1.平扫CT为颅脑疾病的常规检查方法，其中部分疾病如急性颅脑外伤、急性脑出血和先天性脑发育畸形等，平扫CT检查常可明确诊断。
2.增强CT 平扫CT发现颅内病变时，多需行增强CT检查，并依临床拟诊疾病和平扫检查表现，采用不同的增强检查方法。
（1)普通增强检查：是大多数颅脑疾病如肿瘤性、血管性、感染性病变等常用的增强方法，依据病变的强化程度和方式，多可明确诊断。
（2）CTA检查：主要用于脑血管疾病检查，可以发现和诊断脑动脉主干及主要分支狭窄和闭塞、颅内动脉瘤和动静脉畸形等。由于CTA检查的安全性高、成像质量佳，已部分取代了有创性DSA检查。
（3)CT灌注检查：可以反映脑实质微循环和血流灌注情况，主要用于检查急性脑缺血，此外对于脑肿瘤病理级别的评估、肿瘤治疗后改变与复发的鉴别等也有一定价值。
3.图像后处理技术矢状乃至任意方位的多层面重组以更清楚地显示病变的空间位置，应用最大强度投影（MIP)可更好地发现颅内动脉瘤及其与载瘤动脉的关系等。
（1)颅骨：颅骨为高密度，颅底层面可见其
中低密度的颈静脉孔、卵圆孔、破裂孔等。鼻窦及乳突内气体呈极低密度。
（2)脑实质：分大脑额、颞、顶、枕叶及小脑、脑干。皮质密度略高于髓质，分界清楚。大脑深部的灰质核团密度与皮质相近，在髓质的对比下显示清楚：
①尾状核头部位于侧脑室前角外侧，体部沿丘脑和侧脑室体部之间向后下走行；
②丘脑位于第三脑室的两侧；
③豆状核位于尾状核与丘脑的外侧，呈楔形，自内而外分为苍白球和壳核；苍白球可钙化，呈高密度；
④豆状核外侧近岛叶皮层下的带状灰质为屏状核。尾状核和丘脑与豆状核之间的带状髓质结构为内囊，自前向后分为前肢、膝部和后肢；豆状核与屏状核之间的带状髓质结构为外囊。内、外囊均呈略低密度。
（3)脑室系统：包括双侧侧脑室、第三脑室和第四脑室，内含脑脊液，为均匀水样低密度。双侧侧脑室对称，分为体部、三角区和前角、后角、下角。
（4)蛛网膜下腔：包括脑沟、脑裂和脑池，充以脑脊液，呈均匀水样低密度。
脑池主要有鞍上池、环池、桥小脑角池、枕大池、外侧裂池和大脑纵裂池等；其中鞍上池在横断面上表现为蝶鞍上方的星状低密度区，多呈五角或六角形。
（1)普通增强检查：正常脑实质仅轻度强化，血管结构、垂体、松果体及硬脑膜呈显著强化。
（2)CTA检查：脑动脉主干及分支明显强化，MIP上所见类似正常脑血管造影的动脉期表现。
（3)CT灌注检查：可获得脑实质各种灌注参数图，其中皮质和灰质核团的血流量和血容量均高于髓质。
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