【TEM公开课】制样、SAED衍射斑点标定、DM测量晶格间距、ImageJ形貌分析

学术   2024-10-16 08:31   广东  

课程完全免费,全程3小时,详解六种制样方式和ImageJ、DigitalMicrograph、CrysTBox三大TEM数据分析软件,带大家搞定科研刚需技能

本课程由华算科技旗下测试云平台出品,针对TEM制样、数据分析两大主题设计,直播已完结,回放视频完成剪辑,请在文末获取课程资料网盘链接!

样品制备内容:对常规制样、包埋切片、离子减薄、FIB等六大制样方法进行讲解,通过案例分析指导制样方法和电镜型号的选择,减少制样环节对样品成像质量的影响,以获取高质量的分析表征结果。

样品制备



数据分析内容:通过ImageJ、DigitalMicrograph、CrysTBox三大软件解析TEM图像、衍射花样的现场演示,学习TEM形貌分析、晶格条纹分析、晶体学取向关系分析等。
DigitalMicrograph晶格条纹分析
CrysTBox衍射花样标定
ImageJ形貌分析粒径统计

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