一、整体结构
流程图从左侧的 “Case 3” 开始，沿着不同的路径分支，通过一系列的判断节点和测量步骤，最终指向不同的结果或问题（以绿色框表示）。
流程中使用了不同颜色的线条和框来区分不同的路径和信息类型：
蓝色框：表示需要进行的测量或检测步骤，例如 “Measure hysteresis and/or current decay (IV)”（测量迟滞和 / 或电流衰减）、“Measure TDCF to check for field - dependent charge generation losses (VI)”（测量 TDCF 以检查场依赖的电荷产生损失）等。
绿色框：表示最终的结果或可能存在的问题，例如 “Ion loss (V)”（离子损失）、“Shunt losses (II)”（分流损失）、“Inefficient free charge generation (VI)”（低效的自由电荷产生）等。
灰色菱形框：表示判断节点，例如 “Mobile ions?”（可移动离子？）、“Low Rsh?”（低并联电阻？）、“High Rse?”（高串联电阻？）等，根据不同的判断结果，流程会沿着不同的路径继续。
二、具体流程路径
首先判断 “Mobile ions?”（是否有可移动离子）：
如果有可移动离子，接着测量 “hysteresis and/or current decay (IV)”（迟滞和 / 或电流衰减），然后判断 “Large ionic Loss?”（是否有大的离子损失）：
如果有大的离子损失，结果为 “Ion loss (V)”（离子损失）。
如果没有可移动离子，接着判断 “High slope at Jsc?”（在短路电流密度处是否有高斜率）：
如果是，判断 “Low Rsh?”（低并联电阻？）：
如果是低并联电阻，结果为 “Shunt losses (II)”（分流损失）。
如果不是低并联电阻，判断 “High Rse?”（高串联电阻？）：
如果是高串联电阻，结果为 “Series resistance losses (VII)”（串联电阻损失）。
如果不是高串联电阻，判断 “S - shapes?”（是否有 S 形？）：
如果有 S 形，判断 “Doped TL?”（传输层是否掺杂？）：
如果不满足该关系式，测量 “TDCF to check for field - dependent charge generation losses (VI)”（测量 TDCF 以检查场依赖的电荷产生损失），然后判断 “Inefficient free charge generation (VI)”（低效的自由电荷产生）：
如果是低效的自由电荷产生，结果为 “Inefficient free charge generation (VI)”。
