50G突发误码分析仪
rBT3250是专门针对下一代25G/50G无源光网络(PON)应用的光线路终端(OLT)测试新型突发误码分析仪，用于评估突发模式下的25G及50G OLT接收机性能。
rBT3250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道，支持连续模式或突发模式误码分析，具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力，码型时序灵活可调。并针对器件测试需求，给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。产品内置时钟恢复，可以自动测距，轻松应对长纤测试。
50GPON模块测试
（a）
（b）
如图a所示，搭建50G PON 突发测试环境，主要由两个ONU模块和一个OLT模块组成。突发误码测试仪两个突发通道PPG时分交替发送具备突发帧结构的数据（preamble & Data）及激光器使能信号（enable），使两个ONU模块交替发送突发数据，分别经过衰减器，模拟不同长度光纤上的功率衰减，经过分光路器合成一路光，接入OLT模块。突发误码测试仪ED向OLT发送reset信号并接收突发数据，进行两路突发误码比较。
如图b所示，在双突发测试过程中，突发误码测试仪通过配置两个突发通道的突发帧长度（preamble & Data），以及衰减器的衰减量，可以充分检测OLT模块在接收不同光功率，不同突发数据长度时的性能。
产品优势
01，支持突发和连续模式信号输出及误码测试：
支持2路突发时序可配置的码型发生器通道和2路突发误码测试通道
02，突发模式支持速率：
24.8832Gbps、25.78125Gbps、49.7664Gbps、51.5625Gbps
03，支持2路同步的ONU激光器使能控制通道误码测试通道：
控制电平是LVTTL 3.3V不需外接电平转换。
04，支持2路双复位控制通道：
复位位置可调，复位宽度可调
主要应用
01，50G PON OLT模块研发及生产测试
02，突发线性TIA芯片测试：
需要验证突发信号情况下TIA(跨阻放大器)的器件的工作状态
03，对码型时序有特殊要求的一些场合
04，多通道信号输出,多路信号码型同步、时延同步
05，SDI码型或者成帧信号产生及误码探测
技术指标
码型发生指标 | 输出 | 差分, 交流耦合，100Ω±10% |
输出幅度 | 差分，100-600mVp-p | |
输出通道 | 突发通道（50Gbps NRZ） | |
连续通道（50Gbps NRZ/PAM4) | ||
支持码型 | 支持：PRBS7，15，23，31，SSPR，自定义码型及CID码型 | |
上升时间 （20%~80%） | <12ps | |
抖动（RMS） | <0.9ps | |
码型序列 | 支持前导码、保护时间及负荷时序信号的产生及编辑 | |
CID 码型 | 长度64-128 bits 可调 | |
时钟输出 | 1/2、1/4、1/8、1/16分频时钟输出 | |
连接器类型 | 2.4mm female,50Ω | |
RSSI 触发输出 | 支持RSSI触发信号脉冲宽度、重复周期、位置可调 | |
误码探测器指标 | 输入类型 | 差分, 交流耦合，100Ω±10% |
幅度 | 100~800mVpp | |
灵敏度 | ＞100mV | |
时钟模式 | 内置时钟恢复 | |
连接器 | 2.4mm female,50Ω |
联讯仪器是国内高端测试仪器和设备供应商。主要专注于高速通信、光芯片、电芯片和第三代半导体功率芯片等测试仪表和设备的研发制造。公司可以提供包括宽带采样示波器、高速误码仪、网络流量测试仪、高精度快速波长计、精密数字源表、低泄漏矩阵开关等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE、半导体激光器CoC老化、裸Die芯片测试、硅光晶圆测试、SiC晶圆老化、SiC裸Die 功率芯片KGD测试分选、WAT晶圆允收测试系统、WLR/PLR可靠性测试系统等高端测试设备。
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