第104届中国电子展（CEF）定于2024年11月18日至20日在上海新国际博览中心盛大举行。本次展会特别设置了核心先导基础元器件馆以及终端创新应用馆，旨在全面展示电子信息行业的最新成果与未来趋势，为参展商与观众搭建一个高效、专业的交流平台。
- 参展企业简介 -
南京博芯科技有限公司
展位号：2C001
南京博芯科技有限公司，注册资金5000万元。专注于集成电路测试系统等电测产品的研发、制造、销售与服务。研发团队成员具有十年以上的集成电路测试系统开发与应用经验。
公司主要产品为数字集成电路测试系统、边界扫描测试仪等。
公司秉承“客户第一、诚实守信、团结协作、创新发展”的价值观，致力于为客户提升产品品控能力与测试效率，持续为客户创造价值。博芯科技以“为集成电路产业提供最佳测试解决方案”为公司使命，助力集成电路产业发展。
- 展示范围 -
数字集成电路测试系统
BX3100数字集成电路测试系统，适用于MCU、Flash、LDO、ADC、DAC、Logic等多类芯片的CP和FT测试。产品最大数据速率400Mbps、512路数字通道、32路器件电源、128M向量存储深度，同时具备Source、Capture、 Scan、ALPG功能与能力，大大增强了测试系统的灵活性，提升了工程师应用开发效率。
边界扫描测试仪
BX5110边界扫描测试仪，是一款基于IEEE 1149.1/1149.6/1149.7标准的PCBA测试产品，是PCBA结构测试的强大测试诊断工具。通过其图形化的界面和先进的测试算法，能够快速识别和定位电路板上的故障，如开路、短路、焊接故障以及功能不良的数字器件，可有效减少维修时间和维修成本，故障诊断范围可定位到PIN脚。产品可广泛用于PCBA的量产测试、故障维修、样机调试等。
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