NTA技术是基于颗粒散射光，追踪颗粒运动，以获取样品颗粒的粒径分布、数量浓度、Zeta电位、生物标志物表达等信息的纳米颗粒表征手段，现已广泛应用于包括细胞外囊泡（EV）、脂质体、LNP、病毒、超微气泡（UFB）、纳米级微塑料颗粒在内的各类纳米级颗粒表征工作中。
一般认为，NTA技术的粒径测量下限是10nm。那实际实验中，NTA技术能不能有效检测到10nm的颗粒？有没有NTA技术可以突破这个公认的NTA粒径测量下限，检测到更小粒径的颗粒呢？现在，我们使用ZetaView QUATT对这个问题进行探究。
这里我们选择25nm的功能化量子点（Quantum Dot，QD）—Qdot™ 655 streptavidin conjugates作为检测对象。它可以被405nm激光激发，发射波长在655nm附近，且荧光信号稳定，很适合在405nm激光的荧光模式下进行检测。
我们使用ZetaView QUATT在405nm激光的荧光模式下对该25nm QD样品进行分析。F-NTA检测结果显示，其中位粒径值X50是28.1nm，浓度是5.5*1013个/ml。粒径分布结果如下图：
由以上结果可以看出，ZetaView的实际可测量最小粒径值可达5nm，比常规NTA的可测量粒径下限更低。
得益于ZetaView创新性的Low-Bleach功能，ZetaView F-NTA技术可以很好地降低样品的背景信号，进一步提高检测信噪比，使荧光检测结果更加准确。这也是ZetaView可以检测更小颗粒的保障。
△ 作为目前最新款的NTA产品，ZetaView不仅能实现传统NTA技术对纳米颗粒粒径和浓度的表征，还能测定样品在特定条件下的Zeta电位，为样品稳定性和表面修饰结果提供可靠的数据支持。在荧光标记实验中，ZetaView不仅能实现传统NTA技术对某个标志物的表征，还能通过配备双激光或四激光，在单次进样中，同时完成多个标志物的鉴定，并提供可靠的共定位（Colocalization）检测结果，帮助用户更全面地了解标志物表达情况，助力用户深度挖掘更多的标志物信息。
相比于传统的NTA产品，ZetaView不仅功能更全面，其操作和维护也更加简单方便。它可以实现自动清洗、自动校准，样品池无需拆卸，即可完成快速清洗。这些特点都在更大程度地帮助用户减少操作时间、提高实验效率，加速用户的研究进度。ZetaView也因此而备受用户的青睐。
大昌华嘉科学仪器部
大昌华嘉仪器部专业提供分析仪器及设备，代理众多欧美先进仪器，产品范围包括：颗粒，物理，化学，生化，通用实验室的各类分析仪器以及流程仪表设备，在中国的石化，化工，制药，食品，饮料，农业科技等诸多领域拥有大量用户，具有良好的市场声誉。我们的业务逐年增加，市场不断扩大。大昌华嘉公司在中国设有多个销售，服务网点，旨在为客户提供全方位的产品和服务。
点击
阅读原文
了解更多详情
如果您对我们的
任何产品感兴趣，
欢迎通过右侧方式
联系我们！
400 821 0778
ins.cn@dksh.com
大昌华嘉科学仪器部
- 激光粒度分析仪、颗粒图像分析系统、电声法Zeta电位仪、超声法纳米粒度仪
- 光学接触角测量仪、表/界面张力仪
- 比表面及孔隙度分析仪、物理/化学吸附仪
- 压汞仪、通孔孔径分析仪
- 全自动真密度分析仪
- 元素分析仪、总氮/蛋白质分析仪
- 总有机碳（TOC）分析仪
- 总有机卤素分析仪、硫氮氯分析仪
- 密度计/旋光仪/折光仪/糖度仪
- 稳定性分析仪（多重光散射仪）、扩散波光谱仪（光学微流变）、微量视频粘度计
- X射线荧光光谱仪（EDXRF）、显微CT（XRM）
- 纳米颗粒跟踪分析仪
- 水份活度仪
- 流式颗粒成像分析系统
- 全自动氨基酸分析仪
- 薄层色谱成像系统、自动点样仪
- 全自动反应量热仪
- 火焰光度计、氯离子分析仪
- 手持式拉曼光谱仪
- 粉体流动性分析仪、粉体振实密度分析仪、粉体剪切性能分析仪、粉体静电吸附性能分析仪
