通过低PbO含量Ag浆减轻钝化层损伤并降低TOPCon太阳能电池接触电阻

文摘   2024-12-26 20:59   浙江  

研究背景

传统的含高铝(Al)含量的Ag浆料用于在硼发射极上实现低接触电阻。然而,高Al含量会导致诸如在硅(Si)表面形成Ag/Al尖峰等缺点,从而增加发射极饱和电流密度并分流p-n结。最终降低填充因子(FF)、Voc和整体光电转换效率(PCE)。挑战在于开发适用于高薄层电阻发射极的正面浆料,同时避免p-n结损伤。现有的解决方案,如添加Al-Si合金,存在局限性。研究强调需要一种方法来平衡低Al含量和最佳接触质量,特别是对于高薄层电阻发射极(约350 Ω/□)。

研究方法

研究人员制备了三种低Al含量(<2 wt.%)且烧结特性不同的Ag-Al浆料,其差别在于烧结助熔剂(玻璃成分)中氧化铅(PbO)含量的不同。根据其PbO含量和蚀刻特性,这些浆料被分为低、中、高烧结贯穿(FT)浆料。使用各种技术研究了这些浆料对TOPCon太阳能电池的影响。

扫描电子显微镜(SEM)和能量色散X射线光谱仪(EDS): 用于分析钝化层(SiNx)的蚀刻形态以及界面玻璃中Ag纳米粒子的分布。

拉曼光谱: 用于表征金属化区域的化学成分和键合。

扫描扩展电阻显微镜(SSRM): 用于绘制Ag/Si界面处的电阻分布图,并确定接触电阻。

电流-电压(J-V)测量: 用于评估所制造太阳能电池的光伏性能。

研究内容

该研究重点关注Ag浆料中PbO含量对以下方面的影响:

1. 钝化层蚀刻: 高PbO含量(高FT浆料)导致SiNx钝化层的过度蚀刻,可能损坏硼发射极。低PbO含量(低FT浆料)导致蚀刻最小化,从而保护钝化层。

2. Ag纳米粒子析出: 低FT浆料导致在界面玻璃层中析出更多数量和更大尺寸的Ag纳米粒子,这对导电性至关重要。高FT浆料显示出更少和更小的Ag纳米粒子。

3. 接触电阻: SSRM分析表明,由于界面玻璃层中导电Ag纳米粒子的密度更高,低FT浆料的接触电阻最低(≈1 mΩ·cm²) 。

4. 太阳能电池性能: 使用低FT浆料制造的太阳能电池在这三种浆料中实现了最高的PCE (25.19%)、Voc (712.9 mV)和FF (84.47%)。Voc的提高归因于对钝化层的损伤减少,而FF的提高则归因于接触电阻的降低。

研究结论

该研究表明,Ag浆料中低PbO含量对于减轻TOPCon太阳能电池的钝化层损伤和降低接触电阻至关重要。优化的低FT浆料实现了优异的光伏性能,超过了使用更高PbO含量的浆料制造的电池的性能。这些发现为开发适用于高薄层电阻TOPCon太阳能电池的Ag浆料提供了宝贵的见解,并强调了必须平衡玻璃成分的蚀刻性和界面内Ag纳米粒子的分布,以实现最佳器件性能。建议进一步研究以优化浆料中Ag和Al的特性,特别是考虑到优化浆料中玻璃丰度降低的情况。

 图文解析

图1:不同温度下蚀刻金字塔的SEM图像

该图显示了在不同温度(700、750和800°C)下,使用低FT浆料和高FT浆料处理的硅片上金字塔的蚀刻形态的SEM图像。分析重点在于:

定性比较:描述在每个温度下两种浆料蚀刻金字塔外观上的差异。例如,与高FT浆料相比,低FT浆料是否显示出较少的蚀刻、较浅的凹坑或更完整的金字塔形状?

定量分析:测量每个条件下的参数,例如凹坑深度、凹坑密度或蚀刻表面的面积。这需要图像分析软件。

图2:金属化区域的SEM图像和EDS线扫描

该图结合了金属化区域的SEM图像和EDS线扫描来分析蚀刻深度。

SEM图像分析:图像显示烧结后的金属化区域,揭示了不同蚀刻程度(严重、中等、最小)的区域。该图可能使用颜色编码来区分这些区域。

EDS线扫描分析:EDS线扫描通过测量来自SiNx层的氮(N)信号强度来量化蚀刻深度。N强度低的区域表示蚀刻深度较大,反之亦然。关键观察点是三种浆料蚀刻深度之间的比较差异。

图3:蚀刻凹坑的SEM图像和拉曼光谱

该图显示了去除Ag栅格线和界面玻璃层后的蚀刻凹坑的SEM图像,以及拉曼光谱。

SEM图像分析:SEM图像说明了每种浆料产生的蚀刻凹坑的大小和数量。低、中、高FT浆料的凹坑大小和密度的差异对于评估蚀刻程度非常重要。

拉曼光谱分析:拉曼光谱关注金属化区域,分析与Si、PbO和SiO2相关的峰。这些峰的强度提供了关于SiNx蚀刻和SiO2形成程度的信息,这与每种浆料中的PbO含量相关。

图4:Ag纳米粒子分布的SEM图像

该图关注界面玻璃层中Ag纳米粒子的分布。

SEM图像分析:图像显示每种浆料的Ag纳米粒子的位置和尺寸分布。

定量分析:使用图像分析软件测量Ag纳米粒子的数量和平均尺寸,以量化浆料之间的差异。该图可能包含纳米粒子尺寸和密度的统计分析。

图5:截面SEM图像、示意图、SSRM图像和线剖面图

该图比较复杂,结合多种技术来分析Ag/Si界面处的电阻分布。

截面SEM:显示离子研磨后的金属化区域的结构,揭示了包括Ag栅格线、界面玻璃层和Si衬底在内的各层。

示意图:提供了电阻组件(Ag、玻璃、Si)及其对整体接触电阻的相对贡献的简化表示。

SSRM图像:这些图像显示界面上的电阻分布。颜色强度的差异表示电阻的差异。

SSRM线剖面图:这些图提供了沿界面线上的电阻的定量测量,突出了玻璃层处的电阻跳跃。

图6:器件结构示意图和J-V参数

该图显示了TOPCon太阳能电池结构的示意图以及J-V参数的图表。

器件结构: 说明TOPCon太阳能电池各层的示意图。

J-V参数图:图表显示了三种不同浆料的接触电阻(ρc)、PCE、Voc、Jsc和FF,可以对它们的性能进行直接比较。关键在于观察不同浆料如何单独影响每个参数。

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