第104届中国电子展（CEF）定于2024年11月18日至20日在上海新国际博览中心盛大举行。本次展会特别设置了核心先导基础元器件馆以及终端创新应用馆，旨在全面展示电子信息行业的最新成果与未来趋势，为参展商与观众搭建一个高效、专业的交流平台。
- 参展企业简介 -
致东光电科技（上海）有限公司
展位号：2B015
致东光电科技（上海）有限公司自2006年成立至今，秉着以客户为导向的企业经营理念，由专业的测试仪器代理商快速发展成为集研发、生产、销售、服务为一体的高精度测试仪器供应商。
致东光电奉行“以人为本”的理念，延揽经验丰富、资质优良、充满活力的人才，与客户的需求紧密结合，为其提供卓越而可靠的加值型服务。“客户的满意是我们的目标”，致东光电遵循“高机动性、高效率、高行动力”的三大方针，目前我们的客户已经遍及整个IC、TFT-LCD、LED及Solar cell等学术及工业相关领域，并广泛得到客户的认同和喜爱。
- 展示范围 -
全光谱椭偏仪SE
可 Demo 免费量测 Sample；
精密量测膜厚及折射率；
波长范围 : 193nm-1050nm (Option~1700nm)
快速量测、单晶或多晶或多层膜检测；
各种功能材料的光学常数测量和光谱特性分析；
精密量测膜厚及折射率 Thickness & ( N, K ) λ
测试精度 Repeatibility : 0.05nm；
测试厚度范围(Thickness Range) : 1nm - 30um。
全光谱反射仪SR
针对PI、Thin-Film、Semicon、Solar Cell及TFT-LCD的客制化应用机型；
Customized application models for PI，Thin-Film，Semicon，Solar Cell and TFT-LCD
量测时间1-3s，精确度高；
Measurement time：1-3s，high accuracy测试精度（precision）：0.1nm；
测试厚度范围（Thickness Range）：1nm-100um；
量测膜厚（N.K）值，穿透率（T%）,反射率（R%）Thickness&（N.K）λ&T%&R%）。
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