应用报告 | S8 TIGER 2代 X射线荧光光谱仪分析磷矿石和磷酸成分

创业   2024-12-13 17:59   北京  



1
简介
X射线荧光光谱法(XRF)是一种广泛应用于磷矿石分析的重要技术。该方法可以同时测定磷矿石中的多种元素,包括主要成分和微量元素,相比传统化学分析方法具有快速、准确和高效的特点。磷矿石主要用于生产磷肥,而磷肥是农业生产中不可或缺的肥料之一,磷矿选矿是磷矿资源开发的重要环节,其目的提高磷矿石的回收率和品位,在选矿过程控制和成品控制方面,应用S8 Tiger2代可快速准确的给出定量结果,大大提高了工作效率。

我国磷矿分布情况(图片来自网络)


磷矿开采量及品位分布情况(图片来自网络)



2
光谱仪配置

  • 独有的4 kW高压发生器,最大电流170 mA,最大电压60kV
  • Rh靶端窗X射线光管,28μm、50μm或75μm Be窗(可选最大功率3.3kW的Cr靶光管)
  • 自动的10位初级光路滤光片转换器
  • 样品室和光谱室独立抽真空
    (采用真空封档隔离,样品室可以单独充氦气,以分析液体样品)
  • HighSense探测器,MCA技术
  • 自动面罩转换器,最多3个位置 (面罩尺寸:5到34mm)
  • 准直器:0.23°、0.46° (自动的4位准直器转换器)
  • 分光晶体:LiF200、PET、XS-55 (8位晶体转换器)
  • 编码控制的测角仪,θ和2θ单独驱动
  • 不需要压缩空气
  • 选项:
  • SampleCareT™污染防护屏

  • XRF2-高分辨和高灵敏的元素分布分析


3
应用
  • 磷矿石分析

  • 原矿

  • 精矿

  •  尾矿

  • 磷矿石和磷精矿分析标准: 

GB/T35996-2018磷矿石和磷精矿中8种元素的快速测定

标准分析元素及扩展分析元素如下:


校准曲线


校正方法

采用Spectraplus软件所独有的变动理论α系数进行基体校正。

Ci=a×Ii×(1+Σαij×Cj)+b

式中:

  • Ci:测量元素的浓度
  • Cj:影响元素的浓度
  • a:校准曲线的斜率
  • b:校准曲线的截距
  • Ii:测量元素的XRF强度
  • αij:影响元素对测量元素的α影响系数


磷酸分析

  • 浓酸和稀酸

磷酸分析元素


校准曲线


磷矿精密度测试




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