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XAFS，是X射线吸收光谱（XAS）测量物质在X射线区域的入射光子能量E的透射率。具有元素特异性和轨道特异性，能够确定物质的局部原子和电子结构。能够推导出氧化态、态密度、配位、键长、热参数以及局部环境中的无序，原则上比其他技术更精确。
由于XAS不依赖于长程有序性，它特别适合研究具有局部短程有序的无序系统，例如玻璃、溶液、液体和非晶固体，也可以应用于定义良好的甚至是理想的晶体。
还可以确认其他技术提出的结构，或者基于纳米结构、局部键合和吸收原子周围的纳米环境。
Table XAFS的应用：
Table XAFS技术，通过提供X射线吸收检测功能，让XAFS技术的应用更加广泛和灵活，使XAFS的检测不再局限于同步辐射设备。
相较于传统的XRD技术，能够实现对非晶材料等短程有序材料的检测，并且可以进行化学价态识别。此外，Table XAFS能够提供配位数、键长等信息，有效分析原子的局域结构。
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