移动离子通过金属卤化物钙钛矿层的迁移仍然是钙钛矿太阳能电池、LED 和光电探测器稳定性差的主要原因之一。为了表征钙钛矿层中的移动离子，基于时间和频率的电学测量是一种很有前途的技术。然而，传输层的存在使它们的解释变得复杂，限制了可以提取的移动离子的信息，并且目前尚不清楚频域和时域测量中的不同特征与移动离子的关系。
在这里，荷兰格罗宁根大学Bruno Ehrler等人描述了在黑暗、照明和不同温度下进行电容频率、电容瞬态和电流瞬态测量的无传输层器件。从测量中提取特征离子特征，并通过每种技术的漂移-扩散模拟来重现这些特征。这使我们能够解释不同离子特征的起源，从而促进对如何使用电子表征技术来研究移动离子特性的理解。
Consistent Interpretation of Time- and Frequency-Domain Traces of Ion Migration in Perovskite Semiconductors
Moritz C. Schmidt, Agustin O. Alvarez, Jeroen J. de Boer, Larissa J.M. van de Ven, and Bruno Ehrler
ACS Energy Letters 0, 9
DOI: 10.1021/acsenergylett.4c02446
https://pubs.acs.org/doi/full/10.1021/acsenergylett.4c02446
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