Zeta电位现在已经成为衡量溶液中颗粒凝聚稳定性的一个重要指标，是反映溶液中颗粒表面电荷密度的指标，对乳液、凝胶、悬液等体系稳定性研究有重要指导意义。通常而言对于足够小的颗粒溶液体系（不考虑沉降效应），Zeta电位越大，体系中的颗粒越不容易团聚，体系的稳定性越好，通过Zeta电位的测试，得到不同环境，不同配方、工艺下的相对稳定性信息。
图1. 带电颗粒的电势分布
分散在极性分散液（如水）中的颗粒往往在表面携带一定量电荷，这些电荷会使颗粒在溶液中形成一个超过颗粒表面界限的双电层。颗粒的电势在颗粒的表面位置最高，称作表面电位(surface potential)，在严密电位层的电位称作严密层电位(stern potential)，在颗粒的滑移层的位置的电势值称作Zeta电位，在无穷远的位置，颗粒的电位值趋于零。滑移层以内，所有的颗粒随颗粒一起运动，而滑移层以外则看作溶液环境。Zeta 电位具有符号，带正电的颗粒电势为正值，而带负电的颗粒电势值为负值，电势值绝对值越大，则说明颗粒表面电荷密度越高。
颗粒的Zeta电位大小和符号与颗粒表面的化学基团的种类以及分布相关，同时也受周围溶液环境影响，所以颗粒的Zeta电位不是一个范范的概念，而是特指在特定溶液环境下对于特定颗粒而言的Zeta电位。
Zeta电位现已经成为衡量溶液体系中颗粒凝聚稳定性的一个重要指标。颗粒的Zeta电位越高，颗粒间的排斥力越大，体系越不容易产生团聚，这样体系的稳定性就越高。而对于低Zeta电位体系，颗粒排斥力较低，这样当两个颗粒接近到比较近的距离范围内，范德华力会引发颗粒的团聚进而导致沉淀上浮等等现象。所以可以通过Zeta电位的大小有效判断或者预测断体系的稳定性。这对于化学、化工、制药、环境、食品等等领域具有重要的意义。
现在市面上有很多种技术都可以实现电位测试，比如动态图像电泳法、超声波电泳技术等，但相对最为成熟的方法还是电泳光散射技术ELS，ELS 技术是一种光学的测试技术，利用了颗粒电泳运动产生的散射光的多普勒频移，通过检测分析原始的光学信号得到颗粒的运动速度信息，即带电的颗粒在电场作用下运动，其运动速度（称电泳速度）与Zeta 电位呈正比关系，由此可以计算出Zeta 电位，ELS光路示意图见图2。
图2.电泳光散射的光路和信号收集示意图
在颗粒悬浮体系两端施加电场，带电颗粒在电场力的作用下进行电泳运动，散射光的频率会由于电泳运动产生改变，这是光学多普勒效应，其改变的幅度与电泳速度相关。图中激光光源射出后通过分光片或者分光棱镜分光，一束激光（检测光）照射到样品上，另外一束激光作为参考光直接通过光路折射进入检测器。
光电检测器设置在某个角度下（由于分辨率的原因通常是向前的角度）检测散射光和参考光合束后形成的拍频信号。在参考光光路中嵌入压电陶瓷PZT 组件，在适当的周期性频率下对PZT 施加电压产生位移，改变参考光的频率，藉此产生一个固定的基频信号。通过基频信号可以判断电泳运动的方向，从而得到Zeta的符号，而且还可以一定程度上避免颗粒的布朗运动在零频率附近的噪声干扰。
检测器检测到的拍频信号的周期与频率与合束前参考光和散射光的频率差Δf 相关，实际上拍频的频率就是参考光和散射光之间的频率差。这种拍频频率的统计可以通过一个相关器进行的时间相关性统计，也可以通过另外一套信号的处理方法从散射光的相位信息得到频率差，从而得到更加精确的结果。
实验过程中，在样品上施加交变电场，交替改变颗粒的电泳方向，检测每一个周期内散射光的相位随时间变化，其相位对于时间的斜率正比于频率变化Δf。电泳迁移率与频移之间的关系为：
通过Henry方程，就得到了颗粒的Zeta 电位信息：
其中f(κα)为Henry 函数，κ为德拜半径倒数，α代表粒径，κα代表了双电层厚度和颗粒半径的比值。
Zeta电位测试的重复性是判断测试质量的最重要的结果参数。Zeta电位测试的重复性依赖于样品的电势大小、离子强度、散射光强、浊度、分散是否均匀、是否有较强的沉淀效应等等因素。±5mV以内的Zeta电势的测试数值定量性较差，定性的说明颗粒表面基本不携带电荷。Zeta电位绝对值高于30 mV，体系的热力学理论上是稳定性较好的。通常来说仪器对于均匀稳定的样品，Zeta电位绝对值在20mV以上的悬浮体系可以达到±10%以内的重复性精度范围。
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