半导体-晶圆键合设备技术总结和资料分享

文摘   2024-11-29 19:11   广东  

视频来源:EVG

图源:EVG520晶圆键合设备

    本文主要针对晶圆键合(EVG 520 设备,这款设备用于小批量生产或研发环境。

设备结构组成:

键合室:这是放置晶圆并进行键合过程的核心区域。它通常包括控温环境和施加力(压力)进行键合的机制。

加热和冷却系统:集成了加热和冷却元件,用于控制键合过程中的温度,这对于热压和熔融键合等工艺至关重要。

对准机构:包括自动或半自动阶段,用于在键合前精确对准晶圆。这对于 MEMS 和 SOI 晶圆键合等高精度应用至关重要。

压力施加系统:对于阳极键合等工艺,系统施加精确的压力以确保材料的正确键合。最大键合压力可高达 3.8 MPa,具体取决于硬件和键合方法 。

控制单元:软件界面可设置温度、压力和键合时间等参数。

负载锁紧密封机构:用于处理晶圆进出键合室,不会污染工艺或干扰真空环境 。

工艺原理:

阳极键合:在硅晶圆和玻璃晶圆之间施加电场,通过静电力形成牢固的键合。

熔融键合:该工艺利用热量通过在分子水平上熔化晶圆表面来键合晶圆。

热压键合:在此过程中,同时施加热量和压力来键合晶圆。

技术难点:

精度和对准:实现键合晶圆之间的完美对准对于确保键合的完整性至关重要。

过程控制:控制温度、压力和电压等参数对于避免诸如空隙或不均匀键合等缺陷至关重要。

材料兼容性:系统必须处理具有不同热膨胀率和键合要求的各种晶圆材料(硅、玻璃等)。

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