件标准应用电路匹配 | |
24 | ESD | 是否未使用ESD HBM< 100 V 之零件 |
25 | ESD HBM<300 V 之零件在SMT生产中是否有做管控? (如: reel 包装ESD 敏感元件需要加离子风枪) | |
26 | PA&T/R SW 等ESD敏感元件是否加有保护 | |
27 | SDRAM 的速率需大于CPU的速率(否则轻微出现测试不顺畅﹐严重出现测试fail) | |
28 | I^2C | I^2C电路的PU or PD 电路是否合理 |
29 | FPY | 无设计问题影响良率 |
30 | ETE直通率是否达标(> 90%) | |
31 | LCM | LCM组装, 拆卸不会造成LCM与主板的接触性不良 |
32 | Inverter必须集成在LCM panel里 |
Item | Desing for Assemble Requirements | |
1 | ROHS | BOM中所有零件符合ROHS要求; |
2 | 未使用新的副资材管控(会增加新的认証成本) | |
3 | 没有比ROHS标准更严格的要求(会增加新的认証成本) | |
4 | OBA | 是否拿到客户PRD |
5 | OBA测试工时在合理的范围内 | |
6 | 新产品特性是否提供OBA测试程序并由SFIS cover | |
7 | OBA测试无需转换模式(出厂模式转为工厂模式) | |
8 | 产品测试时不可影响其测试治具的使用寿命 | |
9 | 所测试port是为防呆设计,避免人员插错插反 | |
10 | 测试项目以及涵盖率合理 | |
11 | 全新的测试治具(板)是否提供 Golden Sample | |
12 | OBA 测试是否与客户测试或者最终用户使用之测试相同 | |
13 | 天线头公母座搭配是否良好 | |
14 | wifi throughput是否有列入到OBA测试 | |
15 | 全新技朮机种是否提供test plan | |
16 | OBA test Driver是否及时提供 | |
17 | 提供read EPPROM命令可以读出MAC﹐ F/W, SSID等信息 | |
18 | Safety | 是否通过所出货地的相关认証(A400-->A500时) |
19 | 测试/组装过程中作业员有被电击风险 | |
20 | 保险丝不易造成烧机 | |
21 | Reliability | ORT test plan 是否经过客户approve |
22 | 机构设计可靠性测试是否pass | |
23 | 包材可靠度测试是否可Pass | |
24 | Function(功能)可靠度测试是否可Pass | |
25 | Cosmetic | 客户特殊要求是否可以做到 |
26 | 客户特殊要求是否已导入到生产 | |
27 | IPC-A-610检验项目是否可执行 | |
28 | 量产前完成Key parts IQC检验标准及SIP的制定。 | |
29 | 外观检验项目Cover是否全面﹐SOP是否定义清楚 | |
30 | Component | 是否新机种key parts list定义 |
31 | 完成新机种供应商制程确认 | |
32 | 量产前完成确认新机种key parts PPAP资料 | |
33 | NPI阶段限量版的样品或限度样品确认 | |
34 | NPI阶段key parts进料是否经过IQC/SQE确认。 | |
35 | 量产前完成Key parts IQC检验标准及SIP的制定。 | |
36 | Cosmetic requirements are comfirmed (gap, surfaces, colors, paint, surfaces, etc.)外观检验标准的制定(间隙,表面处理,颜色,印刷等) | |
37 | Process | Label的材质与碳带搭配是否合理 |
38 | 无因Label材质问题导致不良率超标 | |
39 | FPY | Test Coverage Report 是否合理 |
40 | 良率是否可达到目标 |
Item | Desing for Assemble Requirements | |
1 | Battery | 震动时不容易断电 |
2 | 使用Battery之产品 或者出货至客户端电源为 Battery之产品是否有明确定义,是否需要测试消耗电流 (standby电流, working电流) | |
3 | Test fixture | Test fixture 应力 是否小于±400με(有特殊客户小于±225με) |
4 | 测试点布局 | 原则上,每一个NET至少须留一个测试点,未布放ICT点之零件,须标明于制造文件中 |
5 | 如无法百分之百布放ICT测试点,则在功能测试未涵盖零件区优先布放测试点 | |
6 | 功能测试之保护线路须优先布放测试点 | |
7 | 测试点位置 | 铜箔露铜部份﹐测试点需喷锡 |
8 | Through hole 若当测试点﹐不可盖绿漆 | |
9 | 测试点直径 | 测试点直径标准为30 mils, 最小直径为24 mils, |
10 | PAD接触性是否良好 | |
11 | 测试点形状 | 测试点形状是否为圆形﹑正方形或菱形 |
12 | 测试点距离 | 测试点与点的间距最少为50mils |
13 | 测试点边与零件的距离最少距离是1mm | |
14 | 测试点应离板边或折边至少105mils | |
15 | DIP零件的空脚是否有可测试性(例如﹕孔径太大﹐PAD太小均不适合)否则须另拉测试点 | |
16 | 双面PCB需求 | 测试点尽量布局在同一面(因为双面治具成本加倍) |
17 | 若Through hole有盖油漆,须在Through hole旁加测试点 | |
18 | PCB定位孔要求 | 定位孔直径最好为 3.175mm,其公差在+.002”/-.001”,其位置应在PCB之对角 |
19 | 每一大片PCB须有2个以上定位孔,且孔内不可沾锡 | |
20 | 治具或设备 | 全新的测试治具(板)是否提供: Sample ﹑BOM﹑CAD file ﹑Gerber file﹑Schematics |
21 | 全新测试治具是否在系统中建立foxconn 料号 | |
22 | 是否提供新产品的Golden Sample | |
23 | 是否提供主要测试设备List | |
24 | 测试golden是否选用常用的产品 | |
25 | 产品测试时无指定特别的测试PC(客户特别要求除外) | |
26 | Connector 是否在PCB上预留测试点(至少预留烧码所需PIN点) | |
28 | Coupling antenna 测试是否提供特别耦合的antenna并提供相关测试验証报告文件 | |
29 | 测试软件 | 是否提供test tool﹑test program ﹑ SourceCode﹑test driver ﹑test item&spec 以及其它测试时需要的附加文件(f/w, Vxworks/sys file etc )(test program/SourceCode主要是原chip厂release的) |
30 | 自动test program 是否能够cover 每个test item&spec(原chip厂release 程序) | |
31 | 测试程序是否能在自动和手动模式下操作(原chip厂release 程序) | |
32 | 所有写的内容是否都有对应的command能够读出来double check | |
33 | 所有测试command都需有返回值(字符串) | |
34 | 能否实现产品在线烧码 | |
35 | 是否能通过指令来断开产品和计算机仪器的连接﹐减少产品突然断电导致自身变异 | |
36 | 具有WI-FI功能产品测试时,default 状态下RF function 是否为关闭的 | |
37 | 测试程序是否可以cover 不同版本之F/W | |
38 | 产品开机启动时间是否做到最短 | |
39 | 各测试站测试程序是否能自动上抛SFIS过站 | |
40 | 测试Fail产品程序能否发送SFIS系统自动打Fail | |
41 | 是否提供测试所需要的所有指令(参考附件SW command check list) | |
42 | 文件 | 提供产品的BOM﹑ Schematics (有ICT则需Gerber file ﹑CAD file) |
43 | 全新技朮机种是否提供test plan (包括test flow /test item&spec/calibrate方法 etc) | |
44 | 是否提供 test coverage report | |
45 | 特殊产品测试是否提供测试环境校验方法 | |
46 | 产品实际test spec是否与制造文件定义相符 | |
47 | 特殊golden是否提供校验方法 | |
48 | 只有一阶的产品在测试站是否只SCAN一个label | |
49 | FPY | 重测率是否达标 |
完结——以下无正文
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