通过气体吸附对多孔材料进行表征，可确定其潜在的应用场景(比如气体分离、气体存储等)。然而，在多数学术论文中，吸附数据通常仅以图形形式报告，原始数据则很少以电子格式随出版物一起提供。这使得其他研究人员在参考比较时难以从相关图片中提取到完整信息，尤其是在吸附等温线的低压区域。
借鉴晶体学领域已非常成熟并广泛应用的晶体学信息文件(Crystallographic Information File，CIF)，以德国德累斯顿工业大学Stefan Kaskel教授为代表的专家学者建议在多孔材料吸附领域推广吸附信息文件(Adsorption Information File, AIF), 以推动吸附数据的标准化和电子化(参见下图)。
