扫描电子显微镜的电子图像及衬度

文摘   2024-11-11 00:01   湖北  

扫描电镜电子枪发射的电子源经加速和聚焦后,在试样上扫描照射,会激发出各种信息,通过对这些信息进行收集和处理,就可以获得试样表面的形貌和成分等信息。

扫描电镜获得的图像衬度,是如何形成的呢?主要是试样微区特征决定的,包括形貌、成分或原子次数、晶体取向等。由于这些不同,试样表面在电子束的轰击下会激发出不同强度的信号,通过调制从而在电脑屏幕上显示出不同的亮度,最终得到一定衬度的图像。

1、二次电子像及形貌衬度

入射电子射入试样表面,被入射电子激发出来的电子称为二次电子。外层的价电子能量较低,容易被激发,内层电子结合能很高,不容易被激发。因此,二次电子主要是由价电子激发出来的。图1为氢脆白点断口的二次电子像。

图1

为了收集方便,一般将能量小于50ev的自由电子叫做二次电子,二次电子能量很低,只能从试样表层5~10nm的深度范围激发出来。

利用二次电子信号所成的像,称为二次电子像。

二次电子像表面形貌衬度是由试样表面高低不平的特性引起的。

2、背散射电子像及原子序数衬度

背散射点,是被试样中的原子反射回来的一部分入射电子,又称反射电子,包括弹性背散射电子和非弹性背散射电子。

背散射电子是从试样表面逸出的能量比价高的电子,能量在50nm及入射电子能量之间。

利用背散射电子信息成的像,称为背散射电子象。背散射电子成像分为两种:反映表面形貌特征的形貌像和反映原子序数差异的成分像。

原子序数衬度是由试样的化学成分或者原子序数不同引起的,受原子核的影响比较大。图2为汽车用钢表面缺陷部位背散射电子像可见缺陷部位存在黑色的氧化铝颗粒聚集

图2

背散射电子发射系数η随原子序数z的增大而增大,对于原子序数大于10的原子,有经验公式如下:

η=(lnz/6)-1/4

可见,原子序数越大,在背散射电子像上越亮。因此,根据背散射电子像衬度的不同,可以区分原子序数的相对大小。

背散射电子像能量较高,离开试样表面后,几乎沿直线运行,如果试样表面较粗糙,原子序数衬度会被形貌衬度掩盖一部分。观察背散射电子像,试样表面只需抛光就效果比较好,如果进行腐蚀,由于粗糙度增加,效果反而下降。

由于背散射电子像来源于试样表面相对较深部位,所以对形貌特征没有二次电子像敏感。

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