一、什么是CP测试？
CP测试（Chip Probing）是芯片制造流程中的重要环节，位于晶圆制造与封装之间。其主要目的是在整片晶圆（Wafer）上对每一个裸芯片（Die）进行电压、电流、时序和功能验证，以确保它们符合设计规格。
二、为什么需要进行CP测试？
在芯片封装阶段，由于封装的原因，一些功能可能无法再测试。因此，在晶圆阶段进行CP测试尤为重要。此外，由于制造过程中可能产生的工艺偏差和设备故障，导致晶圆上存在一定比例的缺陷芯片。通过CP测试，可以筛除这些不合格的芯片，优化生产流程，提高产品的良品率，降低后续封装的成本。
三、CP测试的内容
SCAN测试：用于检测芯片逻辑功能的正确性，通过ATPG生成测试向量，并利用Scan模式进行数据捕捉与比较。
边界扫描（Boundary SCAN）：用于检测芯片管脚功能，通过在IO管脚间插入边界寄存器，使用JTAG接口进行控制和监测。
四、CP测试的方法
DC/AC测试：包括对芯片的直流（DC）和交流（AC）参数的测试，确保信号质量和时序参数符合设计要求。
射频（RF）测试：特别适用于无线通信芯片，检测RF模块的逻辑功能。
存储器测试：测试集成在芯片上的各种存储器（如ROM、RAM、Flash），通过内置自测试（BIST）逻辑来确保其功能。
其他功能测试：检测芯片其他重要功能和性能，随着芯片技术的发展，这部分测试的复杂度逐渐增加。
五、CP测试流程
自测试芯片的测试：对具备自测试程序的芯片进行规划，准备测试模式并进行功能测试。
选择测试厂和测试设备：根据芯片类型和测试要求，选择合适的测试厂和设备。
制作探针卡和测试程序：根据芯片设计，制作适配的探针卡和测试程序，进行多芯片并行测试以提高效率。
调试与结果分析：根据测试计划和实际测试结果进行调试，优化测试流程，确保良品率。
量产阶段的优化与监控：在大量数据的基础上，进一步优化测试流程，确保量产阶段的质量稳定性。
