百位数量级位错密度缺陷碳化硅单晶衬底即将来临

文摘   2024-02-20 10:12   山东  

   碳化硅单晶中一维位错缺陷包括:螺位错(TSD)、刃位错(TED)、基平面位错(BPD)以及混合位错(MD)。随着优化迭代的进展,碳化硅单晶衬底中总位错密度将很快迈入到百位数量级ea/cm2水平。



碳化硅SiC半导体材料
传播碳化硅(sic)半导体材料产业链的新闻资讯最新动态。聚焦碳化硅半导体材料的热点问题。推广碳化硅(sic)半导体材料及相关材料的制备与应用。
 最新文章