ACS Appl. Mater. Interfaces:基于PdSe2纳米岛的宽光谱高速PdSe2/Si 2D-3DPIN探测器

文摘   2024-11-21 14:50   美国  
点击蓝字
 
关注我们
为了方便各位同学交流学习,解决讨论问题,我们建立了一些微信群,作为互助交流的平台。
加微信交流群方式:
1.添加编辑微信:13162018291;
2.告知:姓名-课题组-研究方向,由编辑审核后邀请至对应交流群(生长,物性,器件);
欢迎投稿欢迎课题组投递中文宣传稿,免费宣传成果,发布招聘广告,具体联系人:13162018291(微信同号)         

 

成果介绍

PdSe2是近年来备受研究关注的一种二维材料,其独特的结构和优异的性质使其在电子学、光电子学以及其他领域展现出巨大的应用潜力。然而受限于2D-PdSe2较薄的厚度,基于PdSe2薄膜的2D-3D探测器的光吸收效率较低,响应速率较慢,阻碍了其进一步的应用。
有鉴于此,闽南师范大学柯少颖教授团队通过简单的热辅助转换法(TAC)制得表面岛状形貌的PdSe2薄膜,借助纳米结构的量子效应极大的拓宽了器件的响应光谱(532 nm~2200 nm)。通过优化器件结构,在传统PN异质结结构的基础上结合Si外延技术,创新性提出了PdSe2/n--Si/n+-Si(2D/3D)类PIN结构光电探测器,实现了~106的高整流比。在532 nm激光照射下,器件具有67.3 mA/W的响应度和1.4×1011 Jones的比探测率。值得注意的是,对比采用相同方法制得的PdSe2 PN 2D-3D异质结光电探测器,PdSe2/n--Si/n+-Si类PIN结构光电探测器具备较高的整流比与响应度,而且器件的带宽也得到了极大的提升,高达~60 kHz。本报告不仅证明了PdSe2纳米岛材料在红外宽光谱探测领域具有广阔的应用前景,而且为将来设计基于二维材料光电探测器提供了新的思路与想法。

图文导读

图1. PdSe2薄膜的表征。    

图2. PdSe2/n--Si/n+-Si类PIN器件的光电性能测试。

图3. PdSe2/n--Si/n+-Si类PIN器件及PN异质结器件性能对比。    

图4. PdSe2/n--Si/n+-Si类PIN器件的近红外图像传感示意图及电流映射图。         

文献信息

High-Speed Self-Powered PdSe2/Si 2D-3D PIN-like Photodetector with Broadband Response Based on PdSe2 Quantum Island Structure

(ACS Appl. Mater. Interfaces., 2024, 16, 42577−42587)

文献链接:https://pubs.acs.org/doi/full/10.1021/acsami.4c05063

         

 

   

,以及各种测试分析,


h-BN

低维 昂维
分享最前沿二维材料动态。
 最新文章