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https://www.sciencedirect.com/science/article/pii/S2589778023000088
透射电子显微镜 (TEM) 因其高空间、时间和能量分辨率而被材料科学界广泛使用。然而，对于电子束敏感的卤化物钙钛矿 (HP)，TEM 提供的成果仍处于起步阶段，因为入射电子束对脆弱结构造成的结构损伤不可忽略。尽管存在这些挑战，TEM 在原子尺度上提供对 HP 微观结构和相演变的独特见解、跟踪动态离子迁移行为以及探索晶格缺陷对物理化学性质的影响方面的潜力仍然令人着迷。在本综述中，作者总结了通过嵌入在 TEM 中的先进分析方法在 HPs 方面取得的最新成就，包括高分辨率/扫描 TEM (HRTEM/STEM) 成像、电子衍射 (ED) 分析、X 射线能量色散谱 (EDS) 和电子能量损失谱 (EELS) 测量和原位 TEM 观察，旨在提供对尚未发现的 HPs 内在特性的多维和多尺度理解。此外，作者深入研究了影响精密 HPs 晶体的固有光束损伤机制，从而强调了在 HPs 研究中采用 TEM 所面临的重大障碍。最后，作者提出了一些可能有助于减少光束造成的损害的有效策略。特别是，直接检测电子计数 (DDEC) 相机的引入为低剂量成像的进步和抑制光束对 HPs 内在结构的损伤做出了重大贡献。随着低剂量成像技术的进步，TEM表征有望促进对HPs在结构-性能-性能方面的本征性质的全面认识，拓展HPs在光电器件中的广泛应用。
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