百位数量级位错密度缺陷碳化硅单晶衬底即将来临

文摘   2024-01-30 10:25   山东  

   碳化硅单晶中一维位错缺陷包括:螺位错(TSD)、刃位错(TED)、基平面位错(BPD)以及混合位错(MD)。随着优化迭代的进展,碳化硅单晶衬底中总位错密度将很快迈入到百位数量级ea/cm2水平。



碳化硅SiC半导体材料
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