μ（制程平均值）：制程输出数据的算术平均值。
σ（制程标准差）：制程输出数据的离散程度。
USL（Upper Specification Limit，规格上限）。
LSL（Lower Specification Limit，规格下限）。
收集数据：从制程中随机抽取一定数量的样本，并测量其关键特性值。 计算μ和σ：利用样本数据计算制程的平均值μ和标准差σ。 计算Cpu：Cpu（Upper Capability Index）：衡量制程上限与规格上限之间的距离，计算公式为(USL - μ) / (3σ)。 计算Cpl：（Lower Capability Index）：衡量制程下限与规格下限之间的距离，计算公式为(μ - LSL) / (3σ)。 计算Cpk：Cpk取Cpu和Cpl中的较小值，即Cpk = min(Cpu, Cpl)。这里的3σ是基于正态分布假设，即99.73%的数据点落在±3σ范围内。
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