我们工程师在工作中，基本上每个人都遇到过测试设备故障，这打乱了我们的工作计划，影响了我们的进度，在我们看来，是一件非常烦恼的事。怎么避免或者减少这个问题呢？这需要我们去了解测试设备最怕什么。做好预防事项，最大可能减少导致设备故障的原因
第一个就是静电
每个实验室，无论静电防护级别高低，实验室门口都贴着醒目的ESD防护标识，因为静电对于设备的影响太大了。大多数ESD损害发生在人的感觉范围以下。人对静电放电的感知电压是3KV，而很多电子元件在几百伏甚至几十伏就会被损坏。
静电对于设备的影响：
静电吸附灰尘，降低元件绝缘电阻，缩短寿命；潮湿环境下，产生漏电流，极大的缩短寿命。
静电放电破坏，使元件失效（完全击穿）。
静电使元件潜在损伤（半击穿），性能下降，一段时间后，彻底失效。
ESD损坏IC是由于产生的高压和高峰值电流造成的。精密电路往往具有极低的偏置电流，比普通数字电路更容易遭到损坏，因为用于ESD保护的传统输入保护结构会增加输入泄漏，因此不能使用。对于工程师来说，ESD损坏最常见的表现是IC发生故障。然而，暴露在ESD之下也可能导致泄漏增加，或者使其他参数下降，一段时间后，才发生失效故障，导致设备彻底无法使用。
第二个是温度
实验室温度过高，会导致设备内的芯片一直工作在超高温度下。
一是过热激发高能载流子会增大晶体管被击穿短路的概率；
二是晶体管性能随温度会发生变化，高温会使部分电路因为性能变化无法正常工作；
三是高温提高电迁移导致导线工作寿命下降。
这就需要尽量的把温度控制在20度以下，并且设备的进风口应该远离其他设备的出风口，从而保证设备的性能以及延长设备使用寿命,同时我们也要保证进出风口的空间，以保证风流可以按照我们的设计流动，更好的起到降温作用。
第三个是供电
精密的测试设备对供电电源要求比较高，测试设备需要一个干净稳定的供电电源，保证其正常工作。首先供电电源的过冲和浪涌会影响到精密测试设备的AC/DC和DC/DC电路，过多的过冲和浪涌会损坏AC/DC和DC/DC电路；其次异常的掉电会损坏设备的存储单元以及存储单元内的firm ware。实验室有条件的还是要使用UPS，减少电源对设备的影响.
第四个是灰尘
空气中的灰尘会通过风扇进入设备，并附着在电子元器件上面；随着时间的推移，灰尘越积越多，会影响到芯片的散热，降低绝缘电阻。灰尘会极大的影响BGA封装芯片的散热，导致内部工作温度过高，影响使用寿命；对于DIP/SDIP/QFP/BQFP封装类型的芯片，灰尘会降低绝缘电阻，在夏季潮湿环境中，产生的漏电流会损坏芯片，导致芯片失效。
了解了设备害怕什么，我们就可以尽量避开这几点，很大程度降低故障率。
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