来源：Highwell industry Technology
SBI Mechatronik GmbH总部位于奥地利维也纳郊外的霍拉布伦，20多年来一直致力于为塑料挤出行业的应用开发、制造和销售高性能的测量和控制系统。多种测量技术（涵盖电容测厚、低功率X射线测厚、激光投影测厚、三角激光测厚）和广泛的软件包可用于实时监测、测量和控制厚度均匀性和匹配模头配置。确保了最佳的生产条件和高成本效益。华威（杭州）工业科技有限公司是奥地利SBI在中国区的独家代理服务商，提供全周期的销售/安装服务/使用维护服务www.highwelltec.com.
本期我们将重点介绍奥地利SBI 电容测厚的差异性能！
在线厚度测量
在线测厚仪主要通过连续显示所生产薄膜或片材的横向厚度分布，在生产过程中提供质量控制可见性。这为操作人员提供了即时建议，以实现尽可能严格的产品公差，与产品质量和最小的原材料使用量。由于操作人员还有其他任务需要不断监测厚度分布，因此通常只有在测量仪发出警报时才会进行干预。或者，通过选择自动分布控制（APC），结合自动模头，通过测厚系统自动调节厚度分布偏差，确保其保持在预设的控制范围内，从而确保薄膜/片材的均匀厚度分布。
此外，厚度优化的薄膜提高了后续加工的效率。例如，在热成型系统中，设置过程及其生产速度在很大程度上取决于薄膜的厚度分布。这同样适用于印刷、转换和其他加工方法和改进。
可视化
图1
SBI - KAPA 测厚仪- 片材行业的测厚最佳选择
图2：SBI KAPA 非接触式测厚仪
SBI - KAPA IR 测厚仪- 总厚度与高阻隔层的最佳测厚选择
图3：SBI KAPA IR
针对于食品包装高阻隔片材应用的测厚，厚度的测量以及阻隔层厚度的测量尤为关键。SBI提供了KAPA IR 测厚方案，用于检测片材的总厚度与阻隔层的单层厚度（EVOH/PA等）。工作的原理：片材总厚度同样基于KAPA 电容式测厚；阻隔层厚度测量基于IR（红外）技术，完美实现厚度的精确测量。详细请更多联系我们。
结论
在挤出系统中集成在线测厚仪是实现质量控制、原材料节约和生产优化的关键一步。对厚度分布的精确监测不仅可以遵守最高质量标准（避免超差以及确保产品品质），还可以通过高效的生产过程（减轻操作人员的负担）和最大限度地减少原材料消耗来提供经济效益（节省成本）。此外，将薄膜和片材（热成型、印刷等）加工成最终产品的品质与效率显著提高。
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