开尔文探针力显微镜（KPFM）是原子力显微镜的一种功能化应用模式，属于静电力显微镜（EFM）技术的分支，广泛应用于研究各种导电或半导电样品的电表面性质。KPFM能够提供局部表面电势分布的定量结果，进校准还可以获取样品的功函数信息。
研究团队利用KPFM技术进行了多种二维材料的表面电学性质的研究，例如，系统地研究SiO2表面和MoS2/SiO2界面通过接触通电和摩擦通电的电荷转移和扩散行为；同时，探索了过渡金属硫化物MoS2 的应变诱导结构和性质；此外，还探究了转角双层石墨烯（tBLG）转角相关功函数等等。
KPFM技术在这些研究中的应用，展示了其对二维材料表面电学性质的精确测量和辅助作用，为进一步理解和设计基于二维材料的新型电子器件提供了重要的实验依据。这些成果不仅加深了我们对材料表面电势分布的理解，也为开发更高效的电子元件、能源器件等应用领域的研究提供了新视角。
2024年12月19日
北京时间
10:00-11:00
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报告人介绍：
米烁，中国人民大学物理学院低维量子材料与扫描探针显微学课题组的在读博士，其导师是程志海教授。目前的主要研究方向为二维材料的电学和磁学性质的原子力显微镜研究。在校期间，参与中国人民大学“求是学术-栋梁”项目，以第一作者在Nano Letters，Nanoscale等期刊发表论文3篇。
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