01，高性能确保测试一致性
DCA6201具有低噪声、高灵敏度的特点。其经过校准的参考接收机（符合行业容差标准），能够支持极高的动态测量范围。DCA6201 可对 800 nm ~ 1650 nm（DCA6201- B30）波长的多模和单模信号进行测试，与行业标准采样示波器测试结果一致，具备消光比修正因子，暗电流自校准等算法，从而使其测试结果和行业标准具有很高的一致性。
DCA6201测试光眼图（左NRZ， 右PAM4）
02，高效便捷、可远程控制
DCA6201 采样示波器支持同时测量所有通道以及并行测量。可以支持多通道选件，一次性可以同时测量 4 个通道，也可以单独测量每个通道。与应用相匹配的评估系统配置简单，因为多通道模块和多个单通道模块都可以一次性测量。
测试配置: PAM4、 码长65535、1个完整Pattern，电脑配置i5或以上
联讯可以使用一个软件同时控制多台DCA，例如用2台四通道DCA组成8通道，方便客户测试800G模块。
2，自动测量：远程命令控制方式方便快捷，快速获得需要的参数
DCA6201可以快速便捷地获得测量参数值。包括模板余量在内的各种NRZ指标都支持简单易用的自动测试。
NRZ 模板自动冗余测量
无需复杂设置，易于捕获测量结果。高灵敏度示波器支持高再现性测量，高速采样缩短了用于 TDECQ 分析的数据收集所需时间。通过缩短测量时间，有助于提高包括 PAM4 信号评估在内的生产效率。
PAM4 TDECQ 自动测量
03，高精度，指标齐全
04，多种测量功能
支持 NRZ 和 PAM4 分析 (右滑查看更多)
| NRZ |
Bit Rate Average Power (dBm、W) Extinction Ratio (dB) Jitter P-P、RMS (s) Rising/Falling Time (s) Crossing (%) One Level、Zero Level (W、V) SNR OMA (dBm、W) VECP (dB) Duty Cycle Distortion (%、s) Eye Amplitude/Eye Height (W、V) Eye Width (s) TDEC、Ceq (dB) Mask Margin[1](%) |
| PAM4 |
Bit Rate Average Power (dBm、W) TDECQ、Ceq、Partial TDECQ (dB) Noise Margin、Partial Noise Margin (W、V) Outer Extinction Ratio (dB) Outer OMA (dBm、W) Linearity[2] Level 0/1/2/3 (W) Overshoot/Undershoot (%) Transmitter Power Excursion (dBm、W) Transition Time (Rising/Falling) (s) Eye Level Upper/Middle/Lower (W、V) |
[1] Mask Margin 测试支持添加、删除、自定义模板，支持 Hit Ratio/ Count 设置。
[2] 支持 3 种协议 IEEE 802.3 Annex 120D、IEEE 802.3 Clause 94，CEI 4.0。
05，全新软件，灵活配置
DCA6201 的界面 GUI 非常直观和简洁，可轻松配置系统，确定其参考基准并进行测量。可提供内置的分析功能，用来分析眼图和显示所有常用的光信号测试参数。
NRZ光眼图
PAM4光眼图
用户可在 PC 上运行 DCA6201 软件，并通过LAN/USB接口轻松控制 DCA6201。支持对数据中心、核心网/城域网、4G/5G移动回传和5G移动前传使用的25G/50G/100G/200G/400G/800G 光传输模块、光缆以及相关部件的物理层性能进行测试。
联讯仪器是国内高端测试仪器和设备供应商。主要专注于高速通信、光芯片、电芯片和第三代半导体功率芯片等测试仪表和设备的研发制造。公司可以提供包括宽带采样示波器、高速误码仪、网络流量测试仪、高精度快速波长计、精密数字源表、低泄漏矩阵开关等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE、半导体激光器CoC老化、裸Die芯片测试、硅光晶圆测试、SiC晶圆老化、SiC裸Die 功率芯片KGD测试分选、WAT晶圆允收测试系统、WLR/PLR可靠性测试系统等高端测试设备。
更多产品详情，请访问 www.semight.com
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