亲爱的朋友们，今天为大家带来另一款支持PCIE产品热插拔的BIT老化测试设备。
产品规格
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输入电压 AC 220V 电脑功率 2KW BIT总功率 1.2KW 外部尺寸 高1700mm*宽800mm*厚800mm 整机重量 约120KG
RDT电气规格
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单口输出电压 DC 3.3±0.15V 单口输出最大电流 5A 电源输出接口 96PCS 单口最大速度 32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S 满载顺序工作最大速度 32GBPS(PCIE GEN3*2)3600MB/S 满载同时工作最大速度 16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S 显示器尺寸 20寸 KVM切换器 16PORT 电脑 12台
产品特点
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单口最大速度4000MB/S，满载同时工作时最高速度1500MB/S。
共12台电脑，每台电脑同时测试8个PCIE NVME SSD。
可配合自动测试软件一键操作。
每个端口带保护座，座子坏了直接换保护板。
每个端子配12V转3.3V5A供电，提供充足的工作电流，并带短路过流过热保护。
插入下压式母座，不会用久后接触不良。
硅胶定位柱，轻松上下盘，用久后不会手痛，且上面盘效率更高。
有32、40、60、80各种长度的定位孔，适合测试各种长度的SSD。
PCIE NVME支持热插拔，少数主控方案可能不支持，需要重启操作。
具备多通道同时测试的能力，可一次性对多个 PCIE产品进行并行测试，极大地提高了生产效率，全面检验 SSD 固态硬盘的性能和可靠性，有助于研发人员发现潜在问题，进行针对性的优化和改进。
联系方式【电话即微信】
业务合作：13428682592 郑工
注：添加微信请备注 “公司+姓名+设备需求”
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