普冉半导体的产品树
序号 | 分类 | 一级分类 | 二级分类 | 三级分类 |
1 | Flash 芯片 | SPI NOR Flash | L 系列 | / |
2 | H 系列 | / | ||
3 | U 系列 | / | ||
4 | N 系列 | / | ||
5 | WLCSP | / | ||
6 | 车规级 Flash | L 系列 | / | |
7 | H 系列 | / | ||
8 | EEPROM 芯片 | 标准 EEPROM | SPI EEPROM | / |
9 | I²C EEPROM | / | ||
10 | CCM | / | ||
11 | WLCSP | / | ||
12 | 车规级 EEPROM | SPI EEPROM | / | |
13 | I2C EEPROM | / | ||
14 | MCU 微处理器 | PY32 系列 | 超值MCU | PY32F002B系列 |
15 | PY32F003系列 | |||
16 | 主流MCU | PY32F030系列 | ||
17 | PY32F031系列 | |||
18 | PY32F040系列 | |||
19 | PY32F071系列 | |||
20 | PY32F072系列 | |||
21 | PY32F403系列 | |||
22 | 超低功耗MCU | PY32L020系列 | ||
23 | 电机专用MCU | PY32M010系列 | ||
24 | PY32M030系列 | |||
25 | PY32M031系列 | |||
26 | PY32M070系列 | |||
27 | PY32MD系列 | |||
28 | 触摸系列MCU | PY32T020系列 | ||
29 | Analog 模拟芯片 | VCM Driver | WLCSP | / |
30 | KGD SERVICE晶圆服务 | Flash 芯片 | SPI NOR Flash | H 系列 |
31 | L 系列 | |||
32 | U 系列 | |||
33 | EEPROM 芯片 | / | / | |
34 | MCU 微处理器 | / | / | |
35 | Analog 模拟芯片 | / | / |
| 序号 | 标题 |
| 1 | 时钟频率的检测方法及装置、微控制器、计算机程序产品 |
| 2 | 一种存储芯片的筛选方法及装置、计算机程序产品 |
| 3 | 访问闪存的方法和控制装置 |
| 4 | 闪存的制造方法及闪存 |
| 5 | 闪存的制造方法 |
| 6 | 芯片测试方法、装置、测试机及存储介质 |
| 7 | 一种自偏置锁相环系统及电子设备 |
| 8 | 一种探针高度可调的探针卡、晶圆测试装置和方法 |
| 9 | 一种晶圆测试方法、系统以及计算机介质 |
| 10 | 双时钟低功耗芯片及唤醒方法 |
| 11 | 带隙基准电路及芯片 |
| 12 | 一种兼容多产品芯片测试的方法及装置、芯片 |
| 13 | 一种可兼容针卡和圆晶测试方法 |
| 14 | 计数方法、单调计数器及存储介质 |
| 15 | 一种状态寄存器数据处理方法、装置及芯片 |
| 16 | 一种压摆率可调电路及压摆率调节方法 |
| 17 | 状态寄存器的数据写入方法、装置、芯片和存储介质 |
| 18 | 字线解码电路、存储芯片和字线解码控制方法 |
| 19 | 一种字线解码电路与半导体存储器 |
| 20 | 一种低功耗唤醒方法、系统和一种芯片 |
| 21 | 一种测试针卡以及测试机 |
| 22 | 一种电容触控按键检测方法、系统、触控芯片和电子设备 |
| 23 | 一种存储芯片的修复方法及装置、计算机存储介质 |
| 24 | 一种二级运放调压电路以及电子设备 |
| 25 | 一种数据读取控制方法与数据读取电路 |
| 26 | 一种通信数据传输总线、系统、传输方法及存储介质 |
| 27 | 电荷泵的反馈电路 |
| 28 | 一种工艺补偿的电压源电路和电压源 |
| 29 | ETOX闪存的擦除方法和装置 |
| 30 | 支持DMA请求的DAC装置及其处理方法 |
| 31 | 改善系统上电可靠性的方法和装置 |
| 32 | 寄存器的验证装置 |
| 33 | 一种支持多外设同时请求的DMA系统及其实现方法 |
| 34 | 低压存储单元读出锁存电路 |
| 35 | 电荷泵电路 |
| 36 | 输出驱动电路 |
| 37 | 闪存的可靠性测试方法 |
| 38 | 偏置电路 |
| 39 | 电荷泵电压检测电路及方法 |
| 40 | 用于闪存的电荷泵控制电路及反馈环路 |
| 41 | 闪存冗余修复的自动检测判断方法和装置 |
| 42 | 芯片的操作方法和装置 |
| 43 | 半导体封装体、照相机模块及便携式终端 |
| 44 | 一种基于二分法的芯片测试档位确定系统和方法 |
| 45 | 使用嵌入式串口编程芯片数据的方法、系统和芯片设备 |
| 46 | 针卡最优layout选择方法及系统 |
| 47 | 多平台测试pattern互转实现方法及系统 |
| 48 | 一种闪存芯片FT测试的优化方法及装置 |
| 49 | 一种用于多site并行测试的测试机台防呆方法及装置 |
| 50 | 上电复位电路 |
| 51 | 电压源电路 |
| 52 | 非挥发性存储器的擦除方法和装置 |
| 53 | 参考电压的修调方法 |
| 54 | 一种加快字线建立时间的方法和装置 |
| 55 | 半导体封装体 |
| 56 | 一种非易失存储器比特工艺的优化方法及装置 |
| 57 | 一种数模转换器的自动校准电路和方法 |
| 58 | 一种芯片散热片测试系统和方法 |
| 59 | 快闪存储器整个芯片擦除方法 |
| 60 | 一种存储芯片早期擦写失效筛选方法及测试系统 |
| 61 | 一种存储芯片早期存储失效筛选方法及测试系统 |
| 62 | 一种具有校准功能的振荡器 |
| 63 | 一种闪存修复的方法及装置 |
| 64 | 多路输出LDO电路 |
| 65 | 一种芯片失效的筛选方法及装置 |
| 66 | 一种存储芯片早期失效筛选方法和装置 |
| 67 | NOR Flash产品晶圆测试筛选方法 |
| 68 | 灵敏放大器电路 |
| 69 | 位线选通信号驱动电路 |
| 70 | 一种可靠性测试板及系统 |
| 71 | 一种车载HUD显示组件 |
| 72 | 一种动态卡控的芯片差分单元测试方法及装置 |
| 73 | 一种基于光发射显微镜的芯片测试板 |
| 74 | 非易失存储芯片数据保持能力异常测试方法 |
| 75 | 可编程频率发生器及其校准方法 |
| 76 | Flash存储器测试电路及测试方法 |
| 77 | 运算放大器及带隙基准源电路 |
| 78 | 金属层间通孔形成方法 |
| 79 | 晶圆测试探针卡 |
| 80 | 一种精确高速电压跟随电路及集成电路 |
| 81 | 一种低电源电压精确电压跟随电路及电压跟随方法 |
| 82 | 温度检测电路 |
| 83 | 集成电路上电复位电路 |
| 84 | NOR型闪存编程电路 |
| 85 | Norflash性能测试装置 |
| 86 | 系统时钟无毛刺切换电路及其复位实现方法 |
| 87 | 一种电流源电路 |
| 88 | 正、负电压电荷泵单级电路及四相电荷泵电路 |
| 89 | 一种负电压电荷泵电路结构 |
| 90 | 振荡器 |
| 91 | 电压比较器电路 |
| 92 | 芯片上电复位电路 |
| 93 | 一种芯片上电复位电路 |
| 94 | 一种低功耗钳位电路 |
| 95 | 线性稳压器电路 |
| 96 | 非易失性存储器芯片 |
| 97 | 芯片测试设备及其芯片测试过程叠料或卡料检查方法 |
| 98 | 非易失存储器擦除编程方法 |
| 99 | 非易失存储器编程方法 |
| 100 | 一种芯片测试筛选方法 |
| 101 | 一种调整芯片参数的测试方法 |
| 102 | 一种字线建立方法 |
| 103 | 一种用于NOR Flash可靠性测试的方法及系统 |
| 104 | 一种用于存储芯片的写入深度测试系统及其方法 |
| 105 | 一种修复闪存的方法 |
| 106 | 非易失存性存储器中存储单元的寿命自检测方法及系统 |
| 107 | 非易失存储器中参考单元的编程方法及系统 |
| 108 | 存储器数据读取系统 |
| 109 | 电荷泵的输出电压调节电路 |
| 110 | 存储器存储单元特性分析电路 |
| 111 | 串行存储器数据读取频率设置方法 |
| 112 | 基准电流源电路 |
| 113 | 一种音圈马达驱动电路及其方法 |
| 114 | 一种EEPROM存储器 |
| 115 | 一种灵敏放大器电路 |
| 116 | 在晶圆测试过程中检测电子位图中坐标偏移的方法 |
| 117 | 一种非易失性存储器的过擦除现象的检测方法 |
| 118 | 音圈马达驱动器驱动电流分段控制电路 |
| 119 | 音圈马达驱动器电流曲线模式自动学习系统 |
| 120 | 双边延时电路 |
| 121 | EEPROM存储器 |
| 122 | 存储器的软件写保护系统 |
| 123 | 非易失性存储器验证方法 |
| 124 | 一种带隙基准电压源快速启动电路 |
| 125 | 一种晶圆级晶片尺寸封装的芯片结构 |
| 126 | 一种硅片级封装划片槽的设计方法 |
| 127 | 一种负电压跟随电路 |
| 128 | 一种新型电荷泵放电电路及其放电方法 |
| 129 | 一种电荷泵放电电路及其放电方法 |
| 130 | 一种节省面积的存储器数据读取锁存传输电路及控制方法 |
| 131 | 电压切换电路及切换方法 |
| 132 | 一种电荷泵电路及其负载驱动方法 |
| 133 | 控制输出频率温度系数的实现方法及电路 |
| 134 | 用于闪存页编程的数据锁存电路、页数据锁存器及方法 |
| 135 | 一种升降压电压转换电路 |
| 136 | 一种源跟随电路 |
| 137 | 一种双输出双反馈电荷泵结构 |
| 138 | 一种电荷泵启动完成标志信号产生电路 |
| 139 | 一种混合结构电荷泵电路 |
| 140 | 一种低电压双边放大的灵敏放大器电路 |
| 141 | 一种晶圆加磁测试装置及其测试方法 |
| 142 | 一种电源反向保护电路 |
| 143 | 一种电压稳定器电路 |
| 144 | 一种晶圆加磁测试装置 |
| 145 | 一种抑制电流脉冲的功率驱动电路 |
| 146 | 一种开漏输出的限流保护电路 |
| 147 | 一种调整控制驱动管工作的驱动电路 |
| 148 | 一种驱动电路结构 |
| 149 | 一种电压补偿振荡器电路 |
| 150 | 一种防止存储器芯片内部存储单元上下电被改写电路结构 |
| 151 | 一种串行存储器芯片容量扩充结构 |
| 152 | 一种软启动的电压调整电路 |
| 153 | 一种低压跟随的开环电压调整电路 |
| 154 | 一种低电压跟随的电压基准电路 |
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