颌学专题 | 使用咬合记录、髁突轨迹描记仪和ARCUSdigma II测量前伸髁导斜度的结果对比及其对双侧平衡𬌗的影响(埃)

文摘   健康   2024-07-26 12:00   北京  

作者:
Sara M. Medhat 助理讲师(埃)
开罗 MTI 大学牙科学院可摘修复学系

Mostafa M. Abdel Ghany教授(埃)
开罗爱资哈尔大学女子牙科学院可摘修复学系

Shereen M. Kabeel助理教授(埃)
开罗爱资哈尔大学女子牙科学院可摘修复学系

Ahmed K. Aboelfadl助理教授(埃)
开罗艾因夏姆斯大学牙科学院固定修复学系

翻译:张栌丹

本文原载于《世界牙科技术》2024年第1期《口腔综合版》第18-23页。


目的:本研究旨在比较使用前伸颌位记录、髁突轨迹描记仪和记录水平髁导的电子面弓(ARCUSdigma,KaVo公司,德国)测量水平髁导的结果,并研究其对双侧平衡𬌗的影响。

材料与方法:本研究共纳入10例全口无牙颌患者,其平均年龄为55岁。所有患者均接受了上下颌总义齿修复,义齿均采用平衡𬌗排牙方式。通过以下技术对患者下颌前伸6 mm时的水平髁导斜度进行测量记录:咬合记录、髁突轨迹描记仪(预设分析)和电子面弓(ARCUSdigma II)。

结果:方差分析(ANOVA)检验(95%置信区间)显示,使用咬合记录、髁突轨迹描记仪和电子面弓(ARCUSdigma II)测得的左右双侧水平髁导值差异均无统计学意义(p > 0.05)。与其他方法相比,ARCUSdigma II记录的正中关系位更靠后,但其对全口义齿修复的临床效果没有任何影响。使用三种技术测得的水平髁导角大致相似。

结论:ARCUSdigma II是一种可靠且有前景的测量患者水平髁导斜度的方法,可作为咬合记录及髁突轨迹描记的替代方案。

关键词:髁导斜度,电子面弓,下颌运动记录,髁突轨迹描记


引言

通过在𬌗架上对患者的髁突运动进行精细模拟,临床医生可以评估下颌运动过程中髁突轨迹路径与𬌗面形态之间的相关性,这有利于实现无𬌗干扰的咬合重建,从而提高复杂修复治疗的成功率。

下颌运动是一种复杂的运动,很难通过恰当的方式描述。下颌相对于上颌的运动受到两方面因素的影响,即在神经肌肉的控制下,由肌肉驱动的运动,以及作为硬组织引导系统的颞下颌关节与后牙咬合面的引导。

双侧平衡𬌗的排牙方式减少了支持组织和无牙颌牙槽嵴的主动载荷,因此它可以使全口义齿在咀嚼和戴入义齿过程中维持稳定。它限制了义齿的侧方倾斜,从而在尽可能大的程度上减少了边缘封闭的破坏和义齿不稳定的风险,并且它可以通过在每次咀嚼时提供更多接触的研磨面来改善咀嚼功能。

获取下颌前伸咬合关系的目的是为了在𬌗架上设置髁突参数,近似地再现患者颞下颌关节的倾斜度。如果没有精确地记录髁导,将导致下颌运动时的𬌗干扰。

口内记录法是获取咬合关系最常用的方法。该方法操作简便、快捷,更适用于临床常规操作。咬合记录材料的选择、操作方法以及医师的技巧是调𬌗准确性的主要影响因素。

口外轨迹描记方法的优势在于记录过程中运动轨迹的可视性。因此,患者在下颌运动过程中可以得到更智能的引导。然而,由于使用的设备、临床医师的能力以及关节复合体(无论关节窝的实际形态如何)的线性运动都可能导致误差,因此该方法仍存在局限性。

近年来,使用电子面弓(ARCUSdigma II)系统记录咬合关系可以避免上述局限性。该系统在电脑上通过超声电子传感器对下颌的三维运动进行分析从而测量髁导。该系统可以在显示器上实时再现下颌运动,并识别髁导。


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材料与方法

本临床研究纳入10名全口无牙颌患者。研究者向患者告知了本研究的步骤,所有患者均接受治疗,并与研究伦理委员会(REC)签署了书面同意书。本研究得到了伦理委员会口腔医学部门的批准(批准号:REC-PR-21-01)。

本研究纳入的患者,其牙槽嵴上覆盖的黏膜质地坚韧、较厚、可压缩,且无颞下颌关节紊乱病症状。排除了有张口受限或下颌运动受限、肌肉痉挛或压痛及下颌偏斜的患者。记录了患者的病史并对其进行临床检查,包括体检、牙齿检查、口外和口内检查。

全口义齿的工作模型:对于每位患者,均采用常规技术制取上下颌牙槽嵴初印模及终印模,以灌制工作模型。使用自凝丙烯酸树脂在工作模型上制作上、下颌义齿暂基托以及蜡𬌗堤。使用Hanau面弓进行面弓转移记录。将上颌模型安装在半可调𬌗架(Hanau 96 H2)上,用石膏将其固定于𬌗架的上颌体。使用𬌗蜡记录正中关系,用于正中关系的校准。从下颌蜡堤上取下咬合记录,在冷水中保存。下颌模型上𬌗架;使用石膏将其固定于𬌗架的下颌体上。

取下颌前伸颌位记录:将厚度为3 mm的软性复合材料放置于下颌蜡堤上。嘱患者下颌前伸6 mm并做闭口运动,从而获取下颌前伸颌位记录,用于前伸关系的校准。从下颌蜡堤取下复合材料颌位记录,并保存在冷水中。根据前伸颌位记录调整水平髁导斜度。由Hanau方程L=H/8+12计算得出侧方髁导斜度。

使用半解剖型人工牙排牙。牙齿排列为平衡𬌗。义齿蜡型制作完成后,在患者口内试戴,最后使用热凝丙烯酸树脂制作义齿基托。

临床重新上𬌗架:利用石膏导板对完成的义齿进行调𬌗,至正中、前伸和侧方记录无早接触以及𬌗干扰。

复制全口义齿:采用常规方法复制每个患者的全口义齿,用于实验研究。为患者戴复制义齿,使用三种测量方法记录水平髁导斜度。


技术方法

本研究中,我们以咬合记录法为对照,比较其与运动轨迹描记法和电子面弓ARCUSdigma II记录水平髁导斜度的差异。

a 嘱患者戴复制义齿,然后使用前述的前伸颌位记录测量左右两侧的水平髁导斜度。

b Graphic Tracer法(whip mix)。

-将髁突轨迹描记仪调整至与患者的轴眶平面平齐,然后用伸缩尺在卡片上绘制双侧铰链轴。

系上头带,调整鼻托至对准患者鼻部。使用夹子将快速设置记录仪的𬌗叉固定于下颌记录组件上。每个记录侧都贴上一张纸,用于轨迹描记。

嘱患者采用舒适的姿势坐直,下颌处于后退位。指导患者将下颌从后退位运动至6 mm前伸位,从而记录双侧的水平髁突运动曲线(图1)。用数学方法将曲线放大10倍并计算。在每条曲线上选择四个任意点(1–4)以包含整条曲线。从(2–4)点绘制水平线(平行轴眶平面),从(1–3)点向水平线做垂线。根据以下公式计算角度(a、b和c)的斜率:

斜率 = 垂直距离 ÷ 水平距离
图1:髁突轨迹描记法。

使用科学计算器(Casio,FX-82C,日本)反推斜率对应的角度。计算每条曲线的三个值的平均值,并将三个曲线角度的平均值视为该侧的髁导斜度。重复上述步骤,从而获取每个患者的双侧髁导斜度。

电子面弓(ARCUSdigma II)如图2所示;

图2:电子面弓(ARCUSdigma II)。

在准备阶段灌制一个新的下颌模型,以维持下颌义齿的稳定性。将下颌义齿就位在石膏模型上。使用光固化丙烯酸树脂对义齿与下颌的爪扣连接处进行调改。将光固化丙烯酸树脂塑形成一个悬杆形状,位于牙齿颈部。成型后,使用椅旁光固化灯进行固化。

为患者戴入上、下颌义齿,其中下颌义齿包含固定的爪扣。通过耳塞将Arcus Sevo面弓固定于患者头部,拧紧螺丝,将面弓的鼻部组件固定于患者的鼻部。打开爪扣,使其与ARCUSdigma II传感器的延伸部位紧密连接。

将连接装置戴在患者颈部,以便将下颌运动的电子数据发送至ARCUSdigma II基础软件。使用ARCUSdigma II基础软件时,在首页填写相关信息(日期、医生姓名和患者姓名)。在屏幕上确认所有传感器均显示绿灯,以确保所有传感器都已连接。打开“测量程序”,选择测量选项,计算角度、关节、任意轴。

选好轴以后,将指针标记与下颌面弓匹配,以确定左右髁突以及眶下切迹的任意位置。如图2所示。嘱患者做缓慢的下颌前伸及后退运动。

嘱患者开始踩脚踏控制器,使设备开始描记运动轨迹(图3)。在患者重复动作三次后,该装置将测量左右侧水平髁导斜度的平均值。

图3:使用ARCUSdigma II记录的下颌运动轨迹曲线。


水平髁导斜度记录对平衡𬌗的影响

对复制义齿调𬌗,使其位于正中关系位时,前磨牙和磨牙区可建立均匀的双侧咬合接触,并消除前伸和侧方关系中的任何干扰。𬌗架固定于正中关系位。去除义齿的上颌第二磨牙和下颌第二磨牙人工牙。使用自凝丙烯酸树脂将1 cm正方形金属板与描记纸粘固在下颌第二磨牙相对位置。用自凝丙烯酸树脂粘固内径为0.44 mm的金属管,代替上颌第二磨牙。根据Hanau方程调整侧方髁导,根据三种方法(前伸颌位记录、髁突轨迹描记和电子面弓)调整水平髁导。在平衡侧使用数显卡尺测量近远中、颊舌向垂直线和垂直距离的误差。收集所有数据,进行统计学分析,比较三种方法对平衡𬌗的影响。


统计学分析

对数据分布进行检验、计算均值、中位数,并使用Kolmogorov-Smirnov和Shapiro-Wilk检验,检测数据分布的正态性。显示数据符合参数分布;数据以均值和标准差(SD)表示,进行方差分析。所有检验的显著性水平均设定为p ≤ 0.05。使用Windows系统IBM® SPSS® Statistics 26.0软件(IBM公司,美国)进行统计学分析。


结果

水平髁导斜度


• 右侧:

电子面弓测量值最高(39.38±9.61),其次是髁突轨迹描记(36.17±5.46),最后是咬合记录法(35.00±6.36)。重复测量方差分析结果显示,三种记录方法之间无统计学显著性差异(p = 0.322)。

• 左侧:

电子面弓测量值最高(37.78±11.91),其次是咬合记录法(34.50±4.23),最后是髁突轨迹描记(32.75±3.60)。重复测量的方差分析结果显示,三种记录方法之间无显著性差异(p = 0.488)。

三种方法测得水平髁导斜度的均值、标准差(SD)和方差分析结果差异不显著,重复测量方差分析结果如图4所示。

图4:柱状图示水平髁导斜度的平均值。

不同水平髁导斜度记录的平衡咬合接触测量:

表1和图5显示了不同水平髁导斜度记录的平衡咬合接触测量的均值、标准差(SD)值和重复测量的方差分析结果。

表1:使用不同方法记录的水平髁导斜度所对应平衡接触的均值和标准差,以及方差分析结果。
*:显著性差异(p ≤ 0.05), ns:差异不显著(p > 0.05)
图5:柱状图示使用不同方法记录的水平髁导斜度所对应平衡接触的平均值。

A 右侧:

• 近远中向:

咬合记录(2.20±0.37)和电子面弓(2.20±0.51)的测量值最高,髁突轨迹描记法(2.00±0.55)的测量值最低。重复测量的方差分析结果显示,三种记录方法之间无显著性差异(p = 0.464)。

• 颊舌向:

电子面弓最高(1.68±0.38),然后是咬合记录(1.65±0.41),最后是髁突轨迹描记法(1.63±0.29)。重复测量的方差分析结果显示,三种记录方法之间无显著性差异(p = 0.688)。

• 直线距离:

电子面弓的测量值最高(2.38±0.43),然后是咬合记录(2.22±0.35),最后是髁突轨迹描记法(2.14±0.50)。重复测量的方差分析结果显示,三种记录方法之间无显著性差异(p = 0.153)。

B 左侧:

• 近远中向:

髁突轨迹描记法的测量值最高(2.19±0.63),电子面弓和咬合记录的测量值最低(2.03±0.34)和(2.03±0.56),重复测量的方差分析结果显示,三种记录方法之间无显著性差异(p = 0.442)。

• 颊舌向:

咬合记录的测量值(1.81±0.64)最高,其次是电子面弓(1.64±0.34),最后是髁突轨迹描记法(1.47±0.39)。重复测量的方差分析结果显示,三种记录方法之间无显著性差异(p = 0.097)。

• 直线距离:

电子面弓的测量值(2.36±0.48)最高,其次是髁突轨迹描记法(2.31±0.38),最后是咬合记录(2.30±0.58),重复测量的方差分析结果显示,三种记录之间无显著性差异(p = 0.881)。


讨论

本研究比较了不同方法,即咬合记录蜡、髁突轨迹描记(预设分析)和电子面弓(ARCUSdigma II)确定水平髁导斜度,并评价其对双侧平衡𬌗的影响。颞下颌关节紊乱病(TMD)可影响下颌前伸运动,由于咬合与TMD之间的关系尚未建立,因此本研究的所有患者均选择为咬合关系正常的患者,临床评估为颞下颌关节正常。

平衡𬌗是指上下颌牙齿之间的咬合接触,最初位于最大牙尖交错位,并且在从该位置到特定工作、平衡和前伸引导路径运动过程中,在牙齿咬合面上形成连续的接触。它被认为是全口义齿理想的咬合方式。采用平衡𬌗的目的是使下颌运动到非正中位置时,仍然保持义齿稳定。

本研究中,发现被测变量的差异无统计学显著差异,这在所选样本的局限性及其年龄范围方面是可以预期的。三种方法对平衡𬌗的影响无显著性差异,左右侧无显著性差异。

本研究的结果与既往研究一致,基于以下事实:即在没有任何颞下颌关节紊乱的患者中,使用双侧前伸颌位记录测得的侧方髁导斜度具有双侧对称性。

本研究中,咬合记录法因其操作简单而被用于调整髁导,因此日常临床实践中可以经常使用。然而,其他研究表明,该方法的临床结果可能会受到检查咬合时使用的记录材料厚度的影响。研究发现,当蜡厚度为3 mm时,可能会出现高至0.312 mm的误差。

另一方面,近期的研究报道称,咬合记录用于测量髁导斜度可重复性较低,并且会受到操作者技能、工具以及所用材料类型和厚度的影响。

本研究中,咬合记录和口外髁突轨迹描记法之间没有显著差异,这一点与其他研究不同。据其他研究报道,口内咬合记录材料测得的平均髁导斜度小于髁突轨迹描记。口外髁突轨迹描记在描记过程中具有可视性。因此,患者在下颌运动过程中可以得到更智能的引导与指导。髁突轨迹描记法可以记录整个髁突运动路径,并根据髁突平移量计算髁导斜度的平均测量值。

与一篇文献综述中关于髁导斜度平均值显示出较大差异的描述一致,这可能是研究样本量、髁导斜度对应的参考平面,以及测量方法的区别所导致的。

与本研究相反,文献比较了前伸颌位记录和口外髁突轨迹描记测得的水平髁导斜度平均值,统计分析表明,这两种方法测得的结果相当,但其可靠性尚不足以用于临床条件下的𬌗架流程。使用前伸颌位记录获得的髁导斜度与使用口外髁突轨迹描记测量的值相比具有较高的差异。总之,文献建议使用髁突轨迹描记而不是前伸颌位记录,来进行个性化可调𬌗架的设置。

本研究选择了ARCUSdigma系统,因为它可以允许临床医生和技师使用电子传感器,以类似于绘图仪的方式辅助髁导斜度的测量,从而实现更精确和快速的描记。然而,其在产生临床错误和缺乏足够数据方面仍然存在局限性。为了克服这些局限性,需要进行更多的研究,以促生一种新的、可靠的方法。

ARCUSdigma II是精度更高的升级版本,增加了超声传感器的数量,因此可以比ARCUSdigma I系统更快地测量髁导斜度。然而,传感器重量的增加会导致面弓受到向下的拉力,给测量带来一些困难。此外,与ARCUSdigma I系统相比,ARCUSdigma II测量数据差异不显著,因此需要更多的研究确定测量的准确性。

本研究与既往研究一致,即髁突在矢状方向的运动是均匀的;实际上,我们测得的双侧髁导斜度之间没有显著差异。文献中使用ARCUSdigma II设备进行测量,其实验组与本研究中的几乎相同。


结论

ARCUSdigma II电子面弓具有良好的互换性,作为水平髁导斜度的记录和描记方法的替代方案具有良好的前景。


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