1 光学系统的焦距
焦距是光学系统的一个非常重要的指标,对于焦距的概念,大家或多或少都有了解,我们这里再回顾一下。光学系统的焦距,定义为平行光入射时从光学系统的光学中心到光束聚焦点的距离,是衡量光学系统中光的聚集或发散的度量方式。我们用下面的图来说明这一概念。
上图中,从左端入射的平行光束,经过光学系统后,会聚到像方焦点F’处,会聚光线的反向延长线与对应的入射平行光线的延长线交于一点,过该点且与光轴垂直的面称为后主面,后主面与光轴相交于P2点,该点称为主点(或称光学中心点),主点到像方焦点的距离,就是我们通常所说的焦距,全称是像方有效焦距。从图中还可以看到,从光学系统的最后一个表面到像方焦点F’的距离,称为后焦距(BFL)。相应的,如果平行光束从右端入射,也有对应的物方有效焦距和前焦距(FFL)的概念。2 焦距的测试方法
实际中,有很多方法可以用来测试光学系统的焦距,基于原理的不同,可以将焦距测试方法分为三类,第一类是基于像面位置的测试方法,第二类是利用放大倍率与焦距的关系来获得焦距数值,第三类是利用会聚光束的波前曲率来获得焦距的数值。
在本节中,我们介绍用来测试光学系统焦距的常用方法:
2.1 平行光管法
在上图中,将测试图案放置到平行光管的焦点为止,测试图案的高度y和平行光管的焦距f’c是已知的,由平行光管发出的平行光束经被测光学系统会聚后,在像面成像,通过测试像面上图案的高度y’,就可以利用下面的公式来计算得到被测光学系统的焦距:
在图中,被测光学系统的前后两个主平面分别为P和P’,两个主面的间隔为dP,该方法中,认为dP的数值是已知的,或者其数值很小,可以忽略。将一个物体和一个接收屏放置在左右两端,两者的距离为L,其中L需要大于4倍的被测系统的焦距。存在两个位置,当被测系统分别在这两个位置时,左侧物体可以在接收屏上清晰成像,此两个位置分别为位置1和位置2,两个位置的间隔D可以测试得到。根据共轭关系,可得:
设定在两个位置处的物距分别为s1和s2,则有s2- s1 = D,做公式推导可得出光学系统的焦距为:
焦度计非常适合用于测试长焦距光学系统,它的原理示意图如下所示:首先,光路中不放入被测透镜,左端的观测目标经过准直物镜后,变成平行光,平行光束由焦距是f2的会聚镜会聚,清晰成像在参考像面处。光路校准好后,将被测透镜放入光路中,被测透镜与会聚镜间的距离为f2,这样一来,由于被测透镜的作用,光束会发生重新聚焦,像面位置发生偏移,会在图中新像面的位置实现清晰成像,新像面与会聚镜的间隔为x,根据物像关系,可以推理出被测透镜的焦距为:
实际中,焦度计在眼镜片的顶焦度测试中得到了广泛了应用,具有操作简便,精度可靠的优点。阿贝焦度计是另外一种可以测试光学系统焦距的方法。其原理图如下所示:在被测透镜的物面端,放置两个不同高度的标尺,分别为标尺1和标尺2,对应的标尺高度为y1和y2,两个标尺的间隔为e,标尺顶端连线与光轴夹角为u。标尺被焦距为f的被测透镜成像,在像面端,安装一个显微镜,通过前后移动显微镜的位置,分别找到两个标尺的顶端像,此时显微镜与光轴的距离记为y,根据物像关系,有:莫尔偏折法会在平行光束中用到两组郎奇刻线(英文为Ronchi ruling,是在玻璃基底上镀上栅格形的金属铬膜而成的光栅,常用于光学系统性能的测试),利用两个光栅形成的莫尔条纹的改变量来测试光学系统的焦距,原理图如下所示:在上图中,观测目标的经过准直镜后,成为平行光束。光路中先不加入被测透镜,平行光束经过有错位角度为ϴ,栅线间隔为d的两个光栅后,会在像面上形成一组莫尔条纹。然后,把被测透镜放入光路中,原来的准直光受到透镜的折射后,会产生一定的光焦度,光束的曲率半径可以由以下公式得出:通常被测透镜的放置位置与第一个光栅的距离很近,这样上式的R值就对应透镜的焦距值了。该方法的优点是,它既可以测试正焦距系统的焦距,也可以测试负焦距系统的焦距。 光纤自准直法测试透镜焦距的原理如下图所示,采用一个光纤发出发散光束,光束经过被测透镜后,照射到一个平面反射镜上。图中的三个光路,分别是光纤在焦点内、焦点上和焦点外的情况,前后移动被测透镜的位置,就可以找到在光纤头在焦点上的位置,此时光束形成自准直,发出的光束被平面反射镜反射后,绝大多数能量会回到光纤头位置。该方法的原理简单,易于实现。3 结语
焦距是光学系统的一个重要的指标,在本文中,我们对光学系统焦距的概念和测试方法做了详细的介绍。结合示意图,我们对焦距的定义做了阐述,包括系统的像方、物方焦距,前焦距和后焦距的概念等。实际中,有很多方法可以用来测试光学系统的焦距,本文分别介绍了平行光管法、高斯法、焦度计法、阿贝焦度计、莫尔偏折法和光纤自准直法的测试原理。相信通过本篇的阅读,大家对于光学系统的焦距指标有了更多的了解,在后续的文章中,我们将对光学系统的最佳成像位置(像面)的确定方法做介绍,敬请大家期待!