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深度剖析设计要点：
我们将深入探讨侧向层析试纸条设计时需注意的关键细节，从项目初设计到材料的选择，从反应条件的优化到稳定性考量，全方位解读如何打造一款性能卓越的试纸条。
常见问题与解决方案：
在实际应用中，您是否曾遇到试纸条灵敏度不足、特异性差、稳定性欠佳等问题？本次研讨会将为您一一剖析这些问题的根源，并提供行之有效的解决方案，助您轻松应对各种挑战。
原料与标签选择秘籍：
原料和标签的选择对试纸条的性能有着至关重要的影响。我们将分享如何挑选优质原料，以及如何根据不同的应用场景和检测需求，选择合适的标签，实现试纸条性能的最优化。
这是一次难得的机会，您将与拥有丰富经验的资深应用开发科学家Eileen Hannigan, 全球产品经理Katie Spitere和Maxime Prost深度面对面交流。他们将毫无保留地分享在侧向层析测试方面多年积累的设计、优化、制造和故障排除综合经验。在这里，您可以提出工作中遇到的难题，与专家们共同探讨解决之道，开启您的设计思路。
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无论您是现场快速检测的开发人员、研究与开发科学家、工艺工程师，还是QC/QA经理、业务发展领导者，本次研讨会都将为您提供极具价值的知识与经验。参与本次研讨会，您将能够：
• 拓展知识：
了解行业最新动态和技术趋势。
• 提升能力：
增强问题解决能力，支持日常工作。
• 拓宽人脉：
与同行精英交流，碰撞智慧火花。
• 注入动力：
为职业发展注入新动力，在快速诊断领域取得更大成就。
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