今天带给大家的是如何分析统计SEM/TEM晶粒，所用的软件是Nano Measurer和Origin。Nano Measurer在操作方面，比Image J、DigitalMicrograph（DM）要简单很多。
它可以对电镜图片颗粒大小、长度、孔径等尺寸统计分析，自动绘制统计分布图，粒径的总结果和最终统计结果由*.txt文件输出。
Nano Measurer软件，界面简洁，易上手，有需求的朋友请下载使用！
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关于安装中msvbvm60.dll的错误：
少数同学反馈安装时，系统会弹出关于msvbvm60.dll文件错误对话框。请选择"忽略(Ignore)"，继续安装。然后将上图中的msvbvm60.dll文件复制到计算机的C:\windows\system32目录下.\
6. 点击Function 的对话框的下三角标，选中Gauss
10. 点击OK，得到平均值和标准差
11. 对图像进行处理，即可得到我们想要的图像
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