如何测离子注入后PN区的深度?

学术   2024-11-01 18:02   北京  


文章来源:Tom聊芯片智造

原文作者:Tom


本文主要介绍运用化学染色法测量离子注入后PN区的深度。




分析注入的剖面有什么作用?




离子注入过程中,掺杂元素(硼、磷、砷等)被注入到半导体晶体中,注入硼,形成P型硅;注入磷、砷,形成N型硅。形成的掺杂剖面对芯片的电学特性影响很大,因此研究掺杂剖面在芯片的失效分析、制程监控等用途很大。




测结深的方法有哪些?




SIMS,霍尔效应测量,XPS,SCM,化学染色法等均可以用来测结深。在本文中,我们详细讲解化学染色法。




化学染色法的原理?




染色溶液与硅表面会发生电化学反应,p区与n区在染色溶液里的反应速率不同,呈现出不同深浅的颜色,显现出p区与n区之间的界限。经过染色后,可以使用显微镜或电子显微镜观察染色效果,从而确定PN结的具体位置和界限。



化学染色法的几种染色溶液配方?




1,三氧化铬(CrO3 ) 、氢氟酸(HF)和水( H2O)

2,氢氟酸(HF)、硝酸(HNO3) 和醋酸( CH3COOH)

3,硫酸铜( CuSO4 ·5H2O) 、氢氟酸(HF) 和水( H2O)

等等

以上配方中加入HF主要是除去硅片表面的氧化物,使反应顺利进行。


END


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编辑:一二

编:木心

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