𝗜𝗘𝗘𝗘半导体制造特刊(器件建模及蚀刻工艺)

教育   2024-11-08 17:04   上海  

IEEE半导体制造特刊

(器件建模及蚀刻工艺)


关于IEEE

IEEE作为一个非营利性质的组织,是全球最大的行业技术学会。在全球160多个国家,拥有超过45万名会员。从航天系统工程、计算机、电子通讯到生物医学工程、电力、电子消费产品等各行各业,IEEE都具有很大的权威性和领先优势。 


IEEE在科学与技术研究方面的出版物频繁的被各类专利引用,引用量远高于同类出版社。IEEE出版200多种期刊杂志,每年在全球范围内举办2,000多场会议。并且IEEE也出版行业内具有主导作用的标准,例如IEEE 802.11 (WiFi) 、IEEE 2030 (Smart Grid) 、NESC®等。

关于IEEE Xplore Digital Library

IEEE Xplore为您提供IEEE Enterprise以及我们出版的其他电子产品。其强有力的检索工具以及超过600万篇全文文献,将为您打开通往全球电子电气和计算机工程领域的大门,让您更全面的领略到当今世界科技发展的前沿成果,以及更方便快捷的获取全球最先进的高价值文献。节省您的研发投入,不断提升研发效率。

IEEE半导体器件建模方向文献推荐

(2020年至今)

  • 检索式:

  • "Index Terms":Semiconductor device modeling

(以上数据统计时间为2024年10月22日,数据每天更新)


(1)期刊推荐:

IEEE Transactions on Electron Devices

期刊介绍:

月刊,影响因子2.9,发表与电子和离子集成电路器件和互连的理论、建模、设计、性能和可靠性有关的原创性研究,涉及绝缘体、金属、有机材料、微等离子体、半导体、量子效应结构、真空器件和新兴材料,应用于生物电子学、生物医学电子学、计算、通信、显示、微机电、成像、微执行器、纳米电子学、光电子学、光伏、功率集成电路和微传感器。


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(2)会议推荐:

2024 IEEE Nuclear Science Symposium (NSS), Medical Imaging Conference (MIC) and Room Temperature Semiconductor Detector Conference (RTSD)

会议介绍:

2024 IEEE NSS MIC RTSD 是指 2024 IEEE核科学研讨会(NSS)、医学成像会议(MIC)以及室温半导体探测器研讨会(RTSD)。该大会是三个相关领域的重要国际会议联合举办的活动,将于2024年10月26日至11月2日在美国佛罗里达州的坦帕市举行。


其中,核科学研讨会(NSS)汇聚了国际上庞大且多元的电离辐射探测器科学家和工程师群体。该研讨会的内容涵盖了探测器技术和材料的最新发展、新的仪器技术及其在高能物理、核物理、天体物理、加速器、核安全等各种辐射环境下的应用。医学成像会议(MIC)聚焦于医学成像领域的技术发展、创新应用以及相关的研究成果交流。室温半导体探测器研讨会(RTSD)主要探讨室温半导体探测器的相关技术和研究进展。


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(3)最相关文献、高被引文献及最受欢迎文献推荐(请点击文末阅读原文,获取文献访问链接)

IEEE蚀刻工艺方向文献推荐

(2020年至今)

  • 检索式:

  • "Index Terms":Etching Process

(以上数据统计时间为2024年10月22日,数据每天更新)


(1)期刊推荐:

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

期刊介绍:

季刊,影响因子2.3,发表与微电子和光子元件以及集成系统(包括光伏器件和微机电系统)制造相关的最新研究成果。其感兴趣的领域涵盖工艺集成、制造设备性能与建模、良率分析与增强、计量、工艺控制、物料搬运、工厂系统,以及与半导体行业相关的工厂和供应链管理的所有领域,其中包括材料合成、设备制造和掩模制造。


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(2)会议推荐:

2024 Conference of Science and Technology for Integrated Circuits (CSTIC)

会议介绍:

2024 CSTIC是由SEMI和IEEE-EDS联合举办的重要半导体技术会议。该会议已于2024年3月17日至18日举行。这是中国规模最大、最全面的年度半导体技术盛会,也是亚洲最大的面向半导体产业的世界级技术研讨会。


该会议涵盖半导体技术的所有领域,包括设计、器件与集成、光刻、刻蚀、封装等各项制造工艺,以及新兴的半导体技术,如最新存储器技术、量子技术、神经计算等。


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(3)最相关文献、高被引文献及最受欢迎文献推荐(请点击文末阅读原文,获取文献访问链接)

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