科学家打造新型半导体薄膜晶体管,能在垂直方向实现接近无限制的堆叠

学术   2024-08-16 13:49   中国  

近日,沙特阿卜杜拉国王科技大学李晓航教授和团队,开发出一款低温金属氧化物 3D 薄膜晶体管堆叠技术,能够在垂直方向上进行几乎无限制的堆叠。


图 | 李晓航(来源:李晓航


由于本次技术和业界技术能够互相兼容,因此在水平方向上也能兼容 12 英寸甚至更大的工艺。


在这一技术的帮助之下,他们打造出一个 10 层的金属氧化物半导体薄膜晶体管,让晶体管的密度和效率实现了最大化,并能降低互联散热的问题。


通过此,他们开发出一种低温金属氧化物 3D 薄膜晶体管堆叠技术,为电子技术的发展奠定了一定基础。


(来源:Nature Electronics

预计这一成果将能用于以下领域:


其一,能用于移动设备。


随着移动设备愈发变得复杂,其对于高性能和高能效组件的需求也在日益增加。


而本次技术能够推动智能手机、平板电脑和可穿戴设备的发展,提供更强的处理能力、更长的电池寿命和更紧凑的设计。


并能支持在移动平台上实现增强现实、虚拟现实和人工智能等应用。


其二,能用于物联网。


物联网生态系统依赖于大量连接设备,而这些连接设备需要具备紧凑、节能、能实时数据处理等特点。


而本次技术能让物联网设备以较低的功耗、更高的可靠性进行运行,从而能够促进物联网解决方案实现更有效、更广泛的部署,进而用于智能家居、工业自动化、医疗保健和环境监测等领域。


其三,能用于人工智能和机器学习。


对于人工智能应用和机器学习应用来说,它们对于计算能力和数据处理能力有着较高要求。


而本次技术可以提供更快的处理速度、以及更低的能耗,从而有助于训练和部署复杂的模型,进而能让自动驾驶、自然语言处理、预测分析应用变得更智能和更快速。


其四,能用于汽车电子产品。


对于当今的新能源汽车来说,它们集成了自动驾驶系统和信息娱乐系统,而本次技术可以为这些系统提供必要的计算能力。


其五,能用于医疗设备。


在医疗领域,要想打造便携式诊断工具、可穿戴健康监测器、以及可植入设备,就必须使用高效、紧凑的设备。


而本次技术能够帮助提高这些医疗设备的性能,并能缩小其体积,从而拓展其有效性和应用范围。


那么,该团队基于怎样的原因开展了这一研究?


据介绍,过去几十年尽管晶体管在水平方向上不断缩小,但也慢慢达到其物理极限和性能极限,这极大减缓了摩尔定律的延续,同时导致了制造成本的急剧提高。


如果不能在水平方向上快速增加晶体管的密度,那么垂直方向的堆叠方法,就会成为最有希望增加晶体管密度的方法。


一些半导体公司比如台积电英特尔、以及相关研究机构比如比利时微电子研究中心都在从事该类研究。


而该课题组则希望开发一种能和业界技术兼容的新型堆叠技术,以便大幅地增加晶体管密度,从而让摩尔定律得到高速发展。


但是,要想实现上述目标,依旧面临一些待解决的问题:


其一,处理能力有限。即平面晶体管限制了每个单位面积的晶体管数量,进而限制了设备的性能。


其二,高能较耗。即平面晶体管由于互联距离较长,消耗了大量能源。


其三,存在散热问题。即平面晶体管的互联会产生大量的热量,因此需要通过有效的热管理来保持性能。


要想解决上述问题:


首先,得增加晶体管密度。即利用垂直堆叠的方式,在给定区域之内集成更多的晶体管;


其次,得提高能效。即开发一种低功耗、高性能的晶体管;


再次,得改善热管理。即通过材料选择和结构设计,产生最小的热量,从而改善散热问题。


基于此,在本次研究的材料选择上,该团队挑选了那些拥有优异电学特性、以及能够兼容低温工艺的材料,并针对材料的界面粗糙度和缺陷密度加以控制。


具体来说,课题组使用氧化铟(In2O3)作为半导体材料,原因在于其拥有优异的电学特性和室温工艺性。


为了进一步优化设计方案,该团队选择聚对二甲苯-C 来作为低介电常数和室温沉积能力的介电材料,以便能够成功地开发出低温晶体管堆叠技术。


为了造出这种 10 层晶体管,课题组开发出一种兼容 CMOS 工艺的、无键合的 3D 垂直集成工艺,并优化了材料沉积和器件结构,亦通过相关实验验证了晶体管的性能。


最终,相关论文以《三维集成金属氧化物晶体管》(Three-dimensional integrated metal-oxide transistors)为题发在 Nature Electronics[1]。


图 | 相关论文(来源:Nature Electronics


萨拉瓦南·尤瓦拉贾(Saravanan Yuvaraja)是第一作者,李晓航担任通讯作者。


参考资料:

1.Yuvaraja, S., Faber, H., Kumar, M.et al. Three-dimensional integrated metal-oxide transistors. Nat Electron (2024). https://doi.org/10.1038/s41928-024-01205-0

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