功率MOS体二极管参数分析

百科   2024-12-07 19:28   广东  
体二极管的作用
  MOS的体二极管能够让感性负载电流在MOS处于“关断”状态时绕开MOS。因此,它在同步整流和续流等许多应用中都是一个重要特性。在一个MOS关断和第二个MOS导通之间的“死区时间”内,体二极管会导通。虽然死区时间通常很短暂,但与这部分开关周期相关的损耗可能非常大。与体二极管导通阶段相关的能量损耗机制主要有两种。
因Vf引起的体二极管损耗
  体二极管存在导通压降和电流,这部分会产生损耗可以表示为如下:基于该公式,为降低该损耗,可以降低开关频率或者采用dead time更小的MOS驱动芯片,或者外部并联肖特基二极管,减小VSD。
体二极管导通压降损耗
我们来比较因体二极管的正向压降Vf引起的损耗与理想4 mohm的 MOS在80 ns内产生的损耗。首先,考虑让20 A标称负载电流流经理想MOS,I^2*R功耗为20A*20A*4mohm=1.6W,因此80 ns内产生的总能耗为=1.6W*80ns=0.128 µJ。
  现在,考虑让20 A负载电流流经Vf为1.2 V的典型体二极管。瞬时功耗为=1.2V*20A=24 W。如果死区时间为80 ns,则由于体二极管Vf引起的能耗为=24W*80ns=1.92 µJ。因此,当电流通过体二极管时,损耗比理想状态高=1.92/0.128=15倍。但是,将Vf降至1 V后,因体二极管Vf引起的能耗为每个开关周期=1V*20A*80ns=1.6 µJ,或者说只高出=1.6/0.128=12倍。
因Qrr引起的体二极管损耗  
下管体二极管反向恢复时,上管还处在导通过程中,VDS维持在VIN,如下图所示:对应的反向恢复损耗可以表示为如下:
体二极管反向恢复损耗
体二极管反向恢复波形
为降低反向恢复损耗,可以选择低Qrr的体二极管,或者通过并联肖特基二极管的方式来减小(肖特基二极管反向恢复更快,造成的Qrr更小)。
并联肖特基二极管
当我们考虑理想的4 mohm高边MOS(Qrr为0 nC)时,I^2*R功耗为1.6W。因此,如果负载电流持续流动40 ns(Trr典型值),则能耗为=1.6W*40ns=64 nJ。
  然后,考虑Irr为20 A的三角波电流,同样持续Trr,则高边MOS因Qrr引起的额外功耗为= 20A*20A*4mohm* 40ns/2=32 nJ。因此,将Qrr降低50%可以使每个开关周期的能耗减少16 nJ,有助于最大限度地减少高边MOS的额外损耗。
Qrr的影响:
反向恢复电流(Irr)也与PCB的寄生电感相互作用,导致漏极-源极电压(VDS)出现尖峰。这些尖峰可以通过降低PCB的电感或选择Qrr较低的MOS来降低。
如果不加以处理漏源尖峰,则漏极引脚上的尖峰可以经由电容耦合到栅极引脚上,导致所谓的Cross talk。如果栅极扰动超过MOS的阈值电压,则发生交叉导通,且MOS可能在应该关闭时导通。如果高端MOS和低端MOS同时导通,电源会产生直通电流,有可能损坏MOS。
总的来说:选择低Qrr的MOS,峰值电流更低,尖峰持续时间更短,因而振铃/谐振减少,这有利于减少EMI、避免Cross talk风险,同时为设计工程师提供了缩短死区时间的选项,可进一步提高效率。

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