Aaron PV
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/ FF 损失机制 /
影响FF的三种因素：
串阻损失 并阻损失 复合损失
- 实际量测的填充因子 - pseudo fill factor, 忽略串阻/并阻影响下的填充因子，可以用Suns-Voc量测，是实际FF的上限（ )，成品电池片 - implied fill factor (or Voc) 考虑复合因素测的得FF和Voc，用QSSPC或QSSPL方法量测，半成品，WCT120量测 - 本征FF，仅考虑（辐射复合、俄歇复合影响）不考虑其他因素
复合影响
本征复合看 缺陷复合看
并阻影响
串阻影响
经验公式
当忽略串阻、并阻影响(串阻为0，并阻无穷大条件下)，填充计算的经验公式：
多数情况下：
